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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表6−品質認証試験計画(続き)
試験a) 試験条件 D b) 又 n b) c b) 要求性能a)
はND b)
群8
4.24 高温高湿(定常) 取付け : 2.4.2による。 D 20 0
温度 : 40 ℃±2 ℃
湿度 : (93±3)%
試験時間 : ···時間
外観 4.24.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
群9
4.18 はんだ耐熱性h) 2.3.3による。 D 20 0
260 ℃で10秒間
外観 4.18.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.35 耐炎性 ニードルフレーム試験 (サン
接炎時間ta : 10秒間 プル中 許容燃焼時間 : <30秒間
5個)
群10
4.4.3 寸法(詳細) D 20 0 個別規格の規定による。
4.25.3 カテゴリ上限温 取付け : 2.4.2によるか又は取付け
度での耐久性 しない。
試験時間 : 1 000時間
外観 4.25.3.7による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.14 温度上昇 取付け : 2.4.2による。 (サン
(0 Ωジャンパー及び臨界 プル中 個別規格の規定による。
抵抗値以下の抵抗器に適 6個)
用する。)
群11
4.38 静電気放電 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D 20 0
しない。
水準Gに分類する抵抗器 : 正極性
1回及び負極性1回
水準Pに分類する抵抗器 : 正極性
3回及び負極性3回
形式 印加電圧
··· ···
··· ···
外観 4.38.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.29 部品の耐溶剤性 溶剤 : イソプロピルアルコール (半分
(個別規格に規定がある 温度 : ··· ℃ の
場合) 処理時間 : 5分間±0.5分間 試料)
外観 4.4.1による。
4.30 表示の耐溶剤性 溶剤 : イソプロピルアルコール (残り
(個別規格に規定がある 温度 : ··· ℃ の半
場合) 処理時間 : 5分間±0.5分間 分の
ラビング材質 : 脱脂綿 試料)
外観 4.4.1による。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 21] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表6−品質認証試験計画(続き)
試験a) 試験条件 D b) 又 n b) c b) 要求性能a)
はND b)
群12
4.22 振動 取付け : 2.4.2による。 D 20 0
(水準Pに分類する抵抗 掃引による耐久性
器に適用する。) 試料が共振しないような取付け
周波数範囲 : ···
振幅 : ···
外観 4.22.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.39 断続過負荷試験 取付け : 2.4.2による。
(水準Pに分類する抵抗 2.3.5による。
器に適用する。) 電圧 : 定格電圧の2.5倍又は最高素
子電圧の2倍のいずれか小さい方
0.1秒間ON/2.5秒間OFF
1 000サイクル
外観 4.4.1による。
抵抗値 個別規格の規定による。
群13
4.19 温度急変 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D 20 0
≧100サイクル しない。
(水準Pに分類する抵抗 TA=カテゴリ下限温度
器に適用する。) TB=カテゴリ上限温度
形式 サイクル
··· ···
··· ···
外観 4.19.3による。
抵抗値 個別規格の規定による。
群14
4.27 単パルス高電圧過 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D 20 0
負荷試験 しない。
(水準Pに分類する抵抗 厳しさ :
器に適用する。) 外観 4.27.3.7による。
抵抗値 個別規格の規定による。
注a) IS C 5201-1による細分箇条番号
b) 略語の一覧については,附属書B参照
c) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。検査ロッ
トの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検査する。抜取水準は,
JIS C 5005-2の附属書Aに従って,部品製造業者が設定することが望ましい。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水
準を算出するために全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する
方法によって,累積した検査データから算出する。
d) 製造業者が,管理限界を超える部品を取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕組みを
取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
e) この試験を受ける抵抗器は,群1,群2,群3,副群A1,副群A2又は副群B1の中で測定しないで,群1又は
群2の試料の数に含めない。
f) 試験は,関連する個別規格が鉛フリーはんだとの両立を明白に除外している場合は,適用しない。
g) 全ての副群の試験は,1個以上の不適合品があった場合に繰り返す。繰返し試験で,不適合品がないことを確認
する。繰返し試験中,製品の出荷は継続する。
h) この試験の条件は,2.3.3から関連する選択肢によって置き換えてもよい。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 22] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表7a−品質確認検査のための試験計画 : ロットごとの試験
試験a) 試験条件 D b) IL b) b) 要求性能a)
又は
ND b)
副群A1
4.5 抵抗値c) ND 100 %
(個別規格の 4.5.2による。
規定による。)
副群A2
4.4.1 外観検査d) ND
表示(個別規格に規定がある場合) S-4 0 4.4.1による。
4.4.2 寸法(ゲージ法)d) 適切なジグを用いる。 個別規格の規定による。
副群B1
4.7 耐電圧 ND
JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5 S-3 0
による。
電圧 : U=1.42Uins
時間 : 1分間 4.7.3による。
4.13 短時間過負荷 取付け : 2.4.2による, D
(水準Gに分類する抵抗器 又は取付けしない。
に適用する。) 2.3.1による。
電圧 : ···
形式 時間
··· ···
··· ···
