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C 5101-15 : 1998
1.2 目的
この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS
C 5101-1から適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,この規格を適用するコンデンサの一
般的要求性能を規定することである。この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要
求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。
1.3 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規
格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行
年を付記していない引用規格は,その最新版(追補・Amendmentを含む。)を適用する。
JIS C 0010 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
備考 IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures Part 1 : Generalからのすべての引用
事項は,この規格の該当事項と同等である。
なお,JIS C 0010 : 1993は,IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors,並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。
JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサー 第1部 : 品目別通則
備考 IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification,
並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992からのすべての
引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 8601 標準数
備考 ISO 3 : 1973, Preferred numbers−Series of preferred numbersからのすべての引用事項は,この
規格の該当事項と同等である。
IEC QC 001001 : 1986 Basic rules of the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
IEC QC 001002 : 1986 Rules of procedures of the IEC quality assessment system for electronic components
(IECQ) mendment 2 : 1994
1.4 個別規格に規定する事項
個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は,品
目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を規定してはならない。
より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9(品目別通則及び/又は品種別通則への
追加又はより厳しい要求事項)に記載し,更に,試験計画の中に例えば,アステリスク (*) を付けて明示
する。
備考 1.4.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
個別規格に次の事項を規定し,それぞれの規定値をこの規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1 外形図及び寸法 外形及び寸法は,他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示す
る。コンデンサの互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべ
ての寸法は原則としてミリメートルで規定する。ただし,原寸法がインチで示してある場合は,ミリメー
トルによる換算値を追記する。
寸法は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並びに端
子の長さ及び直径を規定する。“定格静電容量値と定格電圧の組合せ範囲”のように,幾つかの組合せを個
別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。
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形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合は,個別規格の中にそのことを明記する。
1.4.2 取付け 一般的に取り付ける方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験での取付方法は,個別規
格に規定する。コンデンサは,その規定された方法で取り付ける。
コンデンサの設計上,特別な取付具を要求してもよい。この場合は,振動及びバンプ又は衝撃の各試験
には,取付具を使用することを個別規格に規定する。
1.4.3 定格及び特性 定格及び特性は,次によるほか,この規格の関連項目による。
1.4.3.1 定格静電容量範囲 定格静電容量の範囲は,2.2.1による。
備考 IEC品質認証制度 (IECQ) の場合,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲とが異な
る場合は,次の記述を追加する。
“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2 特殊な特性 設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合,追加規定してもよい。
