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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
表5−定期的な品質検査
検査副群a) EZ
pb) nb) cb)
C1 3 12 0
C2 3 12 0
C3.1 6 18 0
C3.2 6 9 0
C3.3 3 24 0
C3.4 6 15 0
C3.5A 12 6 0
C3.5B 12 6 0
注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) この表の記号は次による。p=検査周期(月),n=試料数,c=許容不適合数
4 試験及び測定手順
注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。
4.1 乾燥
乾燥条件は,JIS C 5101-1の4.3(乾燥)による。
4.2 測定条件
測定は,次の条件で行う。
− 相対湿度 : 25 %75 %
4.3 取付け
4.3.1 一般事項
取付けは,JIS C 5101-1の4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)]によるほか,次による。
4.3.2 初期検査
静電容量を,4.5.2によって測定する。
4.3.3 試験条件
試験条件は,リフロー法とし,リフロー温度プロファイルは個別規定による。
4.3.4 最終検査
コンデンサは,表3の外観及び電気的性能の測定を行う。
4.4 外観検査及び寸法検査
4.4.1 一般事項
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。
4.4.2 外観及び寸法
外観は,供試品が要求する品質水準に適した,照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
作業者には,適切な測定装置に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
コンデンサは,材料,設計,構造及び外径寸法が,個別規格の要求事項を満足していることを証明する
ために検査する。
4.4.3 要求事項
要求事項は,表3による。でき栄え(ワークマンシップ)は,個別規格に規定する要求事項を満足しな
ければならない。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 21] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
4.5 電気的試験
4.5.1 漏れ電流
4.5.1.1 一般事項
漏れ電流は,JIS C 5101-1の4.9(漏れ電流)によるほか,次による。
4.5.1.2 測定条件
コンデンサに,充電電流を制限する保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。
保護抵抗器の値は,1 000 Ωとする。
4.5.1.3 要求事項
要求事項は,表3による。
4.5.2 静電容量
4.5.2.1 一般事項
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,次による。
4.5.2.2 測定条件
個別規格に規定がない場合,静電容量の測定周波数は,100 Hz又は120 Hzとする。
実際のコンデンサ端子間に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。
基本的に,測定の間,コンデンサに直流電圧は印加しないほうがよい。
なお,交流電圧によって,コンデンサに逆電圧が印加されないように,測定の間,0.7 V1.0 Vの直流
バイアス電圧を印加してもよい。
測定機器の確度は,絶対値又は静電容量の変化として個別規格に規定する値の±2 %以下とする。
4.5.2.3 要求事項
要求事項は,表3による。
4.5.3 損失角の正接(tan δ)又は等価直列抵抗(ESR)
4.5.3.1 一般事項
損失角の正接(tan δ)又は等価直列抵抗(ESR)は,JIS C 5101-1の4.8[誘電正接(損失角の正接)及
び等価直列抵抗(ESR)]によるほか,次による。
損失角の正接(tan δ)又は等価直列抵抗(ESR)の規定値は,個別規格による。
非固体電解コンデンサの場合は,損失角の正接(tan δ)の代わりに,等価直列抵抗(ESR)を個別規格
に規定してもよい。
4.5.3.2 測定条件
測定は,4.5.2.2の条件下で行う。
測定機器の確度は,絶対値で0.01以下とする。
4.5.3.3 要求事項
要求事項は,表3による。
4.5.4 インピーダンス(要求がある場合)
4.5.4.1 一般事項
インピーダンスは,JIS C 5101-1の4.10(インピーダンス)によるほか,次による。
4.5.4.2 測定周波数
測定周波数は,100 Hz,120 Hz,1 kHz,10 kHz,100 kHz及びl MHzの中から,コンデンサが最も低い
インピーダンスになるような周波数を選定する。測定周波数の許容差は±20 %以内とする。測定する周波
数の値は,個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 22] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
4.5.4.3 測定条件
測定電圧は,測定中にコンデンサが発熱しない,十分に低い値とし,コンデンサに1分間印加したとき,
インピーダンスの変化が認められないものとする。
測定誤差は,インピーダンスの規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。
4.5.4.4 カテゴリ下限温度での測定
個別規格に規定がない場合,カテゴリ下限温度での測定周波数は,100 Hz又は120 Hzとする。
4.5.4.5 要求事項
要求事項は,表3による。
4.6 はんだ耐熱性
4.6.1 一般事項
はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。
4.6.2 試験条件
試験方法はリフロー法とし,個別規格に規定するリフロー温度プロファイルで行う。
4.6.3 後処理
後処理は,1時間2時間とする。
4.6.4 最終検査及び要求事項
後処理後に,表3に従って,コンデンサは,適切な照明の下で約10倍の拡大鏡で外観検査を行い,電気
的特性の測定を行う。要求事項は,表3による。