外観 4.13.3による。
抵抗値 個別規格の規定による。
副群B2
4.17 はんだ付け性e) 2.3.2による。 D S-3 0
(SnPbはんだ) エージング : 155 ℃で4時間の乾燥
SnPbはんだ(はんだ槽法)
235 ℃で2秒間
外観 4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。
4.17 はんだ付け性e), f) 2.3.2による。 S-3
(鉛フリーはんだ) エージング : 155 ℃で4時間の乾燥
SnAgCuはんだ(はんだ槽法)
245 ℃で3秒間
外観 4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。
副群B3
4.8 温度による抵抗値変 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D S-3 0
化 しない。
(抵抗温度係数±50×10−6
測定順序 :
/Kより優れた抵抗器に適用20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
する。) 抵抗値 個別規格の規定による。
注記 表の注は,表6の最後に示す。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 23] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表7b−品質確認検査のための試験計画 : 定期試験
試験a) 試験条件 D b) b) b) c b) 要求性能a)
又は
ND b)
副群C1 g)
4.33 耐プリント板曲げ 取付け : 2.4.2による。 D 3 20 0 試験基板が曲げ状態にあ
性 曲げ深さ : ··· mm (半分 るとき,電気的導通があっ
回数 : ···回 の て,回路オープンがない。
外観 試料) 4.33.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.19 温度急変 取付け : 2.4.2による。 (残り
5サイクル の半
TA=カテゴリ下限温度 分の
TB=カテゴリ上限温度 試料)
外観 4.19.3による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.21 衝撃 加速度 : ···
(角形及び円筒形以外の パルス時間 : ···
抵抗器に適用する。) 波形 : 正弦半波
厳しさ : 3方向全てに各···回の衝
撃を与える。(合計···回の衝撃)
外観 4.21.5による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.22 振動 取付け : 2.4.2による。
(水準Pに分類する角形 掃引による耐久性
及び円筒形以外の抵抗器 試料が共振しないような取付け
に適用する。) 周波数範囲 : ···
振幅 : ···
外観 4.22.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.32 固着性 取付け : 2.4.2による。
(角形及び円筒形の抵抗 2.3.4による。
器に適用する。) 形式 加圧力
··· ···
··· ···
外観 4.32.3による。
4.23 一連耐候性 取付け : 2.4.2による。 (全部
− 高温 UCT : 16時間 の
− 温湿度サイクル(試験温度55 ℃で1サイクル 試料)
Db),最初のサイクル
− 低温 LCT : 2時間
− 減圧 ··· kPa,温度15 ℃35 ℃で1時
間
− 温湿度サイクル(試験温度55 ℃で残りのサイクル
Db),残りのサイクル
− 直流負荷 電圧 : 定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方,1分間
− 最終測定 外観 4.23.8による。
抵抗値 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 24] ―――――
23
C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表7b−品質確認検査のための試験計画 : 定期試験(続き)
試験a) 試験条件 D b) b) b) c b) 要求性能a)
又は
ND b)
副群C2 g)
4.25.1 70 ℃での耐久性 取付け : 2.4.2による。 D 3 20 0
電圧 : 定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方
1.5 時間ON/0.5 時間OFF
試験時間 : 1 000時間
外観 4.25.1.7による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.25.1.8延長試験 延長時間は,8 000時間 12
(水準Pに分類する抵抗 検査は,4 000時間(参考)
器に適用する。) 抵抗値 個別規格の規定による。
副群C3 g)
4.18 はんだ耐熱性h) 2.3.3による。 D 3 20 0
260 ℃で10秒間
外観 4.18.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.35 耐炎性 ニードルフレーム試験 36 (サン
接炎時間 : 10秒間 プル中
5個) 許容燃焼時間 : <30秒間
副群D1 g)
4.8 温度による抵抗値 D
取付け : 2.4.2による,又は取付け 12 20 0
変化 しない。
測定順序 :
20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
抵抗値 個別規格の規定による。
副群D2 g)
4.24 高温高湿(定常) 取付け : 2.4.2による。 D 12 20 0
温度 : 40 ℃±2 ℃
湿度 : (93±3)%
試験時間 : ···時間
外観 4.24.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
副群D3 g)
4.4.3 寸法(詳細) D 36 20 0 個別規格の規定による。
4.25.3 カテゴリ上限温 取付け : 2.4.2によるか又は取付け
度での耐久性 しない。
試験時間 : 1 000時間
外観 4.25.3.7による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.14 温度上昇 取付け : 2.4.2による。 (サン
(0 Ωジャンパー及び臨界 プル中
抵抗値以下の抵抗器に適 6個)
用する。) 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 25] ―――――
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JIS C 5201-8:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-8:2009(IDT)
JIS C 5201-8:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-8:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形