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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
2
25mm超
5mm超
はんだ付け領域
非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。)
注記 寸法は,表5による。
図6−機械的,環境的及び電気的試験用の基本的なレイアウト
3 品質評価手順
3.1 一般事項
JIS C 5201-1の附属書Q[IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順]による。
3.2 定義
3.2.1 製造の初期工程
抵抗器の製造の初期工程は,次による。
− 皮膜抵抗器 : 基板への抵抗皮膜の形成
− 巻線抵抗器 : 巻芯への抵抗線又は帯線(リボン)の巻付け
− 金属箔抵抗器 : 基板上への金属はく(箔)の接着
3.2.2 構造的に類似な部品
抵抗器の構造的に類似な部品は,次による。
a) 一つ又は幾つかの製造工場で生産している場合は,次による。
− 同じ原材料,製造方法及び品質検査手順を用いる。
− 特定の一つの製造工場が,他の工場での製造分も含めて,製品及び品質に責任をもつ。
多くの製造工場がある場合,製造業者は,主要製造工場及び内部管理責任者(DMR)を指定する。
b) 全ての製造工場が同一の国内監督検査機関(NSI)によって監督されている場合,その機関は,主要
製造工場のある国の国内監督検査機関(NSI)とすることが望ましい。
c) 安定性クラス及び耐候性カテゴリが同じ場合
d) 寸法だけが異なる場合
――――― [JIS C 5201-8 pdf 16] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
e) 同様の電極形式である場合
上記c),d)及びe)の場合には,安定性クラス及び/又は耐候性カテゴリの異なる要求を最終測定で別々
に判断するとき,c)だけにおいて異なる抵抗器は,構造的類似とみなす。
構造的に類似な抵抗器は,評価及び故障率の決定だけに用いる。
3.2.3 評価水準EZ
評価水準EZは,“ゼロデフェクト”の導入に関する要求を満足する。不適合品の許容数(合格判定数)
は,c=0によって規定する評価手順及び現状の製造業務の水準を合わせるために導入する。
したがって,ロットごとに試験するためのサンプルサイズは,JIS C 5005-2の表2(サンプル文字)によ
って決定する。
評価水準EZは,この規格の個別規格における抵抗器の品質評価に適用する。
3.3 検査ロットの構成
検査ロットは,同じ形式の抵抗器で構成する。
抵抗器のある範囲で認証を受ける場合には,抵抗値の内訳は,次に示す試料とする。
− 1/3は,抵抗器範囲の最低抵抗値
− 1/3は,臨界抵抗値
− 1/3は,抵抗器範囲の最高抵抗値
認証を受ける範囲は,個別規格によってカバーする全種類でもよい。臨界抵抗値が認証を受ける範囲外
の場合は,範囲の中央の値(最低抵抗値と最高抵抗値との等比平均値,例えば,1 Ω1 MΩの範囲では1 kΩ)
をもつ抵抗器を代替に用いる。
一つ以上の抵抗温度係数で認証を受ける場合には,供試品は,異なった温度係数を代表している供試品
を含まなければならない。一般に,低い温度係数は,高い温度係数も代表すると考える。同じように,認
証を受ける最も狭い許容差をもつ異なった抵抗値の供試品を含まなければならない。異なった特性をもっ
ている供試品の割合は,国内監督検査機関(NSI)の承認が必要である。
定期検査が必要な場合には,検査ロットは,期間中に生産した抵抗範囲の極端なもので代表するのが望
ましい。その期間に製造し,同じ公称寸法にもかかわらず,異なった抵抗温度特性をもつ形式は,抵抗温
度特性のための試験を含む副群の場合を除き,集めてもよい。
品質認証で認めた高低の極端な値,又は抵抗値範囲の臨界抵抗値及び抵抗温度特性は,国内監督検査機
関(NSI)によって認証期間中に検査する。
低い値は,現在の最低認証抵抗値(又は認証範囲の中で最も低い値)の100 %200 %とする。
臨界値は,計算値の80 %100 %とする。
高い値は,現在の最高認証抵抗値(又は認証範囲の中で最も高い値)の70 %100 %とする。
供試品は,検査期間の最後の13週にわたって集める。
3.4 品質認証試験
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
品質認証試験手順は,JIS C 5201-1のQ.5(品質認証手順)による。定数抜取手順は,JIS C 5201-1の
Q.5.3(品質認証用試験手順)b)による。
試料は,3.3による。必要となる全試料数は,表6の品質認証試験計画にある全ての試料数の合計である。
予備の供試品は,次の場合に用いる。
製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換えは,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度
特性ごとに1個とする。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 17] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を追加する。
水準G及び水準Pに分類する抵抗器の品質認証試験計画は,表6による。各群の試験は,記載の順に従
って実施する。
群4に必要となる全体の供試品は,群1及び群2の試験を行った後に,その他の群に分割する。群1又
は群2の試験での不適合品は,その他の群に用いない。
1個の抵抗器が一つの群の全て又は一部の項目で不適合になっても,1個の不適合品として数える。
不適合数が,各群又は各副群ごとに規定する合格判定数及び総合格判定数以下の場合に,認証は合格と
する。
注記 表6に定数抜取試験計画を示す。これは,各試験群の抜取方法及び許容不適合数の個別規格を
含み,JIS C 5201-1の箇条4(試験及び測定手順)及びこの規格の箇条2に規定する個々の試験
とともに,試験条件の全体及び要求性能を示す。
試験が特定の形式だけに,又は特定の製品分類水準だけに適切である場合は,その箇所を表
6に示す。それぞれの個別規格は,適切な選択をしなければならない。
さらに,表6には,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選
択内容を示す。
定数抜取試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に規定
する内容と同一とする。
3.4.2 ロットごとの試験及び定期試験による品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1のQ.5による。ロットごとの試験及び定期試験の手順は,JIS C
