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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群3 D 表A.1による。
4.3 取付け
外観 外観に損傷がない。
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
インピーダンスe) 4.5.4による。
等価直列抵抗 (ESR) ) 個別規格の規定による。
群3.1 D 表A.1による。
4.8 固着性
外観 外観に損傷がない。
4.10.1 初期測定 行わない(群3での測定値
を用いる。)。
4.10 温度急変
TA : カテゴリ下限温度
TB : カテゴリ上限温度
回数 : 5回
試験時間t : 30 min
後処理時間 : 1 h2 h
4.10.3 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 26] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群3.1(続き) D 表A.1による。
4.11 一連耐候性
(形状1に適用)
4.11.1 初期測定 行わない。
4.11.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16 h
4.11.3 温湿度サイクル
(試験Db),最初の
サイクル
4.11.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイクル 後処理時間 : 1 h2 h
(試験Db),残りの
サイクル
4.11.6 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,明り
ょうとする。
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 群3の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan 4.5.3の規定値に対して1.2倍以下
――――― [JIS C 5101-3 pdf 27] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群3.2 D 表A.1による。
4.12 高温高湿(定常) 後処理時間 : 1 h2 h
(形状1に適用)
4.12.1 初期測定 行わない(群3での測定値
を用いる。)。
4.12.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,明り
ょうとする。
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 群3の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値に対して1.2倍以下
群3.3 D 表A.1による。
4.15 耐久性
試験時間 : 2 000 h
試験温度 : ... ℃ d)
(適用する温度)
印加電圧 : ... V d)
後処理時間 : 1 h2 h
4.15.1 初期測定 行わない(群3での測定値
を用いる。)。
4.15.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,明り
ょうとする。
漏れ電流 4.5.1の規定値の2倍以下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値の1.5倍以下
インピーダンスe) 個別規格の規定による。
又は等価直列抵抗 (ESR)
e)
――――― [JIS C 5101-3 pdf 28] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群3.4 D 表A.1による。
4.13 高温及び低温特 コンデンサを各温度段階
性 で測定する。
段階1 : 20 ℃
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 比較用の値
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階3 : 20 ℃
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
段階4 : 85 ℃
漏れ電流 0.2 CNUR 一 V) 又は10
のうちいずれか大きい値以下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階5 : 125 ℃
(適用する場合)
漏れ電流 0.25 CNUR 一 V) 又は12.5
下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階6 : 20 ℃
漏れ電流 段階3による。
静電容量 段階3による。
損失角の正接 (tan 段階3による。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 29] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群3.5A D 表A.1による。
4.14 サージ
サイクル数 : 1 000回
試験温度 : ... ℃ d)
印加電圧 : 1.3 UR
及び/又は1.3 UC
保護抵抗 : 1 000 Ω±100 Ω
充電時間 : 30 s
放電時間 : 5 min 30 s
4.14.0A 初期測定 行わない(群3での測定値
を用いる。)。
4.14.2 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 群3の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
群3.5B D 表A.1による。
4.16 逆電圧e) 試験時間 : 逆極性に125
h,... V d) をカテゴリ上
限温度で,引き続いて正
極に125 hカテゴリ電圧
をカテゴリ上限温度で
印加する。
4.16.1 初期測定 行わない(群3での測定値
を用いる。)。
4.16.3 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 群3の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値に対して1.15倍以下
注記 対応国際規格では,D : 破壊試験,ND : 非破壊試験の区分の欄が表B.1にはなく,試験条件の欄に区分を記
載しているが,その他の品種別通則と整合させ,見やすくなるように追加した。
注a) 箇条4による。
b) : 試料数,c : 合格判定数(許容不適合数),D : 破壊試験,ND : 非破壊試験
c) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。
d) 個別規格の規定による。
e) 個別規格に規定がある場合に適用する。
JIS C 5101-3:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-3:2006(IDT)
JIS C 5101-3:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-3:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式