この規格ページの目次
9
C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.2.4 試験群 CP−耐湿性
表 5 試験群 CP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
CP1 高温高湿(定常) 11c × 絶縁抵抗 3a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
耐電圧 4a ×
結合力及び離脱力 13a ×
又は 又は
挿入力及び引抜力 13b ×
外観 1a ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
4.5.2.5 試験群 DP−電気的負荷
表 6 試験群 DP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
DP1 機械的動作 9a ×
(BP2に規定の動
作回数)
DP2 電気的負荷及び温 9b × 接触抵抗 2a又は2b ×
度
絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
外観 1a ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 11] ―――――
10
C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.2.6 試験群 EP−機械的特性
表 7 試験群 EP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
EP1.1 ターミネーション 16f × 外観 1a ×
EP1.2* 強度
又は
無はんだ接続の 審議中
機械的試験 ×
EP2 インサート内のコ 15a × 外観 1a ×
ンタクト保持力
EP3** プローブダメージ 16a × ゲージ保持力 16e ×
EP4 絶縁抵抗 3a ×
EP5*** かびの成長 11e × 絶縁抵抗 3a ×
外観 1a ×
EP6 ニードルフレーム 20a ×
(注射針バーナ)
EP7 外観 1a ×
注* 機械的試験は,例えば,JIS C 5402-16-20 試験16t : 機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)を適用。
** 適用する場合,この試験は,この試験群シーケンスの終わりに実施する。
*** コネクタの製造に使用する材料が,規定の試験をあらかじめ実施し,合格証明を国内監督検査機関に提示可能
な場合は,試験段階 EP5,EP6及びEP7を省略してもよい。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
4.5.2.7 試験群 FP−耐薬品性
表 8 試験群 FP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
FP1 耐薬品性 審議中 ×
FP2.1 結合力及び離脱力 13a ×
FP2.2 又は 又は
挿入力及び引抜力 13b ×
FP3 接触抵抗 2a又は2b ×
FP4 絶縁抵抗 3a ×
FP5 一般試験 外観 1a ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 12] ―――――
11
C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.2.8 試験群 GP−ターミネーション
表 9 試験群 GP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
GP1 IEC 60352及び IEC 60512による接続方式の適切な試験
無はんだによる接続・接続方式の形態によって,適用する場合,IEC 60352の関係部分からテストシーケ
GP “X”ンスを選択する。
備考 コネクタに使用する接続方式が,IEC 60352に規定の試験を既に実施し,合格証明をIECに規定の国内監督検
査機関に提示可能な場合は,試験段階GP1及びGP “X” を省略してもよい。
4.5.2.9 試験群 HP−追加
表 10 試験群 HP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
HP1 提示された試験群及び試験段階がそのコネクタ特有の試験を満足しない場合には,追加の試験を行わなけ
ばならない。新しい試験項目については付記Bに記載する。
4.5.3 品質認証試験計画 表11は4.5.1及び4.5.2に規定の試験計画を示す。
試験する最少試料数,また各副群における最大許容不良品数及び合計の最大許容不良品数は,要求する
評価水準が得られるように選択する[JIS C 5401-1の3.3(品質認証)参照]。
個別規格には,コネクタの意図した用途にふさわしい最低基準を規定する。
いかなる場合も,個別規格には表11に示す,より低い水準の合格判定基準を規定しない[JIS C5401-1
の3.4.1(能力の文書化)参照]。
表 11 品質認証試験
試験群 試験 基本試験計画 試験 中間試験計画 試験 全項目試験計画
