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C 5260-2-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照.)
p n c
(可変抵抗器) 操作速度 :
− 回転形 : 5サイクル/min10サイク
ル//min
− ねじ駆動形 :
外観 4.40.6による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
始動トルク ...mN・m...mN・m
しゅう動雑音,
方法B, ... 圀
R≦...
群D検査(定期的)
副群D1 D 12 8 1
4.39 高温高湿 1) 4.39.2.1
(定常) 第1のグループ : 試料数2
第2のグループ : 試料数3
第3のグループ : 試料数3
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数4
第2のグループ : 試料数4
直流負荷(備考7.による。)
アイソレーション電圧 4.39.4による。
(備考7.による。)
(取付方法 : この規格の1.1及び備
考8.による。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適用) R≧100M 圀
(取付方法 : この規格の1.1及び備考8.に
よる。)
連続性 4.5.1による。
始動トルク ...mN・m...mN・m
しゅう動雑音
方法B, ... 圀
R≦...
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.39.6.8による。
(取付方法 : この規格の1.1及び備考
8.による。)
副群D2 D 36 8 1
4.43.3 カテゴリ上限温度 試験時間 : 1000h
での電気的耐久性 − 端子aとcとの間に負荷
48h, 500h及び1000hでの
検査 :
外観 4.43.3.7a)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− 端子aとbとの間に負荷
48h, 500h及び1000hでの
検査 :
外観 4.43.3.7 a)による。
――――― [JIS C 5260-2-1 pdf 11] ―――――
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C 5260-2-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照.)
p n c
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(...%R+...
素子抵抗値 圀
(...%R+...
すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適用) R≧1G 圀
(取付方法はこの規格の1.1及び備考8.
による。)
副群D3 ND 36 8 1
4.4.3 寸法 この規格の規定による。
(詳細)
副群D4 D 36 8 1
4.43 70℃以外の温度での [この副群は,JIS C 5260-2の2.2.3(定格
電気的耐久性 電力)に規定するものと異なる軽減曲線を
(適用する場合) 個別規格で要求する場合だけに適用する。]
試験時間 : 1 000h
− 端子aとcとの間に負荷 :
48h, 500h及び1 000hでの
検査 : 4.43.1.6a)による。
外観
素子抵抗値 圀
(...%R+...
(副群C3と同じ)
− 端子aとbとの間に負荷
48h, 500h及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.1.6 a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(...%R+...
(副群C3と同じ)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適用) R≧1G 圀
(取付方法 : この規格の1.1及び備考
8.による。)
備考4. 試験方法は,半固定可変抵抗器についての要求事項を適用する。
5. バンプ及び衝撃試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
6. この試験は,耐候性カテゴリが25/-/-,40/-/-,55/-/-及び65/-/-の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に
規定する。
8. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,本体で取り付ける穴があっても,端子でプリント配線
板に取り付けて試験する。
参考 原国際規格では,4.21.3と記載されているが,4.21.2の誤りであり訂正した。
――――― [JIS C 5260-2-1 pdf 12] ―――――
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C 5260-2-1 : 2000
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明 富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進 財団法人日本規格協会
窪 田 明 通商産業省
橋 爪 邦 隆 通商産業省
福 原 隆 沖電気工業株式会社
村 上 昭 次 株式会社ケンウッド
山 本 克 己 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
新 井 謙 一 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
辻 伊佐男 株式会社タイツウ
川 井 一 成 ルビコン株式会社
吉 田 松 二 福井松下電器株式会社
吉 田 實 東北アルプス株式会社
佐 藤 幸 治 松下電子部品株式会社
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司 アルプス電気株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志 TDK株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-2分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 吉 田 松 二 福井松下電器株式会社
(委員) 江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
松 浦 伸 夫 栄通信工業株式会社
吉 田 實 東北アルプス株式会社
本 田 義 夫 KOA株式会社
大 浦 昭 夫 高信頼性部品株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 本 克 己 ソニー株式会社
林 里 史 ツバメ無線株式会社
赤 津 洋 一 帝国通信工業株式会社
中 島 久 男 日本電気株式会社
――――― [JIS C 5260-2-1 pdf 13] ―――――
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C 5260-2-1 : 2000
氏名 所属
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治 松下電子部品株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
中 村 之 大 株式会社緑測器
野 津 秀 雄 株式会社村田製作所
曽我部 浩 二
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-2-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-2-1:1989(MOD)
JIS C 5260-2-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-2-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-2:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第2部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式