JIS C 5101-18:2019 電子機器用固定コンデンサ―第１８部：品種別通則―表面実装用固定アルミニウム固体（ＭｎＯ２）及び非固体電解コンデンサ | ページ 4

                                                                                             11
                                                              C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
        細分箇条番号,       D      試験及び   試料数(n)              要求事項a)
      試験及び検査項目a)    又は   測定条件a)  及び許容不
                            NDb)               適合数(c)
 群3.3A (続き)            D                  表2による

4.13 高温及び低温特性

12
C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
        細分箇条番号,       D      試験及び   試料数(n)              要求事項a)
      試験及び検査項目a)    又は   測定条件a)  及び許容不
                            NDb)               適合数(c)
 群3.3A (続き)            D                  表2による
 4.19   充放電d)                  4.19.3による
 4.19.2 初期検査
         静電容量                 4.5.2.2による            規定する許容差以内
 4.19.4 最終検査
         外観                     4.4.2による              外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
                                                           デンサの場合は,電解液の漏れがない
          漏れ電流                4.5.1.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.025 CNUR又は1 μAの,
                                                           いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.19.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦5 %
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.19.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
 群3.3B                     D                  表2による
 4.16   逆電圧d)                  4.16.2による
 4.16.1 初期検査
         静電容量                 4.5.2.2による            規定する許容差以内
 4.16.3 後処理                    4.16.3による
 4.16.4 最終検査
         外観                     4.4.2による              外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
                                                           デンサの場合,電解液の漏れがない
          漏れ電流                4.5.1.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.025 CNUR又は1 μAの,
                                                           いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.16.1の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.16.1の測定値に対して,個別規格の規定に
                                                           よる
         損失角の正接             4.5.3.2による            個別規格の規定による
         (tan δ)
 群3.4                      D                  表2による

4.15 耐久性

                   4.15.3による
 4.15.2  初期検査
          静電容量                4.5.2.2による            規定する許容差以内
 4.15.4  後処理                   4.15.4による

――――― [JIS C 5101-18 pdf 17] ―――――

                                                                                             13
                                                              C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
        細分箇条番号,       D      試験及び   試料数(n)              要求事項a)
      試験及び検査項目a)    又は   測定条件a)  及び許容不
                            NDb)               適合数(c)
 群3.4  (続き)            D                  表2による
 4.15.5 最終検査
 固体電解コンデンサの場合 : 
         外観                     4.4.2による              外観に損傷がない
                                                           表示は明瞭である
          漏れ電流                4.5.1.2による            ≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            4.15.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
          損失角の正接            4.5.3.2による            初期規定値の1.2倍以下
          (tan δ)
          インピーダンスc)        4.5.4.2及び              個別規格の規定値の1.2倍以下
                                  4.5.4.3による
 非固体電解コンデンサの場合 : 
         外観                     4.4.2による              電解液の漏れ又は外観に損傷がない
                                                           表示は明瞭である
          漏れ電流                4.5.1.2による            ≦0.025 CNUR又は1μAの,
                                                           いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            4.15.2の測定値に対して,
                                                             定格電圧            ΔC/C
                                                                V                  %
                                                                UR≦6.3        +25−40
                                                            6.3                                                            63         損失角の正接             4.5.3.2による            初期規定値の2倍又は0.4の,いずれか大き
         (tan δ)                                        い値以下
         インピーダンスc)         4.5.4.2及び              個別規格の規定値の4倍以下
                                  4.5.4.3による
 群3.5                      ND                 表2による

4.17 高温保存

                 4.17.3による
 4.17.2  初期検査
          静電容量                4.5.2.2による            規定する許容差以内
 4.17.4  後処理                   4.17.4による
 4.17.5  最終検査
          外観                    4.4.2による              外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
                                                           デンサの場合,電解液の漏れがない
          漏れ電流                4.5.1.2による            固体電解コンデンサの場合 : 初期規定値以
                                                           下
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 初期規定値
                                                           の2倍以下
          静電容量                4.5.2.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.17.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦5 %
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           4.17.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
          損失角の正接            4.5.3.2による            固体電解コンデンサの場合 : 初期規定値以
          (tan δ)                                       下
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 初期規定値
                                                           の1.2倍以下

