JIS C 5381-331:2021 低圧サージ防護用部品―第３３１部：金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の要求性能及び試験方法 | ページ 8

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                                                            C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
                                          附属書C
                                          (規定)
                            加速耐久性スクリーニング試験
C.1 加速耐久性スクリーニング試験
  この試験の目的は,初期故障不良がないかMOVを確認することである。この試験は,ESD用途で用い
るMOVには適用しない。
C.2 供試品の準備
  この試験に用いる供試品の数は,同一の製造ロットから10個以上とする。供試品は,試験の前に表C.1
に示す電流によって印加電圧VTを測定し,記録する。また,全試料のVTのばらつき範囲は,±1 %以内と
する。
                                  表C.1−VT測定で用いる電流値
                          MOVの直径             ≦7 mm    ≧10 mm
                          VT測定時の電流       0.1 mADC    1 mADC
C.3 試験条件
  試験する供試品を恒温槽内で温度105 ℃±5 ℃に加熱する。印加する直流電圧は,試験する供試品のVT
の最小値とする。
C.4 試験回路
  試験回路図は図C.1による。

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C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
                           図C.1−加速耐久性スクリーニング試験回路図
  規定がない場合,試験期間は1 000時間とする。VT測定の時間間隔として,168時間,366時間及び1 000
時間を推奨する。ただし,測定は,1 000時間経過の1回だけでも許容する。
  1 000時間印加後の供試品を室温で1時間以上放置し,全ての供試品のVTを測定する。各VTの測定で,
VTの変化率が初期値から±10 %を超えた場合,又はヒューズが開放状態になった場合は,その時点でその
供試品は不適合品とみなす。不適合品が発生した場合,試験(電圧印加)は中止してもよい。
C.5 合格基準
  合格基準は,バリスタ電圧の変化率が初期値から±10 %以内とする。ただし,供試品に対応する過電流
リレー又は125 mAの電流ヒューズが1個でも開放状態の場合は,不合格とする。

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                                                            C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
                                          附属書D
                                          (参考)
                     平均故障時間(MTTF)の試験方法の提案
D.1 サンプリング計画
  信頼性水準60 %及び信頼水準90 %並びに許容故障回数Cが0及び1に基づく,使用者が選定する四つ
のサンプリング計画を提供する。その四つのサンプリング計画を表D.1に示す。
                                    表D.1−サンプリング計画
       寿命(年)                            5       10      15       20      30
       寿命(1 000時間)                    44       88      132     176      264
       MTTF(故障数/106時間)               22.7    11.4     7.57     5.7     3.8
       故障率(%/1 000)水準記号           L- 2.27 L-1.14   M-0.76  M-0.57   M-0.38
                              Mレベルの
                   許容故障
       信頼性水準             累積単位
                     回数                          試験する累積単位時間(×106)
         (%)                 時間a)
                      C
                               (×106)
           60        0        0.091 6   0.040 4  0.080 4 0.120 5  0.160 7  0.241 1
           60        1         0.202     0.089   0.177 2 0.265 8  0.354 4  0.531 6
           90        0         0.230    0.101 3  0.201 8 0.302 6  0.403 5  0.605 3
           90         1        0.389     0.171 4 0.341 2  0.511 8 0.682 5  1.023 7
         注a) Mレベルの累積単位時間(×106)は,試験する累積単位時間(×106)を計算するための基準
              であり,情報提供だけを目的としている。
D.2 総試験時間
  総試験時間は,合計2 000時間の平均故障時間試験を実施するのが一般的な方法である。
D.3 供試品
  供試品の総数は,表D.1に示す年単位又は1 000時間単位での寿命要求に従って,NA又は(NB1+NB2)
のいずれでもよい。
                        NA=[表D.1から選択する試験を実施する累積単位時間(×106)]/2 000 (D.1)
                        NB1=NA/3,NB2=(2/3)NA/AF (D.2)
  ここで,供試品NA及び供試品NB1は,通常定格条件の電圧及び温度(VM及び最大動作温度)下で試験
を実施する。供試品NB2は,加速因子AFを用いた加速条件下で試験を実施する。
  試験する全ての供試品の初期バリスタ電圧は,互いに1 %以内にする。
  注記 AFの決定方法は,検討中である。

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C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
D.4 試験準備
  電圧源は,全ての供試品に規定する試験電圧(±0.5 %)を印加する。電圧源の電流定格は,供試品に流
れる電流の増加を制限するものであってはならない。
  試験槽の温度は,規定値(±1 K)とする。
  一つの電流検出用抵抗器Ryを各供試品に直列に接続する。Ryは試験槽の外側に配置する[図D.1のa)
参照]。Ryの値は,その両端の電圧が試験電圧の0.5 %を超えないように選択する。図D.1のb)に,低電圧
MOVに適した代替試験回路を示す。この回路は,オペアンプAと抵抗器Ryとによって漏電電流を電圧に
変換する。電圧計のV1及びV2並びに抵抗器Ryの精度は1 %とする。
          a) 一般的な試験回路                        b) 低電圧MOVに適した試験回路例
                                    図D.1−MTTFの試験回路
  注記 図D.1のb)に示す試験回路は,非常に大きな増幅率(10 000以上のものが一般的)をもつオペア
        ンプ(OA)のバーチャル·ゼロ原理に基づいている。増幅率が10 000であるOAの出力電圧が0
        mVから1 000 mVに変化すると,OA(V1)の入力電圧は0 mVから0.1 mVに変化し,0とみな
        せる。したがって,図D.1のb)のMOVの低位端子は“ゼロ電位”又は“仮想ゼロ点”とみなせ
        る。例えば,MOVを流れる電流が1 mA,Ry=1 000 Ωの場合,OA(V2)の出力電圧は1 mA×
        1 000 Ω=1 000 mV,MOVの端子電位は0.1 mVになっている。
D.5 中間測定
  供試品を通過する電流は,1時間,4時間,24時間,96時間,200時間,500時間,750時間,1 000時
間,1 250時間,1 500時間,1 750時間及び2 000時間経過後に中間測定を実施する。安定して増加する測
定値が認められる場合は,より短い間隔の追跡測定を実施する。
D.6 故障基準
  故障基準は,供試品を通過する電流が着実に増加し,かつ,初期値(試験開始後1時間で測定する電流
値)の製造業者が指定する倍数を超えて上昇することが基準となる。
D.7 合格基準
  故障回数は,表D.1に規定する値以下とする。