JIS C 5101-3:2010 電子機器用固定コンデンサ―第３部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ | ページ 4

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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
4.6.2  試験条件
  個別規格には,適用する試験方法及び試験条件を規定する。
a) はんだ槽法の場合 はんだ槽への浸せき方法並びにはんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定
    する。
b) リフロー炉法の場合 リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。
4.6.3  最終測定及び要求性能
  試験後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求性能を満足する。
  コンデンサを,適切な照明の下で,倍率約10倍の拡大鏡を用いて観察し,クラックなどの損傷がない。
  静電容量及び損失角の正接 (tan δ) は,個別規格の要求性能を満足する。

4.7 はんだ付け性

  はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。
4.7.1  試験条件
  個別規格には,適用する試験方法及び試験条件を規定する。
a) はんだ槽法の場合 はんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定する。
b) リフロー炉法の場合 リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。
4.7.2  最終測定及び要求性能
  コンデンサを,適切な照明の下で,倍率約10倍の拡大鏡を用いて観察し,破損のこん(痕)跡がない。
  個別規格で検査を規定した端子の表面部分は,新しいはんだで覆われていて,わずかに点在する部分以
外に,ピンホール若しくはぬれなし又は,はんだはじきがない。鉛入りはんだ合金の場合,はんだの表面
は滑らか,かつ,輝いている。
    注記 対応国際規格は“滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と記述しているが,鉛フリーは
          んだでは,はんだ表面に光沢がないため,“新しいはんだで覆われていて”とした。

4.8 固着性

  固着性は,JIS C 5101-1の4.34(固着性)による。
4.8.1  初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.8.2  最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.9 耐プリント板曲げ性

  個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。
  耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1の4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,次による。
4.9.1  初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.9.2  試験条件
  個別規格には,たわみ量及び曲げ回数を規定する。
4.9.3  最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.10 温度急変

  温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,次による。

――――― [JIS C 5101-3 pdf 16] ―――――

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4.10.1 初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.10.2 試験条件
  コンデンサをJIS C 0025の2.(試験Na : 温度急変)に基づき5回行う。
  各温度にさら(曝)す時間は,30分間とする。後処理時間は,1時間2時間とする。
4.10.3 最終測定及び要求性能
  後処理後,コンデンサの電気的性能を測定し,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.11 一連耐候性(形状1のコンデンサだけに適用)

  一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.11.1 初期測定
  初期測定は,行わない。
4.11.2 高温
  高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.11.3 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
  温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最
初のサイクル]による。
4.11.4 低温
  低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)による。
4.11.5 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
  温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残
りのサイクル]による。
4.11.5.1 後処理
  後処理時間は,1時間2時間とする。
4.11.6 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.12 高温高湿(定常)(形状1のコンデンサだけに適用)

  高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によって取り付ける。
4.12.1 初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.12.2 試験条件
  電圧は,印加しない。
4.12.3 最終測定及び要求性能
  1時間2時間の後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定
する要求性能を満足する。

4.13 高温及び低温特性

  高温及び低温特性は,JIS C 5101-1の4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によって取り付ける。
4.13.1 測定及び要求性能
  コンデンサは,電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

――――― [JIS C 5101-3 pdf 17] ―――――

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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)

4.14 サージ

  サージは,JIS C 5101-1の4.26(サージ)によるほか,次による。
4.14.0A 初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
    注記 対応国際規格IEC 60384-3の4.14に初期測定の規定が明らかに抜けているため,この細分箇条
          を追加した。
4.14.1 試験条件
  コンデンサは,次の充電に続く5分30秒間の放電のサイクルを,1 000回行う。
  充電は,サージ電圧に等しい電圧を電源の内部抵抗を含めた総抵抗値が1 000  圀   100   地         抗器を
通して30秒間印加する。
  試験は,表2の試験温度で行う。
                                         表2−試験温度
                     カテゴリ上限温度                 試験温度
                          85 ℃        カテゴリ上限温度
                                       試料の半数は,85 ℃,
                         125 ℃
                                       残りの試料の半数は,カテゴリ上限温度
  サージ試験は,コンデンサに30秒間の充電後,約1 000     地     抗器を通して放電することを1サイクル
とする。
  試験は,サイクルの放電段階で終わる。
4.14.2 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.15 耐久性

  耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によって取り付ける。
4.15.1 初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.15.2 試験条件
  試験時間 : 2 000時間
  試験温度 : カテゴリ上限温度
  印加電圧 : 個別規格に規定がない場合は,カテゴリ電圧とする。
    注記 カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合,試料を2分割し,定格温度で定格電圧を,カテゴリ上
          限温度でカテゴリ電圧をそれぞれ印加する。
  試験電圧は,印加電圧を緩やかに上昇する又はコンデンサを5分間以下で放電できる抵抗器を通して,
徐々に(2分間以上かつ5分間以下。)印加する。それぞれのコンデンサからみた電源インピーダンスは,
3 坎   下とする。
  コンデンサが短絡した場合は,1 A以上の電流を供給できる能力がある電池又は電源を用いる。
4.15.3 最終測定及び要求性能
  1時間2時間の後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定

――――― [JIS C 5101-3 pdf 18] ―――――

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する要求性能を満足する。

4.16 逆電圧(個別規格に規定がある場合)

4.16.1 初期測定
  初期測定は,行わない(群3での測定値を用いる。)。
4.16.2 試験条件
  コンデンサは,a) の試験を行い,続いてb) の試験を行う。
a) 試験温度 : カテゴリ上限温度
    印加電圧 : 個別規格に規定がない場合は,3 V(直流)又は定格電圧の0.1倍のうちいずれか小さい値
              を極性と逆方向に印加する。
    時間    : 125 h
b) 試験温度 : カテゴリ上限温度
    印加電圧 : カテゴリ電圧を正極性の方向に印加する。
    時間    : 125 h
4.16.3 最終測定及び要求性能
  後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満
足する。

4.17 部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

  部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.18 表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

  表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。

4.19 大電流サージ(個別規格に規定がある場合)

  大電流サージは,JIS C 5101-1の4.39(大電流サージ)によるほか,次による。
4.19.1 初期測定
  初期測定は,行わない。
4.19.2 最終測定及び要求性能
  最終測定及び要求性能は,群0又は個別規格の群Aの大電流サージ後に行う試験の要求性能を満足する。

――――― [JIS C 5101-3 pdf 19] ―――――

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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
                                          附属書A
                                         (規定)
                                評価水準EZの抜取計画
  この附属書は,3.4.1に規定する品質認証試験の定数抜取計画及び合格判定数について規定する。
A.1 品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)
  評価水準EZの品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)を,表A.1に示す。

――――― [JIS C 5101-3 pdf 20] ―――――

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