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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
品質認証試験の場合の各群及び各副群で試験する試料数及び許容不適合数を,表2に示す。
3.4.3 試験
表2及び表3に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順序に従って行う。
全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験の中で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
品質認証は,不適合数がゼロの場合に,合格とする。
表2及び表3には,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を規定している。
表2には,各試験又は各試験群に対する試料数及び許容不適合数の詳細を規定している。
表3には,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条
件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じであることが望ましい。
――――― [JIS C 5101-18 pdf 11] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
表2−品質認証試験の抜取計画,評価水準EZ
群 試験項目 細分箇条番号 試料数 許容不適合数
nd) c
0 大電流サージb) 4.22 112+8e)+12g) 0
外観 4.4
寸法 4.4
漏れ電流 4.5.1
静電容量 4.5.2
4.5.3
損失角の正接(tan δ)又は
等価直列抵抗(ESR)
インピーダンスc) 4.5.4
予備試料
1A はんだ耐熱性 4.6 12 0
部品の耐溶剤性c) 4.20
1B はんだ付け性 4.7 12 0
表示の耐溶剤性c) 4.21
2 耐プリント板曲げ性 4.9 12 0
3a) 取付け 4.3 76+8e) 0f)
外観 4.4
漏れ電流 4.5.1
静電容量 4.5.2
損失角の正接(tan δ) 4.5.3
インピーダンスc) 4.5.4
3.1 固着性 4.8 20 0
温度急変 4.10
一連耐候性 4.11
3.2 高温高湿(定常) 4.12 20 0
3.3A 高温及び低温特性 4.13 8 0
充放電c) 4.19
3.3B 逆電圧c) 4.16 8e) 0
3.4 耐久性 4.15 20 0
3.5 高温保存 4.17 8 0
低温保存c) 4.18
サージ 4.14
注a) これらの取付け後の測定値は,群3の後に行う各副群の初期値とする。
b) 固体電解コンデンサで,かつ,要求のある場合
c) 要求のある場合
d) 外形寸法及び定格電圧の組合せは,3.4.2による。
e) 副群3.3Bの試験がある場合の追加試料数
f) 取付け後の不適合品は,以降の不合格数の計算には含まず,予備試料と取り替える。
g) 予備試料
――――― [JIS C 5101-18 pdf 12] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
表3−品質認証試験計画
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
NDb) 適合数(c)
群0 ND 表2による
4.22 大電流サージc) JIS C 5101-1
の4.39による
4.4 外観 4.4.2による 表示は明瞭であり,かつ,個別規格の規定
による
4.4 寸法(詳細) 4.4.2による 個別規格の規定による
4.5.1 漏れ電流 4.5.1.2による 固体電解コンデンサの場合 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
非固体電解コンデンサの場合 :
≦0.025 CNUR又は1 μAの,
いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
4.5.2 静電容量 4.5.2.2による 規定する許容差以内
4.5.3 損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 個別規格の規定による
4.5.4 インピーダンスd) 4.5.4.2及び 個別規格の規定による
4.5.4.3による
群1A D 表2による
4.6 はんだ耐熱性
4.6.2による
4.6.3 後処理 4.6.3による
4.6.4 最終検査 4.6.4による
外観 4.4.2による 外観に損傷がない
電極の角部のはんだ食われによる電極の消
失は,電極のりょう(稜)の全長の25 %以
下
静電容量 4.5.2.2による 個別規格の規定による
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 個別規格の規定による
4.20 部品の耐溶剤性d) JIS C 個別規格の規定による
5101-1の4.31 JIS C 5101-1の4.31による
による
群1B D 表2による
4.7 はんだ付け性
JIS C
5101-1の4.15
による
4.7.3 最終検査
外観 4.4.2による はんだぬれ性の要求事項は,端子部分だけ
評価する
(JIS C 60068-2-58:2016の9.3による)
4.21 表示の耐溶剤性d) JIS C JIS C 5101-1の4.32による
5101-1の4.32
による
群2 D 表2による
4.9 耐プリント板曲げ性
JIS C
5101-1の4.35
による
4.9.2 最終検査
外観 4.4.2による 外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
デンサの場合は,電解液の漏れがない
静電容量 4.5.2.2による 個別規格の規定による
インピーダンスd) 4.5.4.2及び 個別規格の規定による
4.5.4.3による
――――― [JIS C 5101-18 pdf 13] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
NDb) 適合数(c)
群3 D 表2による
4.3 取付け
4.3.3による
