この規格ページの目次
3
C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 1 形式及び外形寸法(続き)
1608×4 3.2±0.2 1.6±0.2 0.55±0.15 A 凸,凹
3216×4 5.08±0.2 3.1±0.2 0.55±0.15 A 凸,凹
3216 3.2±0.2 1.6±0.2 0.5±0.15 B,C 凸
4021 4±0.2 2.1±0.2 0.6±0.15 D 凹
6431 6.4±0.2 3.1±0.2 0.6±0.15 B,C 凸,凹
注* 回路は附属書A,端子形状は附属書Bによる。
1.4.4 定格及び特性 定格及び特性は,次の事項を含め,この規格の関連する項目による。
1.4.4.1 定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は,この規格の2.2.1による。推奨値は,JIS C 5063のE
標準数列とする。
備考 IECQの場合,IECQの品質認証制度によって個別規格で認定された抵抗値範囲と,この規格
の抵抗値範囲が異なる場合には,次の記述を個別規格に追加する。
“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表(QPL)による。”
1.4.5 表示 個別規格には,抵抗器及び包装に表示する事項を規定する。
原則として抵抗器には表示をしない。ただし,表示をする場合には,JIS C 5201-1の2.4(表示)の定格
抵抗値と残りの事項とを明りょうに施す。
包装には,すべての事項を表示する。
なお,相違点があれば,個別規格でその内容を規定する。
2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2.1 推奨特性
個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 60068-1の附属書Aに規定する一般原
則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定
常)の試験時間は,次から選択する。
カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃,−25 ℃ 及び −10 ℃
カテゴリ上限温度 : +85 ℃,+100 ℃,+125 ℃ 及び +155 ℃
高温高湿(定常)の試験時間 : 4日,10日,21日及び56日
低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)の試験の厳しさは,それぞれのカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限
温度とする。ある種の抵抗器はその構造のため,これらの温度がJIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-2-2に
規定する二つの推奨温度と一致しないことがある。この場合には,その抵抗器の実際の温度範囲内に最も
近い推奨温度を,厳しさとして選択する。
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性 抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を,表2に示す。表
の各欄には,推奨温度係数20 ℃70 ℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度
範囲に基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の
限界を規定する。
表 2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
温度係数 温度特性 抵抗温度特性(抵抗値変化率の限界)%
20 ℃/70 ℃ 基準温度 ℃/カテゴリ下限温度 ℃ 基準温度 ℃/カテゴリ上限温度 ℃
10-6/K % +20/−55 +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85 +20/+100 +20/+125 +20/+155
±500 ±2.5 ±3.75 ±3 ±2.25 ±1.5 ±3.25 ±4 ±5.25 ±6.75
±250 ±1.25 ±1.88 ±1.5 ±1.13 ±0.75 ±1.62 ±2 ±2.62 ±3.38
――――― [JIS C 5201-9 pdf 6] ―――――
4
C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性(続き)
±100 ±0.5 ±0.75 ±0.6 ±0.45 ±0.3 ±0.65 ±0.8 ±1.05 ±1.35
±50 ±0.25 ±0.375 ±0.3 ±0.23 ±0.15 ±0.325 ±0.4 ±0.525 ±0.675
±25 ±0.125 ±0.188 ±0.15 ±0.113 ±0.075 ±0.162 ±0.2 ±0.262 ±0.338
±15 ±0.075 ±0.113 ±0.09 ±0.068 ±0.045 ±0.098 ±0.12 ±0.158 ±0.203
±10 ±0.05 ±0.075 ±0.06 ±0.045 ±0.03 ±0.065 ±0.08 ±0.105 ±0.135
備考1. カテゴリ上限温度が+85 ℃の抵抗器は,20 ℃70 ℃の測定は行わない。
2. 上表以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。
2.1.3 抵抗値変化の限界 各安定性クラスに対応する,各試験での抵抗値変化量の推奨限界値を,表3
に示す。
表 3 抵抗値変化の限界
安定性クラス 長期試験 短期試験
% 4.23 一連耐候性 4.13 過負荷
