JIS C 5401-3:2005 電子機器用コネクタ―第３部：品種別通則―角形コネクタ―品質評価付 | ページ 4

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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.5  品質確認試験,定期試験 表13は,ロットごとに実施した試験の合格品から抜き取ったサンプル
に対して実施する定期試験を含む。選択された試験順序及び期間は,指針として示したものであり,それ
らは個別規格に要求する評価水準によって変更してもよい(JIS C 5401-1の3.1.3.2参照)。
                                        表 13 定期試験
 検査群        特性         C 5402-1-100試験      評価水準         評価水準        評価水準
                             の試験番号 段階        (A)             (B..G)           (H)
                                               p     n     c    p    n     c     p    n     c
   C1   はんだ付け性,ぬれ      12a
        (ウェッティング),
        又は
                                               1     *    ×                     1    *    ×
        はんだ付け性,はんだ    12c
        はじき(ディウェッテ
        ィング)
   C2   接触抵抗                 2a      P3
                                又は           3     4    ×                     3    4    ×
                                 2b
   C3   C3試験
        (個別規格で規定する
        場合)
   C4   はんだ耐熱性            12d            12    4    ×                     12   4    ×
        はんだ槽法
        BP1 ..BP6                              NA   NA    NA
                                                              個別規格の
        CP1                                    NA   NA    NA
                                                              規定による
  記録                  C1,C2,C3及びC4の結果
   D1   品質認証維持
        結合力及び              13a     AP1.1        4                                4
        離脱力
        又は
        挿入力及び              13b     AP1.2        4                                4
        引抜力                                 **         ×                     **        ×
        耐電圧                  4a       AP5         4                                4
        AP1
        AP11...AP13
        CP1
  記録  全群の結果

――――― [JIS C 5401-3 pdf 16] ―――――

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                                                                C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
                                    表 13 定期試験(続き)
  検査群        特性         C 5402-1-100試験     評価水準         評価水準        評価水準
                              の試験番号 段階       (A)             (B..G)           (H)
                                                p    n     c    p    n     c     p    n     c
    D2    JIS C 5401-13.6.2                    **                                **
          (設計検証又は形式
          試験)を適用する場合
          の
          初期品質試験
          AP1 .. AP13****                                     個別規格の
          DP1 .. DP2                                          規定による
          EP1 .. EP7
          FP1 .. FP5                                ***
          GP1 ..                                                                     ***
          HP1 ..
   記録   品質認証記録
 注*     20ターミナル又は,20ターミナルの試験が可能な最少コネクタ数。
   **    JIS C 5401-1 3.1.3.2参照。
   ***   各液体ごとに一つの試料を使用する。
   **** 評価水準Aは,AP1及びAP4だけを実施する。試験群APの他の試験には適用しない。
 備考1.  ×印は,個別規格に規定することを示す。
     2.  p  : 周期(月)
     3.  n  : 最少試料数
     4.  c  : 許容不良品数
     5.  NA  : 適用しない
4.5.6  長期在庫品の出荷,再検査 入庫されたロットで “b” か月以上の期間在庫のコネクタは出荷前に
次の表14に従って試験を行う。
  再検査の結果で合格となったロットは,その品質は更に “c” か月間有効とみなされる。
  月数b,cは個別規格で規定する。
                                         表 14 再検査
 試験群   4.5.2項の                                    C 5402-1-100の試験
                     4.5.2項の要求事項と厳しさによる試験
          試験段階               又は測定                    番号
  A1        P1                   外観試験                      1a                IL :  *
                                                                                 AQL : 
  C1       AP4.1               はんだ付け性                   12a         ターミナル数 : “d”
                                                                          不良品数 : “e” ターミナル
注*   JIS Z 9015-1に準拠する。

5. ブランク個別規格,一般事項

 ブランク個別規格は,品種別通則の補足をなすものであり,個別規格
の書式,レイアウト及び最少限の内容に関する要求事項を含めることによって,統一した表現とする。
  その内容は,品目別通則又は品種別通則に基づくものであり,かつ,当該コネクタ品種の品質を評価す
るために必要な技術基準の選択肢を示す。
  これらの要求事項を満足しない個別規格は,JISに従ったものと見なされず,またJISに従っていると
規定してはならない。