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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
5.2.2.6 試験群EP−機械的特性
表 11 試験群EP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
すべてのコネクタの
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL
形状
試験番号 試験番号
EP1.1 ターミネーシ 16f 試験Ua1及びUa2 外観 1a 試験段階1参照
ョン強度 試料当たり 6ターミネ
ーション
又は “P2” N
EP1.2(9) 無はんだター 審議中
ミネーション
の機械的試験
インサート内 AP5参照
EP2 のコンタクト 15a AP5参照
保持 外観 1a 試験段階1参照
ゲージ保
AP2参照
プローブ 持力(弾性
EP3(10) 16a AP2参照 16e ゲージは保持している
ダメージ コンタク
こと。
ト)
EP4 絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
EP5(11) かびの成長 11e “Q2” 日
外観 1a 試験段階1参照
許容最大燃焼時間
ニードルフレ
試料数 “R2” “T2”秒
EP6(11) ーム(注射針 20a
接炎時間 “S2” 秒 ティッシュペーパが発
バーナ)
火しないこと。
注(9) ECにて審議中。
例 試験16x−機械的強度(配線済みターミネーション)。
(10) 適用する場合;この試験は,この試験群順序の最後に実施する。
(11) コネクタの製造に用いる材料が規定する試験を事前に行い,既に合格していることを示す証拠書類が,IECで規定す
る国内監督検査機関(NSI)に提示できる場合には,試験段階EP5及びEP6を省略してもよい。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 51] ―――――
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作成の手引き
5.2.2.7 試験群FP−耐薬品性
FP1 汚染された液体(特に洗浄用として広く使用されている溶剤)に対するコネクタの耐液抵抗性を立
証するには,極めて適切な試験である。JIS C 5402-1-100で該当する試験手順が入手できるまでは,
適切な試験方法を選択し,附属書 Aに示すようにこれを個別規格に追加することが可能である。
FP2 4.3.2参照。
FP2 4.2.4参照。
FP4 詳細については試験段階4を参照し,要求事項については試験段階AP13による。
5.2.2.8 試験群GP−ターミネーション 無はんだによる接続の形式に応じて,IEC 60352の該当する規
格から試験順序を選択する(適用する場合)。
コネクタに用いる接続方法が IEC 60352に規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示
す証拠書類が,IECで規定の国内監督検査機関に提示できる場合には,試験段階GP1からGPXまでを省
略してもよい。
5.2.2.9 試験群HP−追加試験 この試験群は,既定の試験群PからGPに試験段階を追加するために使
用する。
例 コネクタが高速デジタルデータ伝送用として適していることを証明するための試験。
なお,追加試験は,附属書Aに規定する。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 52] ―――――
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5.2.2.7 試験群FP−耐薬品性
表 12 試験群FP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
FP1 耐液性 審議中
FP2.1 結合力及び 13a
離脱力
又は 13b 4.3.2参照
FP2.2 挿入力及び
引抜力
FP3 接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
FP4 絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
FP5 一般試験 試験段階1参照 外観 1a 試験段階1参照
5.2.2.8 試験群GP−ターミネーション
表 13 試験群GP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
GP1 IEC 60352及びJIS C 5402-1-100による接続方法の適用可能な試験
GPX(12)
無はんだによる接続/接続方法の形式に応じて(適用する場合), IEC 60352の該当する規格から試験順序を選択
する。
注(12) コネクタに用いる接続方法がIEC 60352に規定する試験をあらかじめ受け, 既に合格していることを確認する証拠書
類がIECで規定の国内監督検査機関に提示できる場合には, 試験段階GP1からGPXまでを省略してもよい。
5.2.2.9 試験群HP−追加試験
