この規格ページの目次
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
4.5.2.5 試験群 DP−電気的負荷
表 6 試験群 DP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
DP1 機械的動作 9a ×
(BP2に規定の
動作回数)
DP2 電気的負荷及び 9b × 接触抵抗 2a又は2b ×
温度
絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
外観 1a ×
× 個別規格に規定する。
4.5.2.6 試験群 EP−機械的特性
表 7 試験群 EP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
EP1.1 ターミネーション強度 16f × 外観 1a ×
EP1.2* 無はんだ接続の 審議中
機械的試験 ×
EP2 インサート内の 15a × 外観 1a ×
コンタクト保持
EP3 ** プローブダメージ 16a × ゲージ保持力 16e ×
EP4 絶縁抵抗 3a ×
EP5*** かびの成長 11e × 絶縁抵抗 3a ×
外観 1a ×
EP6 ニードルフレーム 20a ×
(注射針バーナ),
ニードルフレーム
EP7 外観 1a ×
* 機械的試験 例えば,JIS C 5402-16-20試験 16 t : 機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
** 適用する場合
*** コネクタの製造に使用する材料が,規定の試験をあらかじめ受け合格したという証明を国内監督検査機関に提
示可能な場合には,試験段階 EP5,EP6及びEP7を省略してもよい。
× 個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 11] ―――――
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
4.5.2.7 試験群 FP−耐薬品性
表 8 試験群 FP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
FP1 耐薬品性 審議中 ×
FP2.1 結合力及び離脱力 13a ×
又は 又は
FP2.2 挿入力及び引抜力 13b ×
FP3 接触抵抗 2a又は2b ×
FP4 絶縁抵抗 3a ×
FP5 外観 1a ×
× 個別規格に規定する。
4.5.2.8 試験群 GP−接続
表 9 試験群 GP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
GP1 IEC 60352-1による結線方法の適切な試験 ×
及び/又は
GPX IEC 60352-Xによる結線方法の適切な試験 ×
× 個別規格に規定する。
備考 コネクタに使用する結線方法が,IEC 60352に規定の試験を既に実施し合格したという証明を国内監督検査機関
に提示可能な場合は,試験段階GP1-GP“X”を省略してもよい。
4.5.2.9 試験群 HP−追加
表 10 試験群 HP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
HP1 新しい試験の場合,詳細を記述した附属書(規定)を準備する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 12] ―――――
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
4.5.3 品質認証試験計画 表11は4.5.1及び4.5.2に規定の試験計画を包含する。
試験する最少試料数,また,各副群における最大許容不良品数及び合計の最大許容不良品数は,要求す
る評価水準が得られるように選択する[(JIS C 5401-1の 3.3(品質認証)参照)]。
個別規格には,コネクタの意図した用途にふさわしい最小基準を規定する。
いかなる場合も,個別規格には表11に示すより低い水準の合格判定基準を規定しない[(JIS C 5401-1
の3.4.1(能力の文書化)参照)」。
表 11 品質認証試験
基本試験計画 中間試験計画 全項目試験計画
試験 試験 試験
試験群 最少 最大許容 最少 最大許容 最少 最大許容
段階 段階 段階
試料数 不良品数 試料数 不良品数 試料数 不良品数
P P1 P1 P1
P2* P2* P2*
P3 20 0 P3 20 × P3 20 ×
P4 P4 P4
P5 P5 P5
試料は,それぞれ試料数が4個の適切な試験群数及び試験群FPとGPに要求する。
追加試料に配分する。
各群のすべての試料は,個別規格に従って1群の試験用として提出する。
AP AP1.1 AP1.1 AP1.1
又は 4 0 又は 又は
AP1.2 AP1.2 AP1.2
AP2 AP2 AP2
AP3 NA NA AP3 AP3
AP4 AP4 AP4
4 0
AP5* AP5* AP5*
AP6 AP6 AP6
AP7 AP7 AP7
AP8 AP8 AP8
AP10 AP10 AP10
AP11 AP11 4.5によって AP11
AP12.1 AP12.1 形成する中間 AP12.1 4 ×
又は 又は 試験計画 又は
AP12.2 AP12.2 AP12.2
BP BP1 BP1 BP1
NA NA
BP2 BP2 BP2
BP3 BP3 BP3
BP4 BP4 BP4
BP5* BP5* BP5*
BP6 BP6 BP6
CP CP1 CP1 CP1
DP DP1 DP1 DP1
DP2 DP2 DP2
――――― [JIS C 5401-4 pdf 13] ―――――
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
表 11 品質認証試験(続き)
基本試験計画 中間試験計画 全項目試験計画
試験 試験 試験
試験群 最少 最大許容 最少 最大許容 最少 最大許容
段階 段階 段階
試料数 不良品数 試料数 不良品数 試料数 不良品数
EP EP1.1 EP1.1 EP1.1
又は 又は 又は
EP1.2 EP1.2 EP1.2
EP2 EP2 EP2
EP3* EP3* EP3* 4 ×
EP4 EP4 EP4
EP5 EP5 EP5
4.5によって
EP6 EP6 EP6
NA NA 形成する中間
EP7 EP7 EP7
試験計画
FP FP1 FP1 FP1
FP2.1 FP2.1 FP2.1
又は 又は 又は
FP2.2 FP2.2 FP2.2 ** ×
FP3 FP3 FP3
FP4 FP4 FP4
FP5 FP5 FP5
GP
無はんだ接続は,IEC 60352の関連する規格群の要求事項を満足しなければならない。
HP
追加試験(群AP-GP以外)
基本試験計画 最大 0
許容不良品数の合計 中間試験計画 最大 ×
全項目試験計画 最大 ×
* 適用する場合
** 適用する場合,各液体ごとにそれぞれの試料を使用する。
NA 適用しない。
× 個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 14] ―――――
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
4.5.4 品質確認試験,ロットごと試験 次の表12は,各検査ロットで実施するロットごと試験を含む。
規定する評価水準は,最低水準であり,より厳しい水準を個別規格に規定してもよい。
表 12 ロットごと試験
評価水準 評価水準 評価水準
C 5402-1-100 試験
検査群 特性 (A) (B..G) (H)
の試験番号 段階
IL AQL IL AQL IL AQL
A1 外観 1a P1
A2* 寸法 1b P1 S-3 1.0 II 0.1
A3 追加A試験
(個別規格に規定
する場合)
B1 電気的試験
絶縁抵抗 3a P4
耐電圧 4a P5
B2 機械的試験
コンタクトのゲージ 16e AP2** S-3 1.0 個別規格の S-3 0.1
保持力 規定による
結合力及び 13a AP1.1
離脱力
又は 又は AP1.2
挿入力及び 13b
引抜力
B3 追加B試験
(個別規格に規定する場合)
記録 B1,B2からの結果及び適用可能な場合,B3からの結果
* 別規格に規定する結合及び取付けの重要寸法は,国内監督検査機関が認める場合生産の検査記録をこの要求事
項のすべて又は一部と置き換えてもよい。
** 適用する場合
IL 検査水準(JIS Z 9015-1 参照)
AQL 合格品質水準 (JIS Z 9015-1参照)
――――― [JIS C 5401-4 pdf 15] ―――――
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JIS C 5401-4:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-4:1995(IDT)
JIS C 5401-4:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-4:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC6010-1:1998
- 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―第1部:通則 モジュラオーダ概念
- JISC6010-2:1998
- 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―第2部:25mm実装のインタフェイス整合寸法