4.24 高温高湿(定常)4.18 はんだ耐熱性
4.25.1 70 ℃での耐久性 4.19 温度急変
4.25.3 カテゴリ上限温度4.32 固着性
での耐久性 4.33 耐プリント板曲げ
性
5 ±(5 %+0.1 Ω) ±(1 %+0.05 Ω)
3 ±(3 %+0.1 Ω) ±(0.5 %+0.05 Ω)
2 ±(2%+0.1 Ω) ±(0.5 %+0.05 Ω)
1 ±(1 %+0.05 Ω) ±(0.25 %+0.05 Ω)
0.5 ±(0.5 %+0.05 Ω) ±(0.1 %+0.01 Ω)
0.25 ±(0.25 %+0.05 Ω) ±(0.05 %+0.01 Ω)
0.1 ±(0.1 %+0.01 Ω) ±(0.02 %+0.01 Ω)
備考 表3の項目番号は,JIS C 5201-1による。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値) 定格抵抗値(公称抵抗値)は,JIS C 5201-1の2.2.7[定格抵抗値(公
称抵抗値)]による。
参考 JIS C 5201-1の2.2.7は,原国際規格IEC 60115-1:1999の2.2.6と同等である。
2.2.2 定格抵抗値の許容差 定格抵抗値の推奨許容差は,次による。
±5 %,±2 %,±1 %,±0.5 %,±0.25 %及び±0.1 %
2.2.3 定格電力(取り付けた状態) 定格電力70 ℃での推奨値は,次による。
ネットワーク定格電力 : 0.125 W,0.25 W及び0.5 W
素子定格電力 : 0.03 W,0.05 W,0.063 W,0.1 W及び0.125 W
個別規格には,抵抗器における各抵抗素子の定格電力及び抵抗器全体における最大許容電力の適切な値
を規定する。
70 ℃を超える温度での電力の軽減値は,図1の曲線による。
――――― [JIS C 5201-9 pdf 7] ―――――
5
C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
100
定
格
電
力比
推奨動作領域
%
0
カテゴリ下限温度 70 ℃ カテゴリ上限温度
図 1 定格電力の軽減曲線
上記の軽減曲線に示す推奨動作領域のすべてが含まれている場合には,個別規格により広い動作領域を
規定してもよい。この場合,個別規格には,70 ℃以外の温度での最大許容電力を規定する。ただし,曲線
上の折れ点(break points)は,試験によって確認しなければならない。
2.2.4 素子最高電圧 素子最高電圧の推奨値は,次による。
25 V,50 V,100 V及び200 V(直流又は交流の実効値)
2.2.5 絶縁抵抗(適用する場合) 絶縁抵抗は,高温(耐熱性)試験後で1 GΩ以上とする。
2.2.6 素子間の絶縁抵抗(適用する場合) 個別規格に規定がない場合,素子間の絶縁抵抗の下限値は,
100 MΩを推奨する。
2.2.7 実装面導体に対する絶縁電圧 連続動作状態で抵抗器の電極と実装面導体との間に印加すること
ができる最高電圧(直流又は交流の実効値)は,個別規格で規定する。
2.2.8 隣接する素子間の絶縁電圧 連続動作状態で,抵抗器の個別の抵抗素子と互いに接続されているす
べての個別抵抗素子との間に印加することができる最高電圧(直流又は交流の実効値)は,個別規格で規
定する。
2.3 推奨する試験の厳しさ 個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択する。
2.3.1 乾燥 乾燥は,JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順1による。
2.3.2 過負荷(取り付けた状態) 過負荷は,JIS C 5201-1の4.13(過負荷)及び次の条件による。
印加電圧 : 定格電圧の2.5倍又は素子最高電圧の2倍のいずれか小さい方
印加時間 : 直流の試験電圧を,抵抗器のそれぞれの素子に2秒間,各1回印加する。
基板材質 : 個別規格に規定するガラス布基材エポキシ樹脂
個々の抵抗器の間隔は,これらの抵抗器の最大寸法以上とする。個別規格には,そのほかの必要事項が
あれば規定する(2.2.3参照)。
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な抵抗器
構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様
な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器をいう。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1の3.4(品質認証手順)による。
ロットごとの品質確認検査及び定期的な試験に基づく品質認証試験の計画は,3.3に規定する。定数試料
数の試験計画を用いる手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
参考 JIS C 5201-1の3.4は,原国際規格IEC 60115-1:1999の3.5と同等である。
――――― [JIS C 5201-9 pdf 8] ―――――
6
C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証 定数抜取りの手順は,JIS C 5201-1の3.4.2 b) による。これらの
手順に従って,決められた抵抗値をもつ特定の抵抗器の認証を求める場合,試料数は表4の規定による。
抵抗器の定格抵抗値の範囲に対する品質認証を要求する場合,試料は認証を得ようとする定格抵抗値の
最高値及び最低値のもので構成する。臨界抵抗値が認証を受けようとする範囲の中にある場合には,その
試料も含める。それぞれの定格抵抗値の試料数を,表4に規定する。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受
