この規格ページの目次
9
C 5401-1 : 2015 (IEC 61076-1 : 2006)
4 品質評価の手順
この規格は,品質評価手順又は認証のためのガイダンスを提供するものではない。
品質評価手順のガイダンスは,異なるタイプの認証が説明されているコネクタの品質評価通則IEC
62197-1による。
5 試験及び試験計画
5.1 一般事項
全ての試験は,適用可能な場合,JIS C 5402規格群に従って実施する。
品種別通則には,試験計画を規定し,試料数は各試験群において3個以上とする。個別規格には,品種
別通則に規定するとおり適用する試料数を含む試験群の選択について規定する。
個々の類似品は,これら特定の類似品認証のために形式試験を受けてもよい。
全ての範囲から選択された代表試料に対し,試験する類似品の数を削減(個別規格に規定する範囲より
も小さく)してもよいが,各特性は,評価しなければならない。
コネクタは,現在実施している最良の方法で処理しなければならない。
5.2 試験計画
品種別通則には,基本試験計画及び妥当性確認試験の計画を含める。両方の計画を明確に規定し,中間
試験計画は,その計画の仕方とともに規定する。各試験計画は,次による。
a) 基本試験計画
全ての場合において,最低限度の試験
b) 本試験計画
環境的,電気,電子的及び機械的な性能を実証する試験
c) 中間試験計画
本試験計画から不適当とみなされる試験を省略することによって形成された一組の試験
これらの試験計画には,個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項とともに,コネクタの性能水準
を定義する。
この規格の要求事項は,“個別規格で要求する試験は,品種別通則に規定する試験よりも少なくてはなら
ない”ということである。
個別規格の試験段階番号は,品種別通則に規定するとおり用い,修正してはならない。
試験群の試験段階の順序が,特定の形式又は形状に全く適切でない状況においても,上記のとおりとす
る。試験の順序は,個別規格で変更してもよいが,試験に続いて行う測定は変えてはならない。
試験段階の照合は,順序の変更を明確にすることによって各試験に対して維持される。
個別規格が試験を要求する追加特性を含む場合には,既存の試験又は新しい試験は,試験計画の適切な
箇所に配置する。これらの特性は,追加の試験群に規定してもよい。新しい試験は,個別規格の附属書に
追加する。
注記 品質認証の試験手順は,IEC 62197-1を参照。
5.3 試験手順及び測定方法
関連規格(例えば,JIS C 5402規格群)に規定する試験方法は,推奨する方法であるが,必ずしもこれ
にこだわらない。ただし,試験方法に疑義を生じた場合には,個別規格に規定する方法を判定の手段とし
て用いる。全ての試験は,その他に規定がない場合には,JIS C 60068-1に規定する試験のための標準大気
条件下で行う。
――――― [JIS C 5401-1 pdf 11] ―――――
10
C 5401-1 : 2015 (IEC 61076-1 : 2006)
5.4 前処理
コネクタは,個別規格に規定がない場合,試験を実施する前にJIS C 60068-1に規定する標準大気条件で
24時間放置する。
5.5 試料の配線及び取付け
a) 配線 試料の配線を必要とする場合は,試験を行うために十分な情報を個別規格に規定する。
b) 取付け 試験において取付けを必要とする場合は,コネクタは金属板,プリント配線板又は規定する
アクセサリに,しっかり取り付ける。
――――― [JIS C 5401-1 pdf 12] ―――――
11
C 5401-1 : 2015 (IEC 61076-1 : 2006)
附属書A
(規定)
図面に用いる共通のレタリング方式
A.1 ツーパートコネクタ
ツーパートコネクタの例を,図A.1に示す。
投影法 一角法
注記 Mは,結合情報に規定する。
図A.1−ツーパートコネクタの例
――――― [JIS C 5401-1 pdf 13] ―――――
12
C 5401-1 : 2015 (IEC 61076-1 : 2006)
A.2 エッジソケットコネクタ
エッジソケットコネクタの例を,図A.2に示す。
投影法 一角法
注記 Mは,結合情報に規定する。
図A.2−エッジソケットコネクタの例
――――― [JIS C 5401-1 pdf 14] ―――――
13
C 5401-1 : 2015 (IEC 61076-1 : 2006)
参考文献
JIS C 5401-2:2005 電子機器用コネクタ−第2部 : 品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付
注記 対応国際規格 : IEC 61076-2:1998,Connectors for use in d.c., low-frequency analogue and digital high
speed data applications−Part 2: Circular connectors with assessed quality−Sectional specification
(IDT)
JIS C 5401-3:2005 電子機器用コネクタ−第3部 : 品種別通則−角形コネクタ−品質評価付
注記 対応国際規格 : IEC 61076-3:1999,Connectors for use in d.c., low-frequency analogue and digital
high-speed data applications−Part 3: Rectangular connectors with assessed quality−Sectional
specification(IDT)
JIS C 5401-4:2005 電子機器用コネクタ−第4部 : 品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価
付
注記 対応国際規格 : IEC 61076-4:1995,Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency
analogue and in digital high-speed data applications−Part 4: Sectional specification−Printed board
connectors(IDT)
JIS C 5401-1:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-1:2006(IDT)
JIS C 5401-1:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-1:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5402:1992
- 電子機器用コネクタ試験方法