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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
2 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1の8.(部品耐候性カテゴリー)によ
って分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 : −55 ℃
カテゴリ上限温度 : +85 ℃及び+125 ℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 形状1 : 21日及び56日
形状2 : (検討中)
注記 高温高湿(定常)の試験条件は,温度40 ℃,相対湿度90 %95 %である。
低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2 推奨定格値
2.2.1 公称静電容量 (CN)
公称静電容量は,JIS C 5063に規定するE6の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7及び6.8)及びそれら
の10n倍(×10n,nは整数)から選定する。
2.2.2 公称静電容量許容差
公称静電容量許容差は,±10 %及び±20 %とする。
2.2.3 定格電圧 (UR)
定格電圧は,JIS Z 8601に規定するR5の標準数列(1.0,1.6,2.5,4.0及び6.3)及びそれらの10n倍(×
10n,nは整数)から選定することが望ましい。その他の数値が必要な場合は,R10の標準数列及びR20の
標準数列から選定してもよい。
注記 R5の標準数列のもの : 2.5 V,4.0 V,6.3 V,10 V,16 V,25 V,40 V,63 V及び100 V
R10の標準数列のもの : 20 V及び50 V
R20の標準数列のもの : 35 V
2.2.4 カテゴリ電圧 (UC)
カテゴリ上限温度が125 ℃のコンデンサのカテゴリ電圧は,表1による。
表1−カテゴリ電圧
UR V 2.5 4 6.3 10 16 20 25 35 40 50 63 100
UC V 1.6 2.5 4 6.3 10 13 16 22 25 32 40 63
注記 対応国際規格に明らかな記載漏れがあるため,定格電圧 (UR) 20 V,35 V及び50 V,並びにそ
れらに対するカテゴリ電圧 (UC) 13 V,22 V及び32 Vを追加した。
2.2.5 サージ電圧
サージ電圧は,定格電圧の1.3倍又はカテゴリ電圧の1.3倍に最も近い値(有効数字2けた)に丸めた電
圧とする。
2.2.6 定格温度
定格温度は,個別規格に規定がない場合には,85 ℃とする。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 11] ―――――
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
2.2.7 等級1,等級2及び等級3の特性(損失角の正接)への要求性能
個別規格には,損失角の正接 (tan ‰湧Y 騰 いることが望ましい。
等級1 : ≦0.08
等級2 : ≦0.12
等級3 : ≦0.24
注記 タンタル粉末の種類,定格電圧及び外形寸法によって,要求性能が異なる。外形寸法記号,公
称静電容量値及び定格電圧の等級ごとの代表的な組合せ例を,次に示す。
外形寸法記号a) 3216-18で,定格電圧6.3 Vで, 等級ごとのタンタル粉末
等級 定格電圧6.3 Vに対応する 公称静電容量10 ( 一最
公称静電容量値 に対応する外形寸法記号a)
等級1 15 3216-18 <30 000
等級2 33 2012-12 <70 000
等級3 68 1608-09 <1 000 000
注a) 外形寸法記号は,3方向を“LW-H”で表す。
ここに, L : 0.1 mm単位で表す長さ寸法の公称値
W : 0.1 mm単位で表す幅寸法の公称値
H : 0.1 mm単位で表す高さ寸法の最大値
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,酸化皮膜の化成工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ製造工程及び材
料で製造した範囲のコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット
成績証明書)によって,出荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要
求する性能値は,静電容量値の変化,損失角の正接 (tan δ) 及び漏れ電流とする。
3.4 品質認証試験
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。
ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.1
及び3.4.2による。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
品質保証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb) による。試料は,認証
を得ようとするコンデンサのすべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲であっても,又は
その一部でもよい。
抜取試料は,定格電圧が最低及び最高のもので,それぞれの電圧における外形寸法の最小及び最大のも
のによる4組合せを選定する。
なお,外形寸法が5種類以上ある場合は,それぞれの電圧における中間の外形寸法のものによる2組合
せを加えた6組合せとする。これらの外形寸法と定格電圧とによるそれぞれの組合せにおいて,二つ以上
の公称静電容量のものがある場合には,最大の公称静電容量を選定する。したがって,範囲認証の場合,
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
試験は,4組合せ又は6組合せの試料を用いて行う。認証範囲の試料を4組合せ未満で構成する場合には,
試料数は,4組合せの場合と同数とする。
予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置き換え用として,1組合せごとに2個(6
組合せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
群0に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな
い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
表A.1に,品質認証試験の場合の各群及び各副群の試料数並びに合格判定数を示す。
3.4.2 試験
表A.1及び附属書Bに規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要
な試験であり,各群の試験は,記載の順に従って行う。
すべての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。群0で発生した不適合品は,その他
の群に用いない。
不適合品数が0の場合,品質認証は合格とする。
注記1 表A.1及び表B.1は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。附属書Aは,
各試験及び各試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,附属書B
は,箇条4の試験の詳細を規定しており,また,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示す
とともに個別規格に選定する試験方法,試験条件などを規定している。
注記2 定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する
品質確認検査と同じであることが望ましい。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
