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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表A.1−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)−評価水準EZ
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
群 細分箇条番号及び試験項目a)
n d) c c
(群ごと)(合計)
0 4.19 大電流サージc)
4.4 外観
4.4 寸法
4.5.1 漏れ電流
124 0
4.5.2 静電容量
4.5.3 損失角の正接 (tan δ)
4.5.4 インピーダンスc)
4.5.5 等価直列抵抗 (ESR) )
予備試料 12
1A 4.6 はんだ耐熱性
12 0
4.17 部品の耐溶剤性c)
0
1B 4.7 はんだ付け性
12 0
4.18 表示の耐溶剤性c)
2 4.9 耐プリント板曲げ性e) 12 0 0
3 4.3 取付けb)
4.4 外観
4.5.1 漏れ電流
4.5.2 静電容量 88 0
4.5.3 損失角の正接 (tan
4.5.4 インピーダンスc)
4.5.5 等価直列抵抗 (ESR) )
3.1 4.8 固着性 0
4.10 温度急変 20 0
4.11 一連耐候性(形状1に適用)
3.2 4.12 高温高湿(定常)(形状1に適用) 20 0
3.3 4.15 耐久性 20 0
3.4 4.13 高温及び低温特性 12 0
3.5A 4.14 サージ 8 0
3.5B 4.16 逆電圧c) 8 0
注記 対応国際規格では,予備試料が16個に規定されていたが,明らかな誤記のため,12個に変更した。
注a) 箇条4による。
b) 取付け後,不適合品として見つかった試料は,続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな
い。その不適合品は,予備品と置き換える。
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 公称静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.1を参照する。
e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 21] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
A.2 ロットごとの検査
評価水準EZのロットごとの検査を,表A.2に示す。
表A.2−ロットごとの検査−評価水準EZ
検査 検査水準 試料数 合格判定数
細分箇条番号及び試験項目a)
副群 IL n c
A0 4.19 大電流サージe)
4.5.1 漏れ電流
4.5.2 静電容量
100 % b)
4.5.3 損失角の正接 (tan
4.5.4 インピーダンスe)
4.5.5 等価直列抵抗 (ESR) )
A1 4.4 外観 d)
S-3 0
4.4 寸法c)
B1 4.7 はんだ付け性 d)
S-3 0
4.18 表示の耐溶剤性e)
注a) 箇条4による。
b) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
c) 寸法検査は,部品製造業者が寸法測定又は許容限度を超えない構造でSPCを導入している場合,工程内検査
データで代用してもよい。
d) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準 (IL) とロットサイズ
とで割り当てるサンプル文字に従い,付表2-A[なみ検査の1回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に対
応する試料数とする。
e) 個別規格に規定がある場合に適用する。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 22] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
A.3 定期的な検査
評価水準EZの定期的な検査を,表A.3に示す。
表A.3−定期的な検査−評価水準EZ
検査 検査周期 試料数 合格判定数
細分箇条番号及び試験項目a)
副群 (月) n c
C1 4.6 はんだ耐熱性
3 12 0
4.17 部品の耐溶剤性d)
C2 4.9 耐プリント板曲げ性e) 3 12 0
C3 4.3 取付けc)
4.4 外観
4.5.1 漏れ電流
4.5.2 静電容量 3 78 b) 0
4.5.3 損失角の正接 (tan
4.5.4 インピーダンスd)
4.5.5 等価直列抵抗 (ESR) )
C3.1 4.8 固着性
4.10 温度急変 6 18 0
4.11 一連耐候性(形状1に適用)
C3.2 4.12 高温高湿(定常)(形状1に適用) 6 9 0
C3.3 4.15 耐久性 3 24 0
C3.4 4.13 高温及び低温特性 6 15 0
C3.5A 4.14 サージ 12 6 0
C3.5B 4.16 逆電圧d) 12 6 0
注a) 箇条4による。
b) これらの測定値は,各副群試験の初期値とする。
c) 取付け後,不適合品として見つかった試料は,続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな
い。その不適合品は,予備品と置き換える。
d) 個別規格に規定がある場合に適用する。
e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 23] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
附属書B
(規定)
評価水準EZの試験計画
この附属書は,3.4.2に規定する品質認証試験計画について規定する。
B.1 品質認証計画
評価水準EZの品質認証計画(試験項目,試験条件,試料数及び合格判定数並びに要求性能)を,表B.1
に示す。
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群0 ND 表A.1による。
4.19 大電流サージe)
4.4 外観 4.4.2による。
表示は,明りょうとし,個別規格
の規定による。
4.4 寸法(詳細) 個別規格の規定(表1)による。
4.5.1 漏れ電流 圀
保護抵抗器 : 1 000 0.02 CNUR 一 V) 又は1
のうちいずれか大きい値以下
4.5.2 静電容量 周波数 : ... Hz d) 規定の許容差以内
バイアス : ... V d), e) 個別規格の規定による。
4.5.3 損失角の正接 周波数 : ... Hz d) 等級1≦0.08
(tan δ) バイアス : ... V d), e) 等級2≦0.12
等級3≦0.24
4.5.4 インピーダンスe) 周波数 : 100 kHz 個別規格の規定による。
4.5.5 等価直列抵抗 周波数 : 100 kHz 個別規格の規定による。
(ESR) )
――――― [JIS C 5101-3 pdf 24] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ(続き)
D
細分箇条番号 試料数 (n) 及び
又は 試験条件a) 要求性能a)
及び試験項目a) 合格判定数 (c) )
ND b)
群1A D 表A.1による。
4.6.1 初期測定 静電容量
損失角の正接 (tan
4.6 はんだ耐熱性
方法 : ... d) 個別規格の規定による。
4.17 部品の耐溶剤性e) 溶剤 : ... d)
溶剤の温度 : ... d)
方法2
後処理時間 : ... d)
4.6.3 最終測定 外観 4.6.3による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
群1B D 表A.1による。
4.7 はんだ付け性
温度 : ... d)
時間 : ... d)
4.18 表示の耐溶剤性e) 溶剤 : ... d) 表示は,明りょうとする。
溶剤の温度 : ... d)
方法1
ラビング材料 : 綿毛
後処理時間 : ... d)
4.7.2 最終測定 外観 4.7.2による。
群2 D 表A.1による。
4.9 耐プリント板曲げ 静電容量 個別規格の規定による。
性c) (プリント板を曲げた状
態)
曲げ深さD : ... mm d)
曲げ回数 : ... d)
4.9.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 25] ―――――
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JIS C 5101-3:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-3:2006(IDT)
JIS C 5101-3:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-3:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式