――――― [JIS C 5101-18 pdf 18] ―――――

14
C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
        細分箇条番号,       D      試験及び   試料数(n)              要求事項a)
      試験及び検査項目a)    又は   測定条件a)  及び許容不
                            NDb)               適合数(c)
 群3.5   (続き)           ND                 表2による
 4.18    低温保存f)               JIS C
                                  5101-1    の
                                  4.25.2.2によ
                                  る
 4.18.2  初期検査
          静電容量                4.5.2.2による            規定する許容差以内
 4.18.4  後処理                   4.18.4による
 4.18.5  最終検査
          外観                    4.4.2による              外観に損傷がなく,かつ,表示は明瞭であ
                                                           る
                                                           非固体電解コンデンサの場合,電解液の漏
                                                           れがない
          漏れ電流                4.5.1.2による            ≦0.025 CNUR又は1 μAの,
                                                           いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            4.18.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
          損失角の正接            4.5.3.2による            個別規格の規定による
          (tan δ)

4.14 サージ

                   4.14.3による
 4.14.4  後処理                   4.14.4による
 4.14.5  最終検査
          外観e)                  4.4.2による              外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
                                                           デンサの場合,電解液の漏れがない
          漏れ電流                4.5.1.2による            固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           ≦0.025 CNUR又は1 μAの,
                                                           いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
          静電容量                4.5.2.2による            4.17.2又は4.18.2の測定値に対して,
                                                           固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           |ΔC/C|≦10 %
                                                           非固体電解コンデンサの場合 : 
                                                           |ΔC/C|≦15 %
          損失角の正接           4.5.3.2による             個別規格の規定による
          (tan δ)
 注a) これらの取付け後の測定値は,群3の後に行う各副群の初期値とする。
    b) この表で,Dは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
    c) 固体電解コンデンサで,かつ,要求のある場合だけに適用する。
    d) 要求のある場合だけに適用する。
    e) 非固体電解コンデンサで,かつ,要求のある場合だけに適用する。
    f) 非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10 ℃及び−25 ℃の場合に適用する。
    g)   N=公称静電容量,UR=定格電圧を示す。
    h) 比較用の値として用いる。

3.5 品質確認検査

3.5.1  検査ロットの構成
3.5.1.1  群A及び群B検査
  これらの検査は,ロットごとに行う。
  製造業者は,次の条件の下に,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

――――― [JIS C 5101-18 pdf 19] ―――――

                                                                                             15
                                                              C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
b) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ
    を代表とし,次の事項を考慮する。
  − 組合せ数
  − 1組合せ当たり5個以上
c)   EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合,1組合せ当たり抜取数が5個未満のとき,製造業者は,
    認証機関(CB)からの承認を必要とする。
3.5.1.2  群C検査
  この検査は,定期的に行う。
  試料は,規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低電圧,
を選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために,定格電圧群ごとに一つの外形寸法の試料
を試験する。その後の期間では,製造の全ての範囲を対象とするために,その他の外形寸法及び/又は定
格電圧の試料を試験する。
3.5.2  試験計画
  ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格に規定する。
3.5.3  長期保管後の出荷
  JIS C 5101-1のQ.1.7(長期保管後の出荷)の規定によって,群A及び群B検査に基づくはんだ付け性
及び静電容量について再検査を行う。
3.5.4  評価水準
  ブランク個別規格に規定する評価水準は,表4及び表5の中から選定することが望ましい。
                                   表4−ロットごとの品質検査
     検査副群a)                                      EZ
                            ILb)                      nb)                       cb)
       A0e)                                         100 %c)
                                                       d)
        A1                  S-3                                                  0
                                                       d)
        A2                  S-3                                                  0
                                                       d)
        B1                  S-3                                                  0
   注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
     b) この表の記号は次による。IL=検査水準,n=試料数,c=許容不適合数
     c) この検査は,製造工程内での全数検査で不適合品を取り除いた後に実施する。抜取水準は部品製造業者が
        設定するが,JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示
        す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]に準じることが望ましい。
        不適合品数の百万分率(ppm,×10−6)による出荷品質水準を監視するために,ロットの合格又は不合格
        にかかわらず,抜取試料は全て検査し,不適合品数を数える。
        抜取試料中に1個以上の不適合品がある場合,そのロットは不合格とするが,不適合品数は数え,品質水
        準を算出する。
        百万分率(ppm,×10−6)で示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に示す方法によっ
        て累積した検査データから算出する。
     d) 試料数は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)による。
     e) 固体電解コンデンサで,かつ,要求のある場合だけ適用する。

――――― [JIS C 5101-18 pdf 20] ―――――

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