JIS C 5401-3-001:2005 電子機器用コネクタ―第３－００１部：角形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 | ページ 13

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                                                         C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
6.3   長期保管後の出荷,再検査 ロットに出荷許可が下りた後 b か月以上保管されていたコネクタは,
出荷に先立って,次の表に従って試験を実施する。また,あるロットが再検査に合格した場合は,その品
質は更に c か月間有効とみなされる。
                                         表 18 再検査
                                                     JIS C
                          5.2の要求事項及び厳しさ
 検査群    5.2の試験段階                           5402-1-100
                            による試験又は測定
                                                    試験番号
                                                               IL : (15)
   A1           P1                 外観               1a
                                                               AQL : 
                                                               ターミナル数 : “d”
   C1         AP4.1            はんだ付け性           12a
                                                               不良品数 : “e”ターミナル
注(15)   IS Z 9015-1による。

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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
                 附属書A(規定)新規試験及び追加試験設備段階
  特性試験の追加が適切である場合には,JIS C 5401-4の4(試験及び試験計画)による。
  適用する試験段階は,試験群HPに追加する。
  これらの試験段階がJIS C 0010又はJIS C 5402に規定されていない場合には,その試験方法の詳細をこ
の附属書に規定する。
  この附属書を個別規格に追加する。