JIS C 5014:1994 多層プリント配線板 | ページ 4

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C 5014-1994
(2) 導体間げき部分の導体の残り 図16に示す導体間げきに残る導体の残り(例えば,突起,残留銅など)
の幅 (w) ,長さ (l) 及びその個数は,表33による。
図16 導体の残り
表33 導体の残り
項目 クラス
I II III
導体の残り 導体間げき 導体間げきの 導体間げきの 導体間げきの
の幅 w 1mm未満 30%以下 25%以下 20%以下
導体間げき 0.3mm以下 0.2mm以下
1mm以上
導体の残りの長さ l 導体間げき以下
個数 隣接する導体間に3個以下, 隣接する導体
かつ100×100mm中に3個ま 間に1個以
でとする。 下,かつ,100
×100mm中
に2個までと
する。
5.6 ランド 図17に示すようなランドの欠損に起因する欠損面積,残り幅 (m) , (n) 及び突起 (w) は,
表34による。
図17 ランド
表34 ランドの欠損面積,残り幅及び突起
項目 クラス
I II III
ランドの面積に対する欠損面積の割合 30%以下 20%以下 10%以下
m
ランドの欠損に起因する残り幅 スルーホールめっきに達する欠損がないこと。 めっきを含むランド残
り幅が0.05mm以上
n 5.5.8(1)表32の導体の欠損の幅wによる。
ランドの突起 w 5.5.8(2)表33の導体の残りの幅wによる。

――――― [JIS C 5014 pdf 16] ―――――

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5.7 めっきスルーホール
5.7.1 目視又は拡大鏡による観察 目視又は拡大鏡によって観察したとき,次の規定を満足しなければな
らない。
(1) めっきスルーホールは,部品の挿入に支障がなく,はんだ付け性を損なってはならない。めっきスル
ーホールのめっきの欠損の大きさは,穴の周囲の25%以下で,かつ,板厚方向の25%以下とし,その
欠損の総面積は,めっきスルーホールの総内壁面積の10%以下とする。
また,欠損をもつ穴数は,全穴数の5%以下とする。
(2) めっきスルーホールと外層ランドとの境界部,及びめっきスルーホールと内層ランドとの接続部には,
ピンホール,めっきボイドなどの接続性を損なう欠陥があってはならない。
5.7.2 マイクロセクションによる観察 JIS C 5012の6.2(マイクロセクション)によって観察を行った
とき,次の規定を満足しなければならない。
(1) レジンスミア[図18 (1) 参照]の垂直マイクロセクションでの許容値は,次の式の値を満足すること。
また,水平マイクロセクションの許容値は,穴円周の25%以下とする。
l1+l2>t
ここに, l1, l2 : 欠損部分を除いた各サイドの有効銅厚さ(
t : 欠損の対象となる部分の欠損がない場合の銅の総厚さ
(
(2) コーナクラック,バレルクラック,ホイルクラック[図18 (2) (4) 参照]の垂直断面での許容値は,
次の式の値を満足すること。
l1+l2>t
ここに, l1, l2 : 欠損部分を除いた各サイドの有効銅厚さ(
t : 欠損の対象となる部分の欠損がない場合の銅の総厚さ
(

――――― [JIS C 5014 pdf 17] ―――――

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図18 スルーホールの欠損

――――― [JIS C 5014 pdf 18] ―――――

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図18 (続き)
5.8 フットプリントのパッド 図19に示すパッドの欠陥の幅 (w) 及び長さ (l) は,仕上がり幅 (p) に
対して表35のとおりとし,一つのパッドにつき1個までとする。
図19 パッド
表35 パッドの欠陥
単位 mm
項目 パッドの幅 p
0.81以上 0.410.80 0.40 0.30 0.20
欠け及び突起(12) 幅w 5.5.8の規 0.06以下 0.045以下 0.040以下
長さ l 定を満足す 1以下
ピンホール(長径 l) ること。 0.06以下 0.045以下 0.040以下
注(12) 突起は,隣接端子との最小導体間げき(4.7.1参照)の値を満足すること。
5.9 プリントコンタクト
5.9.1 電気的に接続するプリントコンタクト 図20に示す電気的に接続するプリントコンタクトの1部
及び2部での欠陥(図21参照)は,表36による。
図20 プリントコンタクトの検査領域

――――― [JIS C 5014 pdf 19] ―――――

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図21 プリントコンタクトの欠陥
表36 プリントコンタクトの欠陥
単位 mm
項目 領域
1部 2部
あってはならない。
下地めっき(ニッケ
ル,銅)の露出
めっきの膨れ,
はく離
打こん(痕)
きず 幅0.1を超えるものがあってはならない。 幅0.5を超えるものがあってはならない。
こぶ状の突起
欠け及び突起(13) l≦0.1q w≦0.1r l≦0.2q w≦0.2r
l,w ただし,lは0.1,wは0.2を超えないこと。 ただし,lは2.0,wは0.3を超えないこと。
突起は隣接端子との最小導体間げき(4.7.1参照)の値を満足すること。
ピンホール(13) 上, ぎ 下
1端子当たり1個 上, ぎ
1端子当たり1個以
(長径 l) のもの 以下で,全端子数下のもの 下で,全端子数の
の1%以下 10%以下
あってはならない。
1端子当たり1個以
以下のもの 下で,全端子数の
2%以下
あってはならない。
変色 実用上有害なものがあってはならない。
注(13) 図20及び図21参照。
5.9.2 電気的に接続しないプリントコンタクト 電気的に接続しないプリントコンタクト上の欠陥は,図
20の全体を2部として,表36の規定を適用する。

――――― [JIS C 5014 pdf 20] ―――――

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JIS C 5014:1994の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60326-3:1991(NEQ)
  • IEC 60326-6:1980(NEQ)

JIS C 5014:1994の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5014:1994の関連規格と引用規格一覧