段階 最少 最大許容 段階 最少試料数 最大許容 段階 最少試料数 最大許容
試料数 不良品数 不良品数 不良品数
P P1 P1 P1
P2* P2* P2*
P3 20 0 P3 20 × P3 20 ×
P4 P4 P4
P5 P5 P5
試料は,適切な数の群にそれぞれ4個づつ配分する。それに加え試験群FP及びGPに要求する追加試料を配分する。
各群のすべての試料は,個別規格に従って一つの試験群の試験用として提出する。
注* 適用する場合
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 13] ―――――
12
C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
表11 品質認証試験(続き)
試験群 試験 基本試験計画 試験 中間試験計画 試験 全項目試験計画
段階 最少 最大許容 段階 最少試料数 最大許容 段階 最少試料数 最大許容
試料数 不良品数 不良品数 不良品数
AP AP1.1 AP1.1 AP1.1
又は 4 0 又は 又は
AP1.2 AP1.2 AP1.2
AP2 NA NA AP2 AP2
AP3 AP3 AP3
AP4 4 0 AP4 AP4
AP5* AP5* AP5*
AP6 AP6 AP6
AP7 AP7 AP7
AP8 AP8 AP8
4.5によって
AP9 AP9 AP9
形成する中間 4 ×
AP10 AP10 AP10
試験計画
AP11 AP11 AP11
AP12.1 AP12.1 AP12.1
又は NA NA 又は 又は
AP12.2 AP12.2 AP12.2
BP BP1 BP1 BP1
BP2 BP2 BP2
BP3 BP3 BP3
BP4 BP4 BP4
BP5* BP5* BP5*
BP6 BP6 BP6
CP CP1 CP1 CP1 4 ×
DP DP1 DP1 DP1
DP2 DP2 DP2
EP EP1.1 EP1.1 EP1.1
又は 又は 又は
EP1.2 EP1.2 EP1.2
EP2 EP2 EP2
EP3* EP3* EP3*
EP4 NA NA EP4 4.5によって EP4
EP5 EP5 形成する中間 EP5
EP6 EP6 試験計画 EP6
EP7 EP7 EP7
FP FP1 FP1 FP1
FP2.1 FP2.1 FP2.1
又は 又は 又は
FP2.2 FP2.2 FP2.2 ** ×
FP3 FP3 FP3
FP4 FP4 FP4
FP5 FP5 FP5
注* 適用する場合
** 各液体ごとに一つの試料を使用する。
NA 適用しない。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 14] ―――――
13
C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
表 11 品質認証試験(続き)
試験群 試験 基本試験計画 試験 中間試験計画 試験 全項目試験計画
段階 最少 最大許容 段階 最少 最大許容 段階 最少 最大許容
試料数 不良品数 試料数 不良品数 試料数 不良品数
GP 無はんだ接続は,IEC 60352の関連する規格群の要求事項を満足しなければならない。
HP 試験群APからGP以外の追加試験
基本試験計画 最大 0
許容不良品数の合計 中間試験計画 最大 ×
全項目試験計画 最大 ×
4.5.4 品質確認試験,ロットごと試験 表12は,各検査ロットで実施するロットごと試験を示す。
記載した評価水準は,最低水準であり,より厳しい水準を個別規格に規定してもよい。
表 12 ロットごと試験
検査群 特性 C 5402-1-100 試験 評価水準 評価水準 評価水準
の試験番号 段階 (A) (B..G) (H)
IL AQL IL AQL IL AQL
A1 外観 1a P1 II 0.1
A2* 寸法 1b P1 S-3 1.0
A3 追加A試験
(個別規格に規
定する場合)
B1 電気的試験
絶縁抵抗 3a P4
耐電圧 4a P5
個別規格の
B2 機械的試験
規定による
ゲージ保持力 16e AP2** S-3 1.0 S-3 0.1
結合力及び 13a AP1.1
離脱力
又は
挿入力及び 又は AP1.2
引抜力 13b
B3 追加B試験
(個別規格に規
定する場合)
記録 B1,B2からの結果及び適用可能な場合B3からの結果
注* 個別規格に規定する結合及び取付けの重要寸法は,IECに規定の国内監督検査機関が認める場合,生産時の検
査記録をこの要求事項の全部又は一部と置き換えてもよい。
** 適用する場合。
IL 検査水準(JIS Z 9015-1参照)
AQL合格品質水準(JIS Z 9015-1参照)
――――― [JIS C 5401-3 pdf 15] ―――――
次のページ PDF 16
JIS C 5401-3:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-3:1999(IDT)
JIS C 5401-3:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-3:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式