表 14 試験群HP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
既定の試験群及び試験段階がコネクタにおける特定の試験に対して対応できない場合には, この試験群に追加
HP1
試験として規定する。附属書Aに規定する新しい試験。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 53] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
作成の手引き
6. 品質評価手順
JIS C 5401-1の 3.6(品質認証・品質評価システム)及びJIS C 5401-4の3.(品質評価
の手順)による。
6.1 品質認証試験
6.1.1 方法1 表には3段階の性能水準を示す。個別規格がより多い又はより少ない性能水準を含む場合
には, 表はそのことを考慮して拡張又は縮小してもよい。
表に記入するデータを次に示す。
“V2”(適宜,“W2”,“X2”)関連する性能水準を示すために選択したアラビア数字。
“n”( 5か所)(適宜,“n1”,“n2”)試験群APから EPまでを受ける試料数。
“m”(適宜,“m1”,“m2”)試験段階FPを受ける試料数。
“p”(適宜,“p1”,“p2”)試験段階GPを受ける試料数。
“q”(適宜,“q1”,“q2”)試験段階HPを受ける試料数。
“c1”“c8”(適宜,“c1a”“c8a”,“c1b”“c8b”)試験群ごとに許容される各々の不良品数。
“cT”(適宜,“cTa”,“cTb”)試験群全体の許容不良品数。
これは,通常,試験群ごとに許容される不良品の総数より少ない。
6.1.2 方法2 方法1の代わりに,JIS C 5401-1の 3.3.3(品質認証の認可)に示す第2の方法による品質
認証手順を用いてもよい。
品質認証試験には,次の検査を含める。
a) 連続する3ロットを対象とする 6.2.1に従うロットごとの試験
b) その内の1ロットから選出した1個のサンプルを対象とする 6.2.2に従う定期試験
c) 6.2.2の検査群D2に関わる補足的な品質認証試験
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 54] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
6. 品質評価手順
JIS C 5401-1の 3.6(品質認証・品質評価システム)及びJIS C 5401-4の 3(品質評価
の手順)による。
6.1 品質認証試験
6.1.1 方法1 JIS C 5401-1の 3.3.3(品質認証の認可)に示す第1の方法に従う品質認証手順。
次の試料数が5に規定する条件の試験を受ける。
試料は,表15に基づく許容不良品数以下でその要求事項を満たさなければならない。
表 15 品質認証試験
性能水準 V2 性能水準 W2 性能水準 X2
5.2の試験群 5.2の試験段階
n c n c n c
P P1−5 5n+m+p+q 0 5n1 + m1 + p1 +q1 0 5n2+m2+p2+q2 0
AP AP1―13 n c1 n1 c1a n2 c1b
BP BP1―6 n c2 n1 c2a n2 c2b
CP CP1- n c3 n1 c3a n2 c3b
DP DP1―2 n c4 n1 c4a n2 c4b
EP EP1―6 n c5 n1 c5a n2 c5b
FP FP1―5 m c6 m1 c6a m2 c6b
GP GP1 p c7 p1 c7a p2 c7b
HP HP1 q c8 q1 c8a q2 c8b
試験群全体の許容不良品総数 cT cTa cTb
注 n : 最少試料数
注 c : 試験群ごとの許容不良品数
m : 試験群 FPを受ける最少試料数
p : 試験群 GPを受ける最少試料数
注 q : 試験群 HPを受ける最少試料数
6.1.2 方法2 方法1の代わりに,JIS C 5401-1の 3.3.3(品質認証の認可)に示す第2の方法による品質
認証手順を用いてもよい。
なお,品質認証試験には次の検査を含める。
a) 連続する3ロットを対象とする 6.2.1に従うロットごとの試験
b) その内の1ロットから選出したサンプルを対象とする 6.2.2に従う定期試験
c) 6.2.2の検査群D2にかかわる補足的な品質認証試験
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 55] ―――――
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JIS C 5401-3-001:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-3-001:1999(IDT)
JIS C 5401-3-001:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-3-001:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-3:2005
- 電子機器用コネクタ―第3部:品種別通則―角形コネクタ―品質評価付
- JISC5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)