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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
表A.1−信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示すSVQL(続き)
累積 信頼水準60 %における累積不適合品及びSVQL
サンプル数 0.001 0.000 70.000 40.000 30.000 20.000 1 7E-05 4E-05 3E-05 2E-05 1E-05
% % % % % % % % % % %
n≧ 10 6.5 4 2.5 1.5 1 0.65 0.4 0.25 0.15 0.1
ppm ppm ppm ppm ppm ppm ppm ppm ppm ppm ppm
112 000
125 000
140 000 0
160 000 0
180 000 0
200 000 1 0
224 000 1 0
250 000 1 0
280 000 1 0
315 000 2 1 0
350 000 2 1 0
400 000 3 1 0
450 000 3 1 0
500 000 4 2 1 0
560 000 4 2 1 0
630 000 5 3 1 0
710 000 6 3 1 0
800 000 7 4 2 1 0
900 000 8 4 2 1 0
1 000 000 9 5 3 1 0
1 120 000 10 6 3 1 0
1 250 000 7 4 2 0
1 400 000 8 4 2 1 0
1 600 000 9 5 3 1 0
1 800 000 10 6 3 1 0
2 000 000 6 4 2 1 0
2 240 000 7 4 2 1 0
2 500 000 8 5 2 1 0
2 800 000 9 5 3 1 0
3 150 000 10 6 3 2 1 0
3 500 000 7 4 2 1 0
4 000 000 8 5 3 1 0
4 500 000 9 5 3 1 0
5 000 000 10 6 4 2 1 0
5 600 000 7 4 2 1 0
6 300 000 8 5 3 1 0
7 100 000 9 6 3 1 0
8 000 000 10 7 4 2 1 0
9 000 000 8 4 2 1 0
10 000 000 9 5 3 1 0
11 200 000 10 6 3 1 0
12 500 000 7 4 2 1 0
14 000 000 8 4 2 1 0
16 000 000 9 5 3 1 0
18 000 000 10 6 3 1 0
20 000 000 6 4 2 1
22 400 000 7 4 2 1
25 000 000 8 5 2 1
28 000 000 9 5 3 1
31 500 000 10 6 3 2
35 000 000 7 4 2
40 000 000 8 5 3
45 000 000 9 5 3
50 000 000 10 6 4
56 000 000 7 4
注記 この表は,ポアソン分布関数をベースにして信頼水準60 %の規定値から算出している(A.5参照)。
(詳細は,MIL-STD-690Cの表1,表8及び表9参照。)
――――― [JIS C 5005-2 pdf 11] ―――――
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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
A.5 表A.1の値の算出方法
表A.1の数値は,次に示すポアソン分布関数を用いて算出する。
c r
Lp e
r 0 r
ここに, L(p) : 累積確率分布(合格の確率)
λ : 不適合品の期待値np(>0)
n : サンプル数
p : 不適合品の発生する確率
r : 不適合品数(r=0, 1, 2, ..., c)
この式から算出できる,不適合品の累積数cが010に対応する信頼水準60 %におけるλ (np)値及び係
数CLとの関係を表A.2に示す。
表A.2−不適合品の累積数に対応する信頼水準60 %におけるλ (np)及び係数CL
不適合品数 信頼水準60 %における 係数
c λ (np) CL a)
0 0.916 0.916
1 2.02 2.02
2 3.11 1.55
3 4.18 1.39
4 5.24 1.31
5 6.29 1.26
6 7.35 1.22
7 8.39 1.20
8 9.43 1.18
9 10.48 1.16
10 11.52 1.15
注a) 係数CLの算出は,cがゼロの場合を除く[表3の注a)参照。]。
各累積不適合品数におけるSVQLは,次の式から算出する。
SVQL
n
ここに, λ : 不適合品の期待値 np(>0)
n : 累積サンプル数
したがって,これらの算出結果は,表A.1におけるSVQL値に近似している。
――――― [JIS C 5005-2 pdf 12] ―――――
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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
附属書B
(参考)
この規格とJIS Z 9015-1との関係
序文
この附属書は,この規格とJIS Z 9015-1との関係について記述する。
B.1 一般事項
JIS Z 9015-1の付表2-Aに対応する抜取検査方式を,表B.1に示す。
表B.1−JIS Z 9015-1の付表2-Aに対応する抜取検査方式
サンプル サンプル 対応AQL
文字 サイズ 0.4
0.01 0.015 0.025 0.04 0.065 0.10 0.15 0.25 0.65 1 1.5 2.5 4 6.5 10
A 2 − − − − − − − − − − − − − − 0/1 −
B 3 − − − − − − − − − − − − − 0/1 − −
C 5 − − − − − − − − − − − − 0/1 0/1 − −
D 8 − − − − − − − − − − − 0/1 0/1 − − −
E 13 − − − − − − − − − − 0/1 0/1 − − − −
F 20 − − − − − − − − − 0/1 0/1 − − − − −
G 32 − − − − − − − − 0/1 0/1 − − − − − −
H 50 − − − − − − − 0/1 0/1 − − − − − − −
J 80 − − − − − − 0/1 0/1 − − − − − − − −
K 125 − − − − − 0/1 0/1 − − − − − − − − −
L 200 − − − − 0/1 0/1 − − − − − − − − − −