1.4.3.3 はんだ付け はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,
個別規格に規定する。
1.4.4 表示 コンデンサ及びその包装に対する表示内容を個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる
場合は,その内容を個別規格に明記する。
1.5 用語
JIS C 5101-1に規定する用語の定義に加えて,次の用語の定義を適用する。
1.5.1 規定の測定周波数に近似的
電解コンデンサの静電容量 (Capacitance of an electrolytic capacitor)
な正弦波交流を用いて測定した静電容量と抵抗との直列回路からなる等価回路をもった静電容量。
1.5.2 長寿命等級コンデンサ (Long-life grade capacitors) 一般等級コンデンサよりも長期間にわたっ
て特性が高安定であることが必要なコンデンサ。
優れた性能が長期間にわたって得られるように材料を選定し,製造する。
1.5.3 一般等級コンデンサ (General-purpose grade capacitors) 一般に広く使用されるコンデンサで長
寿命等級コンデンサのような高い性能水準を必要としないコンデンサ。
1.5.4 定格電圧 (UR) (Rated voltage) 定格温度でコンデンサの端子間に連続して印加することができ
る直流電圧の最大値。
備考1. コンデンサに印加する直流電圧と交流ピーク電圧の和は,定格電圧以下とする。
2. 短時間であれば定格電圧を超えてもよい(2.2.6及び4.13による。)。
1.6 表示
JIS C 5101-1の2.4(表示)によるほか,次による。
1.6.1 表示項目は,次の項目から選定し表示する。表示の優先順位は,記載の順による。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d. c. は,記号 又は で表してもよい。)
c) カテゴリ電圧及びカテゴリ温度(長寿命等級コンデンサに適用)(適用する場合)
d) 端子の極性
有極性コンデンサは,陽極端子近くに陽極記号を表示する。
双極性コンデンサは,両端に陽極を表示し,表示の余地がある場合は,“BP”の文字を追加する。
e) 定格静電容量許容差
f) 等級(長寿命等級コンデンサに適用)
略号“LL”を用いてもよい。
g) 製造年月(又は年週)
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h) 製造業者名又はその商標
i) サブファミリの標識(例 1,2又は3)
j) 耐候性カテゴリ
k) 製造業者の形名
l) 引用個別規格
1.6.2 コンデンサには,1.6.1のa),b)及びd)並びに必要な場合,残りの項目をできる限り多く明りょう
に表示する。また,コンデンサの表示は,重複を避けることが望ましい。
1.6.3 コンデンサの包装には,1.6.1に規定のすべての項目を明りょうに表示する。
1.6.4 表示を追加する場合には,混乱を生じないように表示する。
第2章 推奨特性及び定格
2. 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 0010の8.(部品
耐候性カテゴリ)に規定の耐候性カテゴリによって分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 : −55℃
カテゴリ上限温度 : +85℃,+100℃及び+125℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56日
低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格静電容量 (CR) 定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063のE3標準数列及びその10n(nは整数)
倍から選定するのが望ましい。ただし,ほかの値が必要な場合は,E6標準数列を選定する。
2.2.2 定格静電容量許容差 定格静電容量許容差の推奨値は,次のとおりとする。
固体電解コンデンサ 非固体電解コンデンサ
± 5% ±10%
±10% ±20%
±20% −10/+30%
−10/+50%
2.2.3 定格電圧 (UR) 定格直流電圧の推奨値は,JIS Z 8601のR5標準数列を使用し,次による。
1.0 1.6 2.5 4.0 6.3及びその10n(nは整数)倍。
ほかの数値が必要な場合は,R10標準数列を選定する。
2.2.4 カテゴリ電圧 (UC) カテゴリ電圧は,定格電圧とする。ただし,異なる場合は,個別規格の規定
による。
2.2.5 逆電圧 許容する逆電圧は,個別規格の規定による。
2.2.5.1 定格逆電圧 定格逆電圧は,有極性コンデンサが,カテゴリ下限温度及び定格温度(個別規格に
規定する。)の間のすべての温度で連続して耐える逆電圧の値とする。
2.2.5.2 試験逆電圧 試験逆電圧は,逆電圧試験を行う場合に用いる電圧の値とする。
2.2.6 サージ サージは,定格電圧又はカテゴリ電圧の1.15倍とする。
2.2.7 リプル(適用する場合) リプル電流,リプル電圧の両方又はどちらか一方を個別規格に規定する。
2.2.8 定格温度 定格温度は,個別規格に規定がない場合85℃とする。
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第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,酸化皮膜の化成工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサは,外形寸法及び定格値が異なっていても
本質的に同じ製造工程及び材料で製造されたコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C
5101-1の3.5.1(出荷対象ロットの成績証明書)によって,出荷対象ロットの成績証明書を提出しなければ
