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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。
[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準。
注記 個別規格に規定する評価水準は,品種別通則JIS C 5101-16の3.5.4(評価水準)から選定す
る。このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規
定してもよい。
[9] 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 [1] 個別規格番号 [2]
例 電子機器用固定コンデンサ [3] 例 JIS C 5101-16-1(ブランク個別規格番号) [4]
第1部 : 品目別通則 : JIS C 5101-1 : 1998
個別規格の名称 [5]
外形図(表1参照) [7] 例 固定メタライズドポリプロピレン
(第三角法) フィルム直流コンデンサ
構造の説明 [6]
評価水準(複数も可) : 例 E及びEZ [8]
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。) 性能等級
安定性等級
注記 [1] [9] は前述の識別による。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証電子部品一覧表 [9]
(QPL) に示されている。*
注* この記載は,IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-16を品種別通則とするブランク個別規格で,固定メタライズドポリプロピレン
フィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。)の評価水準E及びEZについて適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-16-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part16-1 : Blank detail
specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors−Assessment levels E
and EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していること
を示す。
1.1 推奨する取付方法
推奨する取付方法は,JIS C 5101-16の1.4.2による。
1.2 寸法
寸法は,表1による。
――――― [JIS C 5101-16-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
表1−外形寸法記号及び寸法
寸法 (mm)
外形寸法記号
L H d ···
注記1 外形寸法記号がない場合は,この表1は削除し,寸法は表2に記載してそれを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び性能
定格及び性能は,次による。
定格静電容量範囲 (表2による。)
定格静電容量許容差
定格電圧 (表2による。)
カテゴリ電圧(適用する場合) (表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表2−外形寸法に組み合わせた定格静電容量及び定格電圧
定格電圧
カテゴリ電圧*
定格静電容量 外形寸法 外形寸法 外形寸法 外形寸法
nF 及び/又はF
注* 定格電圧と異なる場合。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追
補を含む。)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-16 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第16部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリプロ
ピレンフィルム直流コンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-16 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 16 :
Sectional specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.5 表示
コンデンサ及び包装の表示は,品種別通則JIS C 5101-16の1.6による。
注記 コンデンサ及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記号によって示す。
a) 定格静電容量
――――― [JIS C 5101-16-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
b) 定格静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
e) 性能等級及び安定性(必要な場合)
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項
品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定し,表3による。
表3−その他の特性
この表は,品種別通則JIS C 5101-16の規定への追加又はより
厳しい性能を規定するために使用する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順
品質認証の手順は,品種別通則JIS C 5101-16の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画(表4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロットの構成
は,品種別通則JIS C 5101-16の3.5.1による。
――――― [JIS C 5101-16-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画 評価水準E及びEZ
細分箇条番号及び試験項目 試験条件 E EZ 要求性能a)
a) D又は IL
AQL n c
ND c)
c)
群A検査(ロットごと)
副群A0
4.2.2 静電容量 ND 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 周波数 : 1 kHz(すべ 100 % d)4.2.3.2による。
ての静電容量値に
適用)
4.2.1 耐電圧(試験A) 方法 : ... 絶縁破壊又はフラッシオ
測定点 : 1a ーバがない。ただし,一
時的瞬時破壊はあって
もよい。
4.2.4 絶縁抵抗(試験A) 測定点 : 1a 4.2.4.3による。
b)
副群A1 ND S-3 2.5% 0
4.1 外観 4.1による。
表示は明りょうとし,その
他は,この規格の1.5に
よる。
4.1 寸法(ゲージ法) この規格の表1による。
副群A2 ND S-3 1.0%
4.2.2 静電容量 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 4.2.3.2による。
4.2.1 耐電圧(試験A) 絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。
4.2.4 絶縁抵抗(試験A) 4.2.4.2による。
群B検査(ロットごと)
b)
副群B1 ND S-3 2.5% 0
4.5 はんだ付け性 エージングは行わな 端子にはんだが良好に付
い。 着しているか,又ははん
方法 : ... だ小球法の場合,···s以
内にはんだが流れる。
4.15 表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示は明りょうとする。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法1
ラビングの材料 : ...
後処理時間 : ...
――――― [JIS C 5101-16-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画 評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号及び試験項目 試験条件 試料数及び合格判定数e) 要求性能a)
a) D
又は E EZ
ND c)
p n c p n c
群C検査(定期的)
副群C1 A D 6 9 1 6 5 0
副群C1の試料の一部
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定によ
る。
4.3.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.3 端子強度 外観 外観に損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 方法 : ...
4.14 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定によ
(適用する場合) 溶剤の温度 : ... る。
方法2 : ...
後処理時間 : ...
4.4.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとす
る。
静電容量 4.3.1の測定値に対し
てΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦2 %
等級2 : ≦3 %
誘電正接 (tan δ) tan δの増加は4.3.1の
測定値に対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格
による。
――――― [JIS C 5101-16-1 pdf 10] ―――――
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- IEC 60384-16-1:2005(IDT)
JIS C 5101-16-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式