4.3.4 最終検査
外観 4.4.2による 外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コン
デンサの場合は,電解液の漏れがない
漏れ電流 4.5.1.2による 固体電解コンデンサの場合 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
非固体電解コンデンサの場合 :
≦0.025 CNUR又は1 μAの,
いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
静電容量 4.5.2.2による 4.5.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦5 %
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 個別規格の規定による
インピーダンスd) 4.5.4.2及び 初期規定値以下
4.5.4.3による
群3.1 D 表2による
4.8 固着性
JIS C
5101-1の4.34
による
4.8.2 最終検査
外観 4.4.2による 外観に損傷がない
4.10 温度急変
4.10.3による
4.10.2 初期検査
静電容量 4.5.2.2による 規定する許容差以内
4.10.4 後処理 4.10.4による
4.10.5 最終検査
固体電解コンデンサの場合 :
漏れ電流 4.5.1.2による ≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
静電容量 4.5.2.2による 4.10.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦5 %
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 個別規格の規定による
インピーダンスd) 4.5.4.2及び 個別規格の規定による
4.5.4.3による
非固体電解コンデンサの場合 :
外観 4.4.2による 外観に損傷がなく,かつ,電解液の漏れが
ない
4.11 一連耐候性
JIS C
5101-1の4.21
による
4.11.2 初期検査
静電容量 4.5.2.2による 規定する許容差以内
4.11.3 高温 4.11.3による
4.11.4 温湿度サイクル(試験 JIS C
Db),最初のサイクル 5101-1の
4.21.4による
4.11.5 低温 4.11.5による
4.11.6 温湿度サイクル(試験 JIS C
Db),残りのサイクル 5101-1の
4.21.7による
――――― [JIS C 5101-18 pdf 14] ―――――
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C 5101-18 : 2019 (IEC 60384-18 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
NDb) 適合数(c)
群3.1 (続き) D 表2による
4.11.7 後処理 4.11.7による
4.11.8 最終検査
外観 4.4.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭で
ある
非固体電解コンデンサの場合は,電解液の
漏れがない
漏れ電流 4.5.1.2による 固体電解コンデンサの場合 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
非固体電解コンデンサの場合 :
≦0.025 CNUR又は1 μAの,
いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
静電容量 4.5.2.2による 4.11.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 初期規定値の1.2倍以下
群3.2 D 表2による
4.12 高温高湿(定常)
JIS C
5101-1の4.22
による
4.12.2 初期検査
静電容量 4.5.2.2による 規定する許容差以内
4.12.4 後処理 4.12.4による
4.12.5 最終検査
外観 4.4.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭で
ある
非固体電解コンデンサの場合,電解液の漏
れがない
漏れ電流 4.5.1.2による 固体電解コンデンサの場合 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)g)
非固体電解コンデンサの場合 :
≦0.025 CNUR又は1 μAの,
いずれか大きい値(+20 ℃±2 ℃)g)
静電容量 4.5.2.2による 固体電解コンデンサの場合 :
4.12.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合 :
4.12.2の測定値に対して,|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 初期規定値の1.2倍以下
インピーダンスd) 4.5.4.2及び 個別規格の規定値の1.2倍以下
4.5.4.3による
群3.3A D 表2による
4.13 高温及び低温特性
JIS C
5101-1の4.29
による
固体電解コンデンサの場合 :
段階1 : 20 ℃
静電容量c) ) 4.5.2.2による 規定する許容差以内
インピーダンス 4.5.4.2及び 個別規格の規定による
(段階2と同じ測定 4.5.4.3による
周波数)c) )
損失角の正接(tan δ) 4.5.3.2による 個別規格の規定による
c)
――――― [JIS C 5101-18 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-18:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-18:2016(IDT)
JIS C 5101-18:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-18:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ8601:1954
- 標準数