JIS C 5381-331:2021 低圧サージ防護用部品―第３３１部：金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の要求性能及び試験方法

                                                            C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語,定義,図記号及び略語・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 図記号及び略語・・・・[5]
•  4 使用条件・・・・[6]
•  4.1 使用温度範囲及び保管温度範囲・・・・[6]
•  4.2 気圧範囲・・・・[7]
•  4.3 相対湿度・・・・[7]
•  5 機械的要求事項及び材料・・・・[7]
•  5.1 端子強度・・・・[7]
•  5.2 はんだ付け性・・・・[7]
•  5.3 表示・・・・[7]
•  6 一般・・・・[7]
•  6.1 故障率・・・・[7]
•  6.2 試験標準環境条件・・・・[7]
•  7 電気的要求事項・・・・[8]
•  7.1 バリスタ電圧(VV)・・・・[8]
•  7.2 最大連続使用交流(直流)電圧[VM(AC)/VM(DC)]・・・・[8]
•  7.3 待機電流(ID)・・・・[8]
•  7.4 静電容量(CV)・・・・[8]
•  7.5 制限電圧(VC)・・・・[8]
•  7.6 静電気放電(ESD)[表面実装用(SMD type)MOVに適用]・・・・[9]
•  7.7 定格インパルスエネルギー・・・・[10]
•  7.8 公称放電電流(In)・・・・[10]
•  7.9 耐久性・・・・[10]
•  7.10 電流を制限した一時的過電圧・・・・[10]
•  8 標準設計品の試験基準・・・・[10]
•  8.1 一般・・・・[10]
•  8.2 定格・・・・[11]
•  8.3 電気的特性・・・・[11]
•  8.4 MOVの定格課電試験・・・・[13]
•  8.5 ESD試験方法・・・・[14]
•  9 公称放電電流及び電流を制限した一時的過電圧試験・・・・[14]

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――――― [JIS C 5381-331 pdf 1] ―――――

           C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)

pdf 目次

ページ

•  9.1 過熱保護付きMOVの試験手順・・・・[14]
•  9.2 温度及び湿度のサイクル試験の条件・・・・[15]
•  9.3 公称放電電流Inの試験手順・・・・[15]
•  9.4 過熱保護付きMOVに対する電流制限した一時的過電圧試験の説明及び手順・・・・[17]
•  9.5 耐電圧試験・・・・[19]
•  9.6 絶縁抵抗試験・・・・[20]
•  附属書A(参考)JIS C 5381-11:2014 低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法におけるクラスI,クラスII及びクラスIII試験に規定するMOVの試験・・・・[21]
•  附属書B(参考)IEC 61051規格群規定の電子機器に用いるMOV・・・・[32]
•  附属書C(規定)加速耐久性スクリーニング試験・・・・[33]
•  附属書D(参考)平均故障時間(MTTF)の試験方法の提案・・・・[35]

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――――― [JIS C 5381-331 pdf 2] ―――――

                                                           C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準
作成機関である一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を改正すべ
きとの申出があり,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS C 5381-331:2006
は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。
  JIS C 5381規格群(低圧サージ防護デバイス)は,次に示す部で構成する。
    JIS C 5381-11 第11部 : 低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験
        方法
    JIS C 5381-12 第12部 : 低圧電源システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
    JIS C 5381-21 第21部 : 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び
       試験方法
    JIS C 5381-22 第22部 : 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の選定及び適用
        基準
    JIS C 5381-31 第31部 : 太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの要求性能及び試験
        方法
    JIS C 5381-32 第32部 : 太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
  JIS C 5381規格群(低圧サージ防護用部品)は,次に示す部で構成する。
    JIS C 5381-311 第311部 : ガス入り放電管(GDT)の要求事項及び試験回路
    JIS C 5381-312 第312部 : ガス入り放電管(GDT)の選定及び適用基準
    JIS C 5381-321 低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード(ABD)の試験方
        法
    JIS C 5381-331 第331部 : 金属酸化物バリスタ(MOV)の要求性能及び試験方法
    JIS C 5381-341 低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ(TSS)の試験方法
    JIS C 5381-351 第351部 : 通信·信号回線に接続するサージアイソレーショントランス(SIT)の要
        求性能及び試験方法
    JIS C 5381-352 第352部 : 通信·信号回線に接続するサージアイソレーショントランス(SIT)の選
       定及び適用基準

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――――― [JIS C 5381-331 pdf 3] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                       C 5381-331 : 2021
                                                                       (IEC 61643-331 : 2020)

低圧サージ防護用部品−第331部 : 金属酸化物バリスタ(MOV)の要求性能及び試験方法

Components for low-voltage surge protection-Part 331: Performance requirements and test methods for metal oxide varistors (MOV)

序文

  この規格は,2020年に第3版として発行されたIEC 61643-331を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,交流1 000 V又は直流1 500 V以下の電源線路,通信回線及び信号回線に適用する金属酸化
物バリスタ(以下,MOVという。)の要求性能及び試験方法について規定する。MOVは,過渡過電圧から
装置,人又はその両方を防護するために用いられている。
  この規格は,二つの電極をもつMOV及びハイブリッドサージ防護部品に適用する。ただし,MOVの実
装及びそれらの特性への影響に関しては適用しない。この規格に規定する特性は,この規格で規定する試
験方法で試験するMOVだけに適用する。
  注記1 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61643-331:2020,Components for low-voltage surge protection−Part 331: Performance
              requirements and test methods for metal oxide varistors (MOV)(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用し
ない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0617-4 電気用図記号−第4部 : 基礎受動部品
    JIS C 5381-11:2014 低圧サージ防護デバイス−第11部 : 低圧配電システムに接続する低圧サージ防
        護デバイスの要求性能及び試験方法

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           2
C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61643-11:2011,Low-voltage surge protective devices−Part
             11: Surge protective devices connected to low-voltage power systems−Requirements and test methods
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気·電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and
             guidance
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気·電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests
            −Test T: Test methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気·電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests
             −Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−
             Part 4-2: Testing and measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
    ANSI/ESD SP5.6,Electrostatic Discharge Sensitivity Testing−Human Metal Model (HMM)−Component
        Level

3 用語,定義,図記号及び略語

  この規格で用いる主な用語,定義,図記号及び略語は,次による。

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる用語及び定義は,次による。
3.1.1 定格
3.1.1.1
絶対最大定格(absolute maximum ratings)
  公表したデータシートなどによって指定し,想定する最悪の条件下において超えないことが望ましい,
部品,装置,機器又は機械に適用可能な動作条件及び環境条件の限界値
  注釈1 想定する最悪の条件は,最大値,最小値又はその両方でもよい。
  (出典 : IEC TR 62240-1:2013の3.1.1に注釈1を追加し,“特定のタイプの任意の半導体デバイス”を
“部品,装置,機器又は機械”の記載に置き換えた。)
3.1.1.2
単一インパルスの最大電流,ITM[single-impulse (transient) maximum current,ITM]
  規定する波形の単一インパルスでMOVに通電してもよい電流の最大定格値
  注釈1 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイス(SPD)(JIS C 5381-11:2014)では,最大放電
          電流Imaxを用いる。
3.1.1.3
公称放電電流,In(nominal discharge current,In)
  MOVを流れる8/20電流波形の電流波高値

――――― [JIS C 5381-331 pdf 5] ―――――

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