JIS C 5401-3-001:2005 電子機器用コネクタ―第３－００１部：角形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 | ページ 12

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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
                                          作成の手引き

6.2 品質確認試験

6.2.1  ロットごと試験 表には,要求する検査水準(IL)及びJIS Z 9015-1による合格品質水準(AQL)
データを記入して完成する。また,最低評価水準はJIS C 5401-4の4.5.4(品質確認試験,ロットごと試験)
に示す。個別規格には,その最低評価水準か,又はより厳しい評価水準を示してもよい。
  なお,個別規格に二つ以上の評価水準を含める場合は,これらの評価水準を含めるために表を拡張して
もよい。適切な評価水準を示す識別文字を選択し,これらを“Y2”,“Z2”などと規定してもよい。

――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 56] ―――――

                                                                                             53
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6.2 品質確認試験

6.2.1 ロットごと試験 一つの検査ロットの中にまとめてもよい構造的に類似なコネクタ[JIS C 5401-1
の 3.1.2(構造的に類似なコネクタ)参照]は,(対応する形式又は形状認識名を記入)である。
  性能水準と評価水準との適用可能な組合せを次の表に示す(適切な組合せを記入する。)。
                                     表 16 ロットごと試験
                      5.2の要求事項及び厳しさにJIS C 5402-1-00   評価水準 Y2        評価水準 Z2
           検査群  5.2の試験段階
                          よる試験又は測定        試験番号
                                                                IL(14)  AQL(14)    IL(14)  AQL(14)
A1          P1                 外観                  1a
A2          P1             寸法及び質量(13)          1b
            P4                絶縁抵抗               3a
B1
            P5                耐電圧                 4a
            AP2      ゲージ保持力(弾性コンタク     16e
                     ト)
B2         AP1.1     結合力及び離脱力               13a
           AP1.2     又は
                     挿入力及び引抜力               13b
          備考 (出荷対象ロットの成績証明書)与えられる情報 : 検査群B1 及びB2の結果
          注(13) 当該ロットを製造するために用いた単体部品に関する検査結果記録は, この要求事項のすべて又は一部を満たすため
   に用いてもよい。
(14)   IS Z 9015-1による。

――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 57] ―――――

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6.3 定期試験

 6.2.2 定期試験 表には, 試料数(n)及び試験群ごとの許容不良品数(c)を記入して
完成する。また,最小試料数はJIS C 5401-4の 4.5.5(品質確認試験,定期試験)に示す。個別規格には
その最小試料数か,又はそれ以上の試料数を規定してもよい。
  なお,ターミナルのはんだ付け性を試験する場合は,ターミナル数を規定する。

――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 58] ―――――

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6.2.2 定期試験 完全な試験群(検査群D1及びD2)での定期試験は,試験P1P5に合格し,かつ,ロ
ットごと試験(6.2.1参照)に合格したロットから抽出した試料に対して実施する。
  単一の試験段階(検査群C1, C2及びC3)での定期試験は,ロットごと試験(6.2.1参照)に既に合格
している試料に対して実施する。性能水準及び評価水準の適用可能な組合せを次の表に示す(適切な組合
せを記入する。)。
                                        表 17 定期試験
                                               JIS C
                      5.2の要求事項及び厳しさ                   評価水準 Y2        評価水準 Z2
           検査群   5.2の試験段階                        5402-1-100  p
                        による試験又は測定
                                              試験番号          n        c         n         c
                                                            ターミナ  ターミナ  ターミナ  ターミナ
C1         AP4.1           はんだ付け性         12a    1
                                                            ル数“a” ル数“a” ル数“a” ル数“a”
C2           P3              接触抵抗           2a     3
C3         AP4.2           はんだ耐熱性         12d   12
           AP1.1          品質認証の維持
           AP1.2         結合力及び離脱力       13a
                              又は
D1          AP5          挿入力及び引抜力       13b   36
            AP1
           AP11-
           AP13               耐電圧            4a
            CP1
抜け
                       初期品質認証試験(6.1.2
                          を適用する場合)
           AP1.2         挿入力及び引抜力       13b     −
            AP5               耐電圧            4a
           AP1-13
D2         BP1-6
            CP1
           DP1-2
            EP1-6
            FP1-5
            GP1
            HP1
          備考 出荷対象ロットの保証数量に対し与えられる情報 : 認証試験成績書
          注 p : 周期(月)
          注 n : 最小試料数
          注 c : 試験群ごとの許容不良品数

――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 59] ―――――

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6.4 長期保管後の出荷,再検査

 個別規格に含まれる長期保管後の出荷に関連する情報は,JIS C 5401-1
の4.4(長期保管後の出荷)に従う。また,表には,適用する検査水準(IL)及び合格品質水準(AQL)
を記入して完成し,最長保管期間を“b”か月と規定し,かつ,再検査後の効力は“c”か月に延長される。
  なお,検査群C1に関し,試料数・ターミナル数を“d”,許容するターミナルの不良品数を“e”と規定
する。

――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 60] ―――――

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