ならない。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量値の変化,損失角の正接 (tan び漏れ電流と
する。
3.4 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1の3.4(品質認証手順)による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の試験計画は,この規格の3.5による。
定数抜取手順は,次の3.4.1及び3.4.2による。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
サンプリング方法 品質認証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1の3.4.2 b)による。試料は,認証を得よう
とするコンデンサのすべての範囲を代表するものとし,個別規格に規定するすべての範囲であっても,ま
た,その一部でもよい。
抜き取る試料は,定格電圧の最低及び最高と外形寸法の最小及び最大との4組合せ(定格電圧と外形寸
法との組合せ)を選定する。ただし,外形寸法が5種類以上の場合は,中間の外形寸法のものも試験する。
外形寸法と定格電圧とのそれぞれの組合せの最大の定格静電容量を選定する。したがって,範囲認証の場
合,試験は4組合せ又は6組合せについて行う。認証範囲での組合せが,3組合せ以下の場合の試料数は,
4組合せと同じ試料数とする。
予備試料は,次による。
a) 群“0”での許容不良品の置き換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不良品の置き換え用として1組合せごとに1個
群“0”に規定する試料数は,すべての群の試験が適用される場合の試料数である。これと異なる場
合は,それに従って試料数を減らしてもよい。
品質認証試験の試験計画に,群を追加する場合の群“0”の試料数は,追加する群に必要な試料数を
追加する。
表Iに品質認証試験の場合の各群及び副群の試料数並びに合格判定個数を示す。
3.4.2 試験 表I及び表IIに規定の一連の試験は,個別規格に規定されたコンデンサの品質認証に必要
な試験であり,各群の試験は,記載の順に行う。
すべての試料は,群の“0”試験を行い,その後に他の群に分割する。
群“0”の試験中に生じた不良品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不良となっても,“不良数は1個”と数える。
不良数が各群及び各副群での合格判定個数を超えないで,かつ,不良の合計が総合格判定個数を超えな
い場合の品質認証は,合格とする。
備考 表I及び表IIは,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表Iは各試験又は試
験群に対する試料数及び合格判定個数の詳細を規定している。また,表IIは,第4章の試験の
詳細を規定しており,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に選定する
試験方法又は試験条件などを規定している。
(pdf 一覧ページ番号 )
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C 5101-15 : 1998
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する
品質確認検査と同じとする。
表I 品質認証試験のサンプリング計画と合格判定個数
群番号 試験項目 この規格の 試料数 (n) 及び合格判定個数 (pd)
項目番号 1組合せ(4) 4組合せ(4)以下に 6組合せ(4)に
当たりの試 対する試験 対する試験
料数 4n pd pd 6n pd pd
n 合計 合計
0 大電流サージ(5) 4.19
外観 4.1
寸法 4.1
漏れ電流 4.2.1
静電容量 4.2.2 26 104 1 156 2(2)
損失角の正接 4.2.3
インピーダンス (1) 4.2.4
予備試料 2 8 12
1A 端子強度 4.3 3 12 1 18 1
はんだ耐熱性 4.4
部品の耐溶剤性(1) 4.17
1B はんだ付け性 4.5 6 24 1 36 2(2)
表示の耐溶剤性(1) 4.18
温度急変 4.6
振動 4.7
バンプ又は衝撃(3) 4.8又は4.9
1 一連耐候性 4.10 9 36 2(2) 4 54 2(2) 6
2 高温高湿(定常) 4.11 5 20 1 30 2(2)
3 耐久性 4.12 5 20 1 30 2(2)
4A サージ 4.13 2 8 12 1
4B 逆電圧(1) 4.14 2 8 1 12 1
5 高温及び低温特性 4.15 3 12 1 18 2(2)
充放電(1) 4.16
注(1) 個別規格に規定がある場合に適用する。
(2) 1組合せに対し1個を超える不良があってはならない。
(3) 適用は,個別規格の規定による。
(4) 定格電圧と外形寸法との組合せで,この規格の3.4.1による。
(5) 固体電解コンデンサで個別規格に規定がある場合に適用する。
備考 原国際規格IEC 60384-15 Amendment 2では,“大電流サージ”の適用項目番号が4.17と記載されて
いるが,4.19の誤記のため,この規格では,4.19と修正し,記載する。また,表II群0の同じ項目
番号も同様とする。
――――― [JIS C 5101-15 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-15:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-15:1982(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1:1987(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 2:1992(MOD)
JIS C 5101-15:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-15:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISZ8601:1954
- 標準数