JIS C 5381-11:2014 低圧サージ防護デバイス―第１１部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法

                                                              C 5381-11 : 2014 (IEC 61643-11 : 2011)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義並びに記号又は略号・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 記号又は略号・・・・[7]
•  4 使用条件・・・・[8]
•  4.1 周波数・・・・[8]
•  4.2 電圧・・・・[9]
•  4.3 気圧及び高度・・・・[9]
•  4.4 温度・・・・[9]
•  4.5 相対湿度・・・・[9]
•  5 分類・・・・[9]
•  5.1 ポートの数・・・・[9]
•  5.2 SPD の設計・・・・[9]
•  5.3 SPDのクラスI試験,クラスII試験及びクラスIII試験・・・・[9]
•  5.4 設置場所・・・・[10]
•  5.5 接近性・・・・[10]
•  5.6 取付方法・・・・[10]
•  5.7 分離器(過電流保護を含む。)・・・・[10]
•  5.8 外郭の保護等級・・・・[10]
•  5.9 温度及び湿度範囲・・・・[10]
•  5.10 電源系統・・・・[10]
•  5.11 多極SPD・・・・[10]
•  5.12 SPDの故障モード・・・・[10]
•  6 SPDの標準定格(推奨値)・・・・[11]
•  6.1 クラスI試験のためのインパルス放電電流Iimp,Q及びW/Rの推奨値・・・・[11]
•  6.2 クラスII試験のための公称放電電流Inの推奨値・・・・[11]
•  6.3 クラスIII試験のための開回路電圧UOCの推奨値・・・・[11]
•  6.4 電圧防護レベルUpの推奨値・・・・[11]
•  6.5 最大連続使用電圧UCの推奨実効値・・・・[11]
•  7 要求性能・・・・[11]
•  7.1 一般的な要求性能・・・・[11]
•  7.2 電気的要求性能・・・・[13]
•  7.3 機械的要求性能・・・・[15]

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C 5381-11 : 2014 (IEC 61643-11 : 2011)

pdf 目次

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•  7.4 環境及び材料的な要求性能・・・・[16]
•  7.5 特定SPDの設計に対する追加の要求性能・・・・[17]
•  7.6 製造業者によって指定できる追加の要求性能・・・・[18]
•  8 形式試験・・・・[18]
•  8.1 一般的な試験手順・・・・[19]
•  8.2 表示の不滅性試験・・・・[28]
•  8.3 電気的試験・・・・[28]
•  8.4 機械的試験・・・・[45]
•  8.5 環境及び材料試験・・・・[56]
•  8.6 特定設計のSPDに対する追加試験・・・・[57]
•  8.7 製造業者の指定がある場合の特定仕様に対する追加の試験・・・・[61]
•  9 ルーチン試験及び受入試験・・・・[62]
•  9.1 ルーチン試験・・・・[62]
•  9.2 受入試験・・・・[62]
•  附属書A(規定)SPDの基準試験電圧UREF・・・・[63]
•  附属書B(規定)TOV定格・・・・[68]
•  附属書C(規定)スイッチング素子の存在及び続流の大きさを決定する試験・・・・[70]
•  附属書D(規定)縮小試験方法・・・・[71]
•  附属書E(参考)高圧(中圧)システムでの事故に起因するTOVに対するSPD試験用の代替回路・・・・[73]
•  附属書F(参考)屋外用SPDのための環境試験・・・・[74]
•  附属書G(規定)温度上昇限度・・・・[76]
•  附属書JA(参考)参考文献・・・・[77]

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                                                              C 5381-11 : 2014 (IEC 61643-11 : 2011)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 5381-1:2004は,廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5381の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5381-11 第11部 : 低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方
        法
    JIS C 5381-12 第12部 : 低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準
    JIS C 5381-21 第21部 : 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試
        験方法
    JIS C 5381-22 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
    JIS C 5381-311 低圧サージ防護デバイス用ガス入り放電管(GDT)
    JIS C 5381-321 低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード(ABD)の試験方法
    JIS C 5381-331 低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ(MOV)の試験方法
    JIS C 5381-341 低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ(TSS)の試験方法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 5381-11 : 2014
                                                                         (IEC 61643-11 : 2011)

低圧サージ防護デバイス−第11部 : 低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法

Low-voltage surge protective devices-Part 11:Surge protective devices connected to low-voltage power systems-Requirements and test methods

序文

  この規格は,2011年に第1版として発行されたIEC 61643-11を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。また,附属
書JAは対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,交流50/60 Hzの1 000 V以下の電源回路及び機器に接続し,雷又はその他の過渡的な過電
圧の直接的及び間接的な影響のサージに対する防護のための低圧サージ防護デバイス(以下,SPDという。)
の要求性能,標準的試験方法及び定格について規定する。SPDは,1個以上の非線形素子を内蔵し,サー
ジ電圧を制限し,サージ電流を分流するために用いる。
    注記1 日本の電圧は,電気設備に関する技術基準を規定する省令において,低圧は交流600 V以下,
            直流は750 V以下と規定している。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
             IEC 61643-11: 2011,Low-voltage surge protective devices−Part 11:Surge protective devices
                connected to low-voltage power systems−Requirements and test methods(IDT)
               なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
             ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
      注記 対応国際規格 : IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)
    JIS C 2134:2007 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60112:2003,Method for the determination of the proof and the comparative

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2
C 5381-11 : 2014 (IEC 61643-11 : 2011)
            tracking indices of solid insulating materials(IDT)
    JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部 : 基本原則,要求事項及び試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60664-1:2007,Insulation coordination for equipment within low-voltage
             systems−Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)
    JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test
             methods−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT)
    IEC 60060-1:1989,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
    IEC 61000 (all parts),Electromagnetic compatibility (EMC)
    IEC 61180-1,High-voltage test techniques for low voltage equipment−Part 1: Definitions, test and procedure
        requirements

3 用語及び定義並びに記号又は略号

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1.1
低圧サージ防護デバイス,SPD(surge protective device)
  サージ電圧を制限し,サージ電流を分流することを目的とした,1個以上の非線形素子を内蔵している
デバイス。
    注記 SPDは,適切な接続手段をもつ完成品である。
3.1.2
1ポートSPD(one-port SPD)
  直列インピーダンスをもたないSPD。
    注記 1ポートSPDは,入力及び出力端子部をもつことがある。
3.1.3
2ポートSPD(two-port SPD)
  入力端子と出力端子部との間に直列インピーダンスをもつSPD。
3.1.4
電圧スイッチング形SPD(voltage switching type SPD)
  サージを印加していない場合は高インピーダンスであるが,サージ電圧に応答して瞬時にインピーダン
スが低くなるSPD。
    注記 電圧スイッチング形SPD内に用いる一般的な素子の例は,エアギャップ,ガス入り放電管及び
          サイリスタ形サージ防護素子がある。これらを“クローバ素子”ということがある。
3.1.5
電圧制限形SPD(voltage limiting type SPD)
  サージを印加していない場合は高インピーダンスであるが,サージ電圧及び電流の増加に従い連続的に
インピーダンスが減少するSPD。
     注記 電圧制限形SPD内に用いる一般的な素子の例は,バリスタ及びアバランシブレークダウンダイ
           オードがある。これらを“クランピング素子”ということがある。
3.1.6

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