5201-1のQ.5.3 b)による。
ロットごとの試験及び定期試験による品質認証に用いる計画は,3.5による。
3.5 品質確認検査
水準G及び水準Pに分類する抵抗器の品質確認検査のためのロットごとの試験及び定期試験の計画は,
表7a及び表7bによる。
取り付けた供試品で,取付け後に不適合が見つかった供試品は,一連の試験での許容不適合数を計算す
る場合には,数えない。それらは,予備の供試品と取り替える。
3.6 技術認証手順
JIS C 5201-1のQ.14(技術認証手順)を適用する。
表6,表7a及び表7bの試験計画を用いる。
3.7 長期保管後の出荷
検査水準をS-2に低減する場合を除いて,JIS C 5201-1のQ.10(長期保管後の出荷)を適用する。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 18] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表6−品質認証試験計画
試験a) 試験条件 D b) 又 n b) c b) 要求性能a)
はND b)
群1
4.5 抵抗値 ND ··· 0 4.5.2による。
群2
4.4.1 外観検査 表示(個別規格に規定がある場合)ND ··· 0 4.4.1による。
4.4.2 寸法(ゲージ法) 適切なジグを用いる。 (試料 個別規格の規定による。
中の
20個)
群3
4.6 絶縁抵抗 JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5ND 50 0 R≧··· GΩ
による。
4.7 耐電圧 JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5 4.7.3による。
による。
電圧 : U=1.42Uins
時間 : 1分間
4.13 短時間過負荷 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D (試料
(水準Gに分類する抵抗 しない。 中の
器に適用する。) 2.3.1による。 20個)
電圧 : ···
形式 時間
··· ···
··· ···
外観 4.13.3による。
抵抗値 個別規格の規定による。
群4
4.17 はんだ付け性e) 2.3.2による。 D 40 0
(SnPbはんだ) エージング : 155 ℃で4時間の乾燥 (半分
SnPbはんだ(はんだ槽法)で235 ℃ の
で2秒間 試料)
外観 4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。
4.17 はんだ付け性e), f)2.3.2による。 (残り
(鉛フリーはんだ) エージング : 155 ℃で4時間の乾燥 の半
SnAgCuはんだ(はんだ槽法)で 分の
245 ℃で3秒間 試料)
外観 4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。
群5
4.8 温度による抵抗値 取付け : 2.4.2によるか又は取付け D 20 0
変化 しない。
測定順序 :
20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
抵抗値 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 19] ―――――
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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
表6−品質認証試験計画(続き)
試験a) 試験条件 D b) 又 n b) c b) 要求性能a)
はND b)
群6
4.33 耐プリント板曲げ 取付け : 2.4.2による。 D 20 0 試験基板が曲げ状態にある
性 曲げ深さ : ··· mm (半分 とき,電気的接続があり,
回数 の 回路オープンがない。
外観 試料) 4.33.4による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.19 温度急変 取付け : 2.4.2による。 (残り
5サイクル の半
TA=カテゴリ下限温度 分の
TB=カテゴリ上限温度 試料)
外観 4.19.3による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.21 衝撃 加速
(角形及び円筒形以外の パルス時間
抵抗器に適用する。) 波形 : 正弦半波
厳しさ : 3方向全てに衝撃を与える。
外観 4.21.5による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.32 固着性 取付け : 2.4.2による。
(角形及び円筒形の抵抗 2.3.4による。
器に適用する。) 形式 加圧力
··· ···
··· ···
外観 4.32.3による。
4.23 一連耐候性 取付け : 2.4.2による。 (全部
− 高温 UCT : 16時間 の
− 温湿度サイクル(試験温度55 ℃で1サイクル 試料)
Db),最初のサイクル
− 低温 LCT : 2時間
− 減圧 ··· kPa,温度15 ℃35 ℃で1時間
− 温湿度サイクル(試験温度55 ℃で残りのサイクル
Db),残りのサイクル
− 直流負荷 電圧 : 定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方,1分間
− 最終測定 外観 4.23.8による。
抵抗値 個別規格の規定による。
群7
4.25.1 70 ℃での耐久性 取付け : 2.4.2による。 D 20 0
電圧 : 定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方
1.5時間ON/0.5時間OFF
試験時間 : 1 000時間
外観 4.25.1.7による。
抵抗値 個別規格の規定による。
4.25.1.8延長試験 延長時間は8 000時間
(水準Pに分類する抵抗 検査は4 000時間(参考)
器に適用する。) 抵抗値 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5201-8 pdf 20] ―――――
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JIS C 5201-8:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-8:2009(IDT)
JIS C 5201-8:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-8:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形