ける場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様に,認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保
証責任者が提案する。IECQの場合は,国内監督検査機関(NSI)の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群0A及び群0Bで許容不適合品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度特
性ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数
又は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を群0A及び群0B
に追加する。
参考 JIS C 5201-1の3.4.2 b) は,原国際規格IEC 60015-1:1999の3.5.3 b) と同等である。
3.2.2 試験 個別規格に規定する抵抗器の認証のためには,表4に規定する一連の試験を必要とする。各
群の試験は,記載の順に行う。
すべての試料は,群0A及び群0Bの試験を行った後で他の群に分割する。
群0A及び群0Bの試験での不適合品は,他の群に用いてはならない。
1個の抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,“1個の不適合”として数える。
不適合品が,各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表4に,定数抜取りの試験計画を示す。これは各試験群ごとの抜取方法及び許容不適合数の個
別規格を含み,JIS C 5201-1の4.(試験及び測定方法)及びこの規格の2.に規定する個々の試
験とともに,試験条件の全体及び要求性能を示す。
表4には,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格で規定するための選択内容を
示す。
定数抜取試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格で規定
する内容と同一とする。
表 4 品質認証の定数抜取試験計画−評価水準EZ
参考 表中の要求性能欄の“%R”のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
合格判定個数
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
n c
群0A ND 165 0 4.4.1による。
4.4.1 外観
群0B ND 165 0
4.4.2 寸法(ゲージ法) 個別規格の規定による
4.5 抵抗値 4.5.2による。
――――― [JIS C 5201-9 pdf 9] ―――――
7
C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 4 品質認証の定数抜取試験計画−評価水準EZ(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
合格判定個数
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
n c
群1A D 20 0
4.18 はんだ耐熱性 外観 4.18.3による。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
4.29 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格を参照。
溶剤温度 : ...
方法2
後処理 : ...
群1B D 20 0
4.17 はんだ付け性 エージング(適用する場合) 4.17.4による。
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器 方法 : ... 4.7.3による。
だけに適用) 絶縁電圧 : ...V
隣接する素子間の耐 電圧 : ...V 4.7.3による。
電圧
4.31 取付け 基板材質及び間隔は,この規格
の2.3.2による。
4.6 絶縁抵抗(絶縁形抵抗 方法 : ... ≧100 MΩ
器だけに適用) 絶縁電圧 : ...V
4.13 過負荷(取り付けた状 定格電圧の2.5倍又は素子最高
態) 電圧の2倍のいずれか小さい
方。
印加時間 : 2 s
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
4.30 表示の耐溶剤性(適用 溶剤 : ... 表示は明りょうである。
する場合) 溶剤温度 : ...
方法1
ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ...
――――― [JIS C 5201-9 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS C 5201-9:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-9:2003(IDT)
JIS C 5201-9:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-9:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-9-1:2006
- 電子機器用固定抵抗器―第9-1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準EZ
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式