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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.4.1 配線 試料の配線が必要な場合,個別規格には,選択した試験方法と合致させるために必要な事項
を規定する。
4.4.2 取付け 試験において取付けが必要で,他に規定がない場合には,次のように注意する。コネクタ
は金属板,プリント配線板,又は規定するアクセサリのいずれか適用するものを用いて,個別規格に規定
する通常の取付方法で,固定ジグ及びパネルカットアウトをしっかりと取り付ける。
4.5 試験計画
個別規格は,実施すべき試験及び満足すべき要求事項を規定するが,コネクタの種々の
用途に対応するため,試験計画の範囲は,各々の個別規格において異なってもよい。
基本(最少)試験計画を4.5.1に,全項目試験計画を4.5.2に規定する。
したがって,この規格の要求事項は,“個別規格に規定する試験が4.5.1に記載した試験を下回ってはな
らない。”ということである。
大多数のコネクタ形式に対しては,中間試験計画が適切である。これは,全項目試験計画から不必要な
群全部,試験及び/又は供試条件を削除して作成する。
試験段階番号は,4.5.2のとおり用い,修正してはならない。
ある試験群において,試験段階の順序が特定の形式又は形状に対して一部適していない場合も同様であ
る。その場合,試験順序(試験後に行う測定ではない。)は,それらの個別規格に対応して変更してもよい。
ただし,試験段階番号は,各試験に対して不変とする。それにより,試験順序の変更が行われても,明ら
かとなる。
個別規格に,試験及び/又は特定の試験順序を必要とする特性が含まれている場合には,規定の試験又
は追加試験(個別規格の附属書による。)が,試験計画表の適切な場所に設定しなければならない。
これらの特性は,追加試験群に規定してもよい(試験群HP参照)。
備考1. コネクタのターミネーションが,無はんだ接続方法を取らなければならない場合は,適切な
試験を試験群GPに規定する。
2. 個別規格は,適切な基本,中間,又は全項目試験計画を選択しなければならない。
4.5.1 基本(最小)試験計画 基本(最小)試験計画が適切な場合には,個別規格は,表1に示す次の試
験を設定し,試験すべき特性及び満足すべき要求事項を明記する。
表 1 基本試験
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100の個別規格の厳 名称 C 5402-1-100の 個別規格の
試験番号 しさ又は条件 試験番号 要求事項
1 一般試験 外観 1a ×
寸法及び質量 1b ×
2.1 結合力及び 13a ×
離脱力
又は 又は
挿入力及び 13b ×
2.2 引抜力
3 接触抵抗 2a又は2b ×
4 絶縁抵抗 3a ×
5 耐電圧 3b ×
――――― [JIS C 5401-3 pdf 6] ―――――
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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
表 1 基本試験(続き)
6.1 はんだ付け 12 × ターミネーションを 2a又は2b ×
含む
又は 接触抵抗
6.2 他の適切な * ×
接続方法
注* 適用する場合,他の適切な接続試験は,全項目試験計画の副群GPのように,例えばJIS C 5402-1-100の試験
及びIEC 60352で該当する規格群の適用可能な部分の試験を追加するか,又は規定する試験と置き換える。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
4.5.2 全項目試験計画 全項目試験計画が適切な場合,個別規格は次の試験(表2)を設定し,試験すべ
き特性及び満足すべき要求事項を明記する。
無はんだターミネーションに対して,IEC 60352の適用可能な部分の試験順序は,全項目試験計画の一
部となる(試験群GP参照)。
4.5.2.1 試験群 P−予備試験 すべての試料は,次の試験を行う。
表 2 試験群 P
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100の個別規格の厳 名称 C 5402-1-100個別規格の
試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
P1 一般試験 1 外観 1a ×
寸法及び質量検査** 1b ×
P2* 極性試験 13e ×
P3 接触抵抗 2a又は2b ×
P4 絶縁抵抗 3a ×
P5 耐電圧 4a ×
注* 適用する場合
** IECの部品認証制度 (IECQ) の場合には,部品生産時の検査記録は,IECに規定の国内監督検査機関 [National
Supervising Inspectorate (NSI) ] が認める場合,この要求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 7] ―――――
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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.2.2 試験群 AP−動的・耐候性
表 3 試験群 AP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100の個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
AP1.1 結合力及び 13a ×
AP1.2 離脱力
又は 又は
挿入力及び 13b ×
引抜力
AP2* プローブ 16a × ゲージ保持力 16e ×
ダメージ (弾性コンタクト)
AP3.1 はんだ付け性 12a又は12b × 外観 1a ×
又は
AP3.2 はんだ耐熱性 12d又は12e ×
又は
AP3.3*** 別途定義 ×
AP4**** 耐電圧 4a ×
AP5 インサート内の 15a × 外観 1a ×
コンタクト保持
AP6 バンプ 6b × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP7 正弦波振動 6d × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP8 衝撃 6c × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP9** 加速度(定常) 6a × 外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP10 温度急変 11d × 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
外観 1a ×
注* 適用するしないにかかわらず測定を実施する。
** 適用する場合。
*** 他の適用可能なターミネーション試験は,他の試験順序で実施してもよい。
**** はんだ試験はコンタクトを装着した状態でだけ実施する。
備考1. ×印は,規格に規定することを示す。
2. JIS C 5402-1-100の第14部に規定する試験段階AP6,AP7及びAP8を実施した後,封止(気密性)試験を実
施する。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 8] ―――――
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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
表 3 試験群 AP(続き)
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100の個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
AP11 一連耐候性 11a ×
AP11.1 高温 11i × 高温時の 3a ×
絶縁抵抗
AP11.2 温湿度サイクル 11m × 外観 1a ×
最初の1サイクル
AP11.3 低温 11j × 外観 1a ×
AP11.4 減圧 11k × 耐電圧 4a ×
AP11.5 温湿度サイクル 11m × 絶縁抵抗 3a ×
残りのサイクル
耐電圧 4a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP12.1 結合力及び 13a ×
AP12.2 離脱力 又は
又は 13b ×
挿入力及び
引抜力
AP13 外観 1a ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 9] ―――――
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C 5401-3 : 2005 (IEC 61076-3 : 1999)
4.5.2.3 試験群 BP−機械的耐久性
表 4 試験群 BP
試験 試 験 測 定
段階 名称 C 5402-1-100個別規格の厳 名称 C 5402-1-100 個別規格の
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
BP1 ゲージ保持力 16e ×
BP2 機械的動作 9a × 外観 1a ×
(規定の半分の回 接触抵抗 2a又は2b ×
数) 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
極性試験* 13e ×
BP3 耐候性 接触抵抗 2a又は2b ×
BP3.1 腐食,塩水噴霧 11f ×
又は
BP3.2 混合ガス流腐食 11g ×
又は
BP3.3 一連耐候性 11a ×
又は
BP3.4 高温高湿(定常) 11c ×
又は
BP3.5 温湿度サイクル 11m ×
又は
BP3.6 高温 11i ×
BP4 機械的動作 9a × 外観 1a ×
(規定の残りの半分 接触抵抗 2a又は2b ×
の回数) 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
極性試験* 13e ×
BP5** プローブダメージ 16a × ゲージ保持力 16e ×
BP6 静的な力,軸方向 8b × 外観 1a ×
注* 適用する場合は,BP2の試験の終りに実施する。
** 適用するしないにかかわらず測定を実施する。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-3 pdf 10] ―――――
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JIS C 5401-3:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-3:1999(IDT)
JIS C 5401-3:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-3:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式