JIS C 5401-4:2005 電子機器用コネクタ―第4部:品種別通則―プリント配線板用コネクタ―品質評価付 | ページ 4

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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
4.5.5 品質確認試験,定期試験 次の表13は,ロットごと試験で合格したロットから抜き取ったサンプ
ルに対して実施する定期試験を含む。
選択された試験順序及び期間は,指針のために与えられ,それらは個別規格に要求する評価水準によっ
て変更してもよい(JIS C 5401-1の3.5.4.2 参照)。
表 13 定期試験
評価水準 評価水準 評価水準
C 5402-1-100 試験
検査群 特性 (A) (B..G) (H)
の試験番号 段階
p n c p n c p n c
C1 はんだ付け性,ぬれ 12a
(ウェッディング),は
んだ槽法
又は 1 * × 1 * ×
はんだ付け性,はん 12c
だはじき(デウェッ
ティング)
C2 接触抵抗 2a P3
又は 3 4 × 3 4 ×
2b
C3 C3試験
(個別規格で規定
する場合)
C4 はんだ耐熱性 12d 12 4 × 12 4 ×
はんだ槽法
BP1 ..BP6 NA NA NA
CP1 NA NA NA 個別規格の
規定による
記録 C1,C2,C3及びC4の結果
D1 品質認証維持
結合力及び 13a AP1.1 4 4
離脱力
又は
挿入力及び 13b AP1.2 4 4
引抜力 ** × ** ×
耐電圧 4a AP5 4 4
AP1
AP11...AP13
CP1
記録 全群の結果

――――― [JIS C 5401-4 pdf 16] ―――――

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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
表 13 定期試験(続き)
評価水準 評価水準 評価水準
C 5402-1-100 試験
検査群 特性 (A) (B..G) (H)
の試験番号 段階
p n c p n c p n c
D2 JIS C 5401-13.6.2 ** **
(設計検証又は形式
試験)を適用する場合
の初期品質試験
AP1 .. AP13**** 個別規格の
DP1 .. DP2 規定による
EP1 .. EP7
FP1 .. FP5 *** ***
GP1 ..
HP1 .
記録 品質認証記録
* 20ターミネーション又は,20ターミネーションの試験が可能な最少コネクタ数
** JIS C 5401-1 3.5.4.2.2(群D検査)参照
*** 各液体ごとにそれぞれの試料を使用する。
**** 評価水準Aは,AP1及びAP4だけを実施する。試験群APの他の試験には適用しない。
× 個別規格に規定する。
p 周期(月)
n 最少試料数
c 許容不良品数
NA 適用しない

5. ブランク個別規格,一般事項

 ブランク個別規格は,品種別通則に対する補足をなし,そして個別規
格の書式,レイアウト及び最少の構成要素の要求事項を含み,統一した表現を確保する。
その内容は,品目別通則又は品種別通則に基づき,そして当該コネクタ品種の品質を評価するために必
要な技術基準の選択肢を規定する。
これらの要求事項を満足しない個別規格は,JISに従ったものとみなされないし,JISに従っていると記
述してはならない。

――――― [JIS C 5401-4 pdf 17] ―――――

JIS C 5401-4:2005の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61076-4:1995(IDT)

JIS C 5401-4:2005の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5401-4:2005の関連規格と引用規格一覧