この検査は,表A.2に規定する評価水準EZの試験計画によって,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件で,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
2a) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ
を代表とし,次の事項を考慮する。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) EC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は,1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき,製造業者
は,国内監督検査機関の承認が必要となる。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,表A.3に規定する評価水準EZの試験計画によって,定期的に行う。
試料は,規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし,かつ,外形寸法を小,中及び大に分類
したものの中から選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,外形寸法の小,中及び大の寸
法群ごとに一つの定格電圧の試料を試験する。
その後の期間では,製造のすべての範囲を対象とするために,その他の外形寸法及び/又は定格電圧の
試料を試験する。
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C 5101-3 : 2010 (IEC 60384-3 : 2006)
3.5.2 品質確認検査の試験計画
ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,JIS C 5101-3-1の表7(品質確認検査の試験計画−評
価水準EZ)に規定する。
注記 この細分箇条は,対応国際規格では,“品質認証試験計画は,附属書Bによる。”と記述されて
いるが,ここでは品質確認検査の試験計画を規定すべきであり,明らかな誤記として修正した。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)の規定によって,はんだ付け性,静電容量及び漏れ電流につ
いて群A及び群Bの再検査を行う。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表A.2及び表A.3に規定する評価水準EZを用いることが望
ましい。
4 試験及び測定手順
注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。
4.1 予備乾燥
形状2のコンデンサで個別規格に規定がある場合は,JIS C 5101-1の4.3(乾燥)の規定によって乾燥を
行う。
4.2 測定条件
形状2のコンデンサは,相対湿度25 %75 %の下で測定する。
4.3 取付け
取付けは,JIS C 5101-1の4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)]による。
4.3.1 取付条件
はんだ付け方法は,個別規格に規定する。
4.3.2 最終測定及び要求性能
コンデンサは,外観検査及び規定の測定を行い,附属書Bに規定する要求性能を満足する。
4.4 外観及び寸法
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。
4.4.1 外観
外観は,倍率約10倍の拡大鏡並びに供試品及び要求する品質水準に適切な照明を用いて検査する。
注記 作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
4.4.2 要求性能
コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規
定する要求性能を満足することを証明するために検査する。
4.5 電気的性能
4.5.1 漏れ電流
漏れ電流は,JIS C 5101-1の4.9(漏れ電流)によるほか,次による。
4.5.1.1 測定条件
コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。
保護抵抗器は,1 000 地
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4.5.1.2 要求性能
漏れ電流は,20 ℃で0.02 CNUR 一 V) 又は1 下とする。
4.5.2 静電容量
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,次による。
4.5.2.1 測定条件
静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって100 Hz又は120 Hzとする。実際のコンデンサ端子
間に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。
測定の間,直流バイアス電圧は印加してもよい。
注記 過電圧又は逆電圧の印加によって測定値に疑義が生じないように,0.7 V1.0 Vの範囲の直流
バイアス電圧を印加してもよい。
測定器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。
4.5.2.2 要求性能
静電容量は,公称値及びその許容差の範囲とする。
4.5.3 損失角の正接 (tan δ)
損失角の正接 (tan δ) は,JIS C 5101-1の4.8.1[誘電正接(損失角の正接)]によるほか,次による。
4.5.3.1 測定条件
測定は,4.5.2の条件で行う。測定器の確度は,絶対値で0.01以下とする。
4.5.3.2 要求性能
損失角の正接 (tan δ)(20 ℃の値)は,個別規格の規定値以下とする。
4.5.4 インピーダンス(個別規格に規定がある場合)
インピーダンスは,JIS C 5101-1の4.10(インピーダンス)によるほか,次による。
4.5.4.1 測定条件
周囲温度は,20 ℃±2 ℃とする。測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。測定周波数は,100 kHz
とする。
測定器の確度は,インピーダンスの規定値の±10 %以下とする。
4.5.4.2 要求性能
インピーダンスは,個別規格の要求性能を満足する。
4.5.5 等価直列抵抗 (ESR)(個別規格に規定がある場合)
等価直列抵抗 (ESR) は,JIS C 5101-1の4.8.2[等価直列抵抗 (ESR)]によるほか,次による。
4.5.5.1 測定条件
周囲温度は,20 ℃±2 ℃とする。測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。
測定中,0.7 V1.0 Vの直流バイアス電圧を印加してもよい。測定周波数は,100 kHzとする。
測定器の確度は,等価直列抵抗 (ESR) の規定値の±10 %以下とする。
4.5.5.2 要求性能
等価直列抵抗 (ESR) は,個別規格の要求性能を満足する。
4.6 はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。
4.6.1 初期測定
静電容量を,4.5.2によって測定する。また,損失角の正接 (tan δ) を4.5.3によって測定する。
――――― [JIS C 5101-3 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-3:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-3:2006(IDT)
JIS C 5101-3:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-3:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式