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C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 4 品質認証の定数抜取試験計画−評価水準EZ(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
合格判定個数
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
n c
群2 D 20 0
4.33 耐プリント板曲げ性 抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
4.33.6 最終測定 たわみ量 : ...
外観 外観の損傷がない。
群3 D 100 0
4.31 取付け 基板材質 : ...
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
群3.1 D 20 0
4.32 固着性 外観 外観の損傷がない。
4.19 温度急変 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
4.23 一連耐候性
−高温(耐熱性)
−温湿度サイクル(12
+12時間サイク
ル)最初のサイク
ル
−低温(耐寒性)
−温湿度サイクル(12
+12時間サイク
ル)残りのサイク
ル
−直流負荷
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
群3.2 D 20 0
4.24 高温高湿(定常) 成極の電圧[4.24.2.1 c) は適用
しない。
外観 外観の損傷がなく,表示が
明りょうである。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
――――― [JIS C 5201-9 pdf 11] ―――――
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C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 4 品質認証の定数抜取試験計画−評価水準EZ(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
合格判定個数
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
n c
群3.3 D 20 0
4.25.1 70 ℃での耐久性 取付間隔は,この規格の2.3.2
による。
試験時間 : 1 000 h
48 h,500 h及び1 000 hでの検
査:
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
群3.4 D 20 0
4.25.3 カテゴリ上限温度 取付間隔は,この規格の2.3.2
での耐久性 による。
試験時間 : 1 000 h
48 h,500 h及び1 000 hでの検
査:
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
群3.5 ND 20 0
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度/20 ℃ ΔR/R≦... %又は
α : ...10-6/K
20 ℃/カテゴリ上限温度 ΔR/R≦... %又は
α : ...10-6/K
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,この規格の表
2及び表3から適切に選択する。
2. この表で,
n = 試料数
c = 合格判定個数(群又は副群当たりの許容不適合数)
D = 破壊試験
ND = 非破壊試験
――――― [JIS C 5201-9 pdf 12] ―――――
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C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成 検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1参照)で構成する。こ
れは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形式は同一公
称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の試験を含む副
群用の試料は除く。IECQの場合は,認証された抵抗値範囲の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認
証された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関(NSI)によって承認された期間の間に検査する(備
考参照)。
群C及び群Dの試料は,検査対象期間の最後の13週にわたって集める。
備考 “下限”抵抗値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)
の0 %50 %の間とする。“上限”抵抗値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内で
製造された最高抵抗値)の−30 %0 %の間とする。“臨界”抵抗値は,計算値の−20 %0 %
の間とする。
3.3.2 試験計画 品質確認検査のためのロットごと及び定期的な試験計画は,JIS C 5201-9-1の2.(検査
の要求事項)の表2及び表3に示す。
3.3.3 評価水準 JIS C 5201-9-1に規定する評価水準は,次の表5及び表6に従う。
表 5 ロットごとの品質確認検査
評価水準
検査副群 (4) EZ
IL (1) n (1) c (1)
A0 100 % (2)
A1 S-4 (3) 0
B1 S-3 (3) 0
B2 S-3 (3) 0
B3 S-3 (3) 0
注(1) L=検査水準, n=試料数, c=合格判定個数
(2) 100 %検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,ppmで示す出荷品質水準を
監視するために,抜取りによる副群A0の検査をすべて行うことをいう。100 %
検査での抜取水準は,部品製造業者が設定する。どのような特性不適合も,不適
合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm値は,これらの不適合品の累計
を用いて算出する。また,抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,
このロットは不合格とする。
(3) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当
てるサンプル文字に従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
(4) 検査副群の内容は,JIS C 5201-9-1の2.に規定する。
――――― [JIS C 5201-9 pdf 13] ―――――
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C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
表 6 定期的な品質確認検査
評価水準
検査副群 (2)
EZ
p (1) n (1) c (1),(3)
C1 3 20 0
C2 3 20 0
C3 3 20 0
C4 3 20 0
C5 3 20 0
D1 12 20 0
D2 36 20 0
注(1) =周期(月), n=試料数, c=合格判定個数
(2) 検査副群の内容は,JIS C 5201-9-1の2.に規定する。
(3) 不適合品が1個発見された場合,新しい試料で副群すべての試験を再度行い,新
たな不適合品が発生しないときは合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続し
てもよい。
――――― [JIS C 5201-9 pdf 14] ―――――
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C 5201-9 : 2006 (IEC 60115-9 : 2003)
附属書A(規定) 抵抗器の標準回路及び端子の配置
2N +1
N N−1
1 2 2N
回路形式 : A
10 9 8 7 6 10 9 8 7 6 10 9 8 7
1 6
1 2 3 4 5 1 2 3 4 5 2 3 4 5
回路形式 : B 回路形式 : C 回路形式 : D
附属書A図 1 標準回路及び端子の配置
――――― [JIS C 5201-9 pdf 15] ―――――
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JIS C 5201-9:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-9:2003(IDT)
JIS C 5201-9:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-9:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-9-1:2006
- 電子機器用固定抵抗器―第9-1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準EZ
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式