4.7 はんだ付け性
4.7.1 一般事項
はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。
4.7.2 試験条件
JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)による。
4.7.3 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.8 固着性
4.8.1 一般事項
固着性は,JIS C 5101-1の4.34(固着性)によるほか,次による。
4.8.2 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.9 耐プリント板曲げ性
4.9.1 一般事項
耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1の4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,次による。
4.9.2 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.10 温度急変
4.10.1 一般事項
温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,次による。
4.10.2 初期検査
表3による。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 23] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
4.10.3 試験条件
試験条件は,次による。
− TA=カテゴリ下限温度
− TB=カテゴリ上限温度
− 試験サイクル数 : 5回
− 各温度でのさらし時間 : 30分間
4.10.4 後処理
後処理は,1時間2時間とする。
4.10.5 最終検査及び要求事項
後処理後に,表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.11 一連耐候性
4.11.1 一般事項
一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.11.2 初期検査
表3による。
4.11.3 高温
高温は,JIS C 5101-1の4.21.3(高温)によるほか,次による。
− 試験温度 : カテゴリ上限温度
− 試験時間 : 16時間
4.11.4 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.4[温湿度サイクル(試験Db),最
初のサイクル]による。
4.11.5 低温
低温は,JIS C 5101-1の4.21.5(低温)によるほか,次による。
− 試験温度 : カテゴリ下限温度
− 試験時間 : 2時間
4.11.6 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.7[温湿度サイクル(試験Db),残
りのサイクル]による。
4.11.7 後処理
後処理時間は,1時間2時間とする。
4.11.8 最終検査及び要求事項
後処理後に,表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.12 高温高湿(定常)
4.12.1 一般事項
高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
コンデンサは,4.3によって取り付ける。
4.12.2 初期検査
表3による。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 24] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
4.12.3 試験条件
試験条件は,次による。
− 試験期間 : 10日,21日又は56日
− 温度 : +40 ℃±2 ℃
− 相対湿度 : (93±3)%
− 印加電圧 : 電圧は印加しない。
4.12.4 後処理
後処理時間は,1時間2時間とする。
4.12.5 最終検査及び要求事項
後処理後に,表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.13 高温及び低温特性
4.13.1 一般事項
高温及び低温特性は,JIS C 5101-1の4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。
4.13.2 検査及び要求事項
コンデンサは,各温度段階で電気的性能の測定を行い,表3に規定する要求事項を満足する。
4.14 サージ
4.14.1 一般事項
サージは,JIS C 5101-1の4.26(サージ)によるほか,次による。
4.14.2 初期検査
表3による。
4.14.3 試験条件
コンデンサは,1 000サイクルの試験を行う。試験の1周期は,次に示す充電期間と,5分30秒間の無
負荷開放(自己放電は許容する)期間との組合せとする。
充電は,サージ電圧(1.15 UR)に等しい電圧を,式(1)で算出した値の保護抵抗器を通して30秒間印加
する。
RC=0.1 s±0.05 s (1)
ここに, R : 保護抵抗値(Ω)
C : 公称静電容量値(μF)
試験は,室温で行う。
試験は,試験サイクルの無負荷状態で終了する。
充電時定数及び放電時定数は,個別規格による。
4.14.4 後処理
後処理時間は,1時間2時間とする。
4.14.5 最終検査及び要求事項
後処理後に,表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は,表3による。
4.15 耐久性
4.15.1 一般事項
耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 25] ―――――
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JIS C 5101-18:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-18:2016(IDT)
JIS C 5101-18:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-18:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ8601:1954
- 標準数