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C 5101-15 : 1998
表II 品質認証試験計画
備考1. 試験の項目番号は,第4章(試験及び測定方法)を参照する。
2. 表中のDは破壊試験,NDは非破壊試験である。
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数 (n) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 及び合格判定 (備考1.参照)
ND 個数 (pd)
群0 ND 表Iによる。
4.19 大電流サージ
(固体電解コンデンサで
個別規格に規定がある場合
に適用する。)
4.1 外観 4.1による。
外観に損傷がなく,表示が明りょ
うであり,また,その他個別規格
の規定による。
4.2 寸法 個別規格の規定による。
(詳細)
4.2.1 漏れ電流 圀
保護抵抗 : ... 個別規格の規定による。
4.2.2 静電容量 周波数 : ...Hz 規定の許容差以内
4.2.3 損失角の正接 (tan 周波数 : ...Hz 個別規格の規定による。
4.2.4 インピーダンス 周波数 : ...kHz 個別規格の規定による。
(適用する場合)
群1A D 表Iによる。
4.3.1 初期測定 静電容量
4.3 端子強度 外観 損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 予備乾燥なし
試験方法(1A又は1B)は,個別
規格の規定による。
4.17 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法 : 2
4.4.2 最終測定 外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
表示が明りょうである。
群1B D 表Iによる。
4.5 はんだ付け性 エージングなし 端子にはんだが良好に付着して
方法 : 個別規格の規定による。 いるか,又ははんだ小球法の場合
規定の...秒以内にはんだが流れ
る。
4.18 表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示が明りょうである。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法1
こすりの材質 : ...
後処理時間 : ...
4.6.1 初期測定 静電容量
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS C 5101-15 pdf 11] ―――――
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C 5101-15 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数 (n) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 及び合格判定 (備考1.参照)
ND 個数 (pd)
群1B(続き) D 表Iによる。
4.6 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t=30min
後処理時間 : 16h
4.6.3 最終測定 漏れ電流 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 個別規格の規定による。
4.7 振動 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。
手順 : B4
周波数範囲 : ...Hzから...Hz
振幅 : ...mm又は加速度...m/s2
(いずれか緩い方)
試験時間 : ...h
4.7.2 最終測定 外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
4.8 バンプ(又は4.9衝撃によ 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。) る。
バンプの回数 : ...
ピーク加速度 : 390m/s2
作用時間 : 6ms
4.9 衝撃(又は4.8バンプによ 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。) る。
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : ...ms
4.8.2又は4.9.2 最終測定 外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
群1 D 表Iによる。
4.10 一連耐候性
4.10.1 初期測定 静電容量
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16h
外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
4.10.3 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル),最初のサイ
クル
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2h
外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
――――― [JIS C 5101-15 pdf 12] ―――――
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C 5101-15 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数 (n) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 及び合格判定 (備考1.参照)
ND 個数 (pd)
群1(続き) D 表Iによる。
4.10.5 減圧(個別規格に規定があ
気圧 : 8.5kPa
る場合)
外観 破壊,フラッシュオーバ又は外装
に著しい変形がない。
4.10.6 温湿度サイクル(12±12
時間サイクル),残りのサイ
クル
4.10.7 最終測定 外観 損傷がなく,また,非固体電解コ
ンデンサでは電解質の漏れがな
い。
表示が明りょうである。
漏れ電流 表Iによる。 初期規定値
C
:
静電容量 C
長寿命等級 :
4.10.1の測定値の5%及
び4.3.1又は4.6.1のいずれ
か適用される測定値の
8%
一般等級 :
4.10.1の測定値の12%
損失角の正接 サブファミリ1 :
初期規定値の1.15倍
サブファミリ2及び3 :
初期規定値
4.10.8 封止(個別規格に規定が 方法 : ... 最大漏れ : ...
ある場合)
群2 D 表Iによる。
4.11 高温高湿(定常)
4.11.1 初期測定 静電容量
4.11.2 最終測定 外観 損傷がなく,また,非固体電解
コンデンサでは電解質の漏れが
ない。
表示が明りょうである。
漏れ電流 初期規定値
C
:
静電容量 C
長寿命等級 :
4.11.1の測定値の 8%
一般等級
4.11.1の測定値の 12%
損失角の正接 サブファミリ1及び2 :
初期規定値の1.15倍
サブファミリ3 :
初期規定値
外部絶縁の絶縁抵抗 100M 圀
(適用する場合)
外部絶縁の耐電圧 絶縁破壊又はフラッシュオーバ
(適用する場合) がない。
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS C 5101-15 pdf 13] ―――――
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C 5101-15 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数 (n) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 及び合格判定 (備考1.参照)
ND 個数 (pd)
群3 D 表Iによる。
4.12 耐久性 試験時間 :
長寿命等級 : 2 000h
一般等級 : 1 000h
試験温度 :
...℃(適用する場合)
試験電圧 : ...V
後処理 : 16h
4.12.1 初期測定 静電容量
4.12.3 最終測定 外観 損傷がない。
表示が明りょうである。
漏れ電流 初期規定値の1.25倍
C
静電容量 C :
4.12.1の測定値に対し
注* 適用する場合
サブファミリ2 : 20%
サブファミリ3 : 10%
損失角の正接 サブファミリ1及び2 :
初期規定値の1.3倍
サブファミリ3 :
初期規定値
群4A D 表Iによる。
4.13 サージ サイクル数 : 1 000
温度 : ...℃
圀
保護抵抗 : 1 000 10%
充電時間 : 30s
放電時間 : 5min30s
4.13.1 初期測定 静電容量
4.13.3 最終測定 漏れ電流 初期測定値
C
静電容量 C :
4.13.1の測定値の
サブファミリ1 : 5%
サブファミリ2及び3 : 10%
損失角の正接 サブファミリ1 :
初期規定値の1.15倍
サブファミリ2 :
初期規定値の1.3倍
サブファミリ3 :
初期規定値
――――― [JIS C 5101-15 pdf 14] ―――――
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C 5101-15 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数 (n) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 及び合格判定 (備考1.参照)
ND 個数 (pd)
群4B D 表Iによる。
4.14 逆電圧 試験時間 : 逆極性に125h,...Vを
(適用する場合) 定格温度で,引き続いて正極性
に125h,定格電圧を定格温度で
印加する。
4.14.1 初期測定 静電容量
4.14.3 最終測定 漏れ電流 サブファミリ1及び2 :
初期規定値の1.25倍
サブファミリ3 :
初期規定値
静電容量 4.14.1の測定値の
C
10%
C
損失角の正接 初期規定値の1.15倍
群5 D 表Iによる。
4.15 高温及び低温特性 コンデンサを各温度段階で測定
する。
段階1 : 20℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接 比較用の値に使用する。
インピーダンス*(段階2と同
じ周波数)
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接* 個別規格の規定による。
インピーダンス* 個別規格の規定による。
段階3 : 20℃(個別規格に規定
がある場合)
漏れ電流 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 個別規格の規定による。
インピーダンス* 個別規格の規定による。
段階4 : 定格温度
漏れ電流 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接* 個別規格の規定による。
インピーダンス* 個別規格の規定による。
段階5 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接* 個別規格の規定による。
インピーダンス* 個別規格の規定による。
段階6 : 20℃(個別規格に規定
がある場合)
漏れ電流 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 個別規格の規定による。
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS C 5101-15 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-15:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-15:1982(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1:1987(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 2:1992(MOD)
JIS C 5101-15:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-15:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISZ8601:1954
- 標準数