M 315 − − − 0/1 0/1 − − − − − − − − − − −
N 500 − − 0/1 0/1 − − − − − − − − − − − −
P 800 − 0/1 0/1 − − − − − − − − − − − − −
Q 1250 0/1 0/1 − − − − − − − − − − − − − −
R 2000 0/1 0/1 − − − − − − − − − − − − − −
注記1 表B.1の値は,合格判定数(Ac)及び不合格判定数(Re)を示す。
注記2 JIS Z 9015-1の付表2-AのAc/Reが,0/1の欄だけを適用している。
JIS Z 9015-1の抜取検査方式を使用している者がこの規格を適用する場合は,同一の検査水準及びサン
プルサイズを用いることができる。この場合,JIS Z 9015-1の付表2-AのAc/Reが0/1の欄だけを適用し
ているため,新たな消費者危険の値は,従来の値よりも小さくなる。一方,生産者危険の値は,従来の値
よりも大きくなる。新たな消費者危険及び生産者危険の値が不適切な場合には,この規格の抜取検査方式
の使用者は,検査水準を変更してもよい。
――――― [JIS C 5005-2 pdf 13] ―――――
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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
B.2 OC曲線の値
合格判定数ゼロの1回抜取検査方式におけるOC曲線の値を,表B.2に示す。
表B.2−OC曲線に対する値の一覧表
サンプル ロットの合格の確率(%)
サイズ 10 25 50 75 90 95 99
p(パーセント不適合品率)
2 68.4 50.0 29.3 13.4 5.13 2.53 0.501
3 53.6 37.0 20.6 9.14 3.45 1.70 0.334
5 36.9 24.2 12.9 5.59 2.09 1.02 0.201
8 25.0 15.9 8.30 3.53 1.31 0.639 0.126
13 16.2 10.1 5.19 2.19 0.807 0.394 0.0773
20 10.9 6.70 3.41 1.43 0.525 0.256 0.0502
32 6.94 4.24 2.14 0.895 0.329 0.160 0.0314
50 4.50 2.73 1.38 0.574 0.210 0.103 0.0201
80 2.84 1.72 0.863 0.359 0.132 0.0641 0.0126
125 1.83 1.10 0.553 0.230 0.0843 0.0410 0.0080
200 1.14 0.691 0.346 0.144 0.0527 0.0256 0.0050
315 0.728 0.439 0.220 0.0913 0.0334 0.0163 0.0032
500 0.459 0.277 0.139 0.0575 0.0211 0.0103 0.0020
800 0.287 0.173 0.0866 0.0360 0.0132 0.0064 0.0013
1250 0.184 0.111 0.0554 0.0230 0.0084 0.0041 0.0008
2000 0.115 0.0693 0.0347 0.0144 0.0053 0.0026 0.0005
注記 パーセント不適合品率の値は,二項分布に基づいている。
――――― [JIS C 5005-2 pdf 14] ―――――
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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
附属書C
(参考)
この規格の適用事例
(IEC/TC40文書における評価水準EZのロットごとの検査)
C.1 適用事例
この規格の適用事例の一つを,表C.1に示す。
表C.1−IEC/TC40文書における評価水準EZのロットごとの検査例
検査副群 細分箇条番号及び試験a) 検査水準 サンプル 合格判定数
サイズ
IL c) n c) c c)
群A 4.3.2 静電容量 100 % d) 0
(ロットごと)4.3.3 誘電正接(tan δ)
副群A0 4.3.1 耐電圧(試験A)
4.3.4 絶縁抵抗(試験A)
b)
副群A1 4.2.1 外観 S-4 0
b)
副群A2 4.2 寸法e) S-3 0
b)
群B 4.7 はんだ付け性 S-3 0
(ロットごと)
副群B1
b)
副群B2 4.14 表示の耐溶剤性 S-3 0
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,品種別通則による。
b) サンプルサイズ(n)は,JIS Z 9015-1に規定する,付表1の検査水準(IL)とロットサイズ
とで割り当てるサンプル文字に従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
c) この表の記号は,IEC 60410による。
d) この検査は,工程でロット内からすべての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査
である。抜取水準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す
出荷品質水準を監視するために,抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適
合品は,品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査
データによって算出する。
e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)
又はその他の仕組を取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
参考文献 IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 62421:2007,Electronics assembly technology−Electronic modules
JIS C 5005-2:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61193-2:2007(IDT)
JIS C 5005-2:2010の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5005-2:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ8101-2:2015
- 統計―用語及び記号―第2部:統計の応用