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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
― 性能 h) 及び i)
2.6 表示
個々のコネクタ及びそれらの包装には,JIS C 5401-1の 2.6(表示)に規定する要求事項に従
って表示する。
3. 品質評価の手順
JIS C 5401-1の3.(品質評価の手順)による。
4. 試験及び試験計画
4.1 一般事項
JIS C 5401-1の4.(試験及び試験計画)による。
個別規格には,試験順序(この規格に従う)及び各試験順序に対応する試料数(4個以上)について規
定する。
個々の類似品(Variant)は,それらの中で著しく異なった部分につき,認証のために形式試験に提出す
る。
認証が必要なすべての範囲(個別規格に規定する範囲より小さい)を代表して選択した試料に合わせて
試験する場合には,類似品の数を制限することは可能であるが,各々の特徴及び特性を立証しなければな
らない。
コネクタは,現在実施している最良の方法に従って慎重,かつ,出来栄えのよい方法で製造されていな
ければならない。
4.2 試験手順及び測定方法
関連規格に規定する試験方法は,優先的に使用するが,必ずしもこれにこ
だわらない。
しかし,両者に疑義を生じた場合には,規定する方法をその裁定方法として使用する。
すべての試験は,他に規定がない場合には,JIS C 60068-1に規定する標準大気条件のもとで実施する。
認定手順の中で代替の方法を採用する場合には,代替の方法が規定する方法で得られるのと同等の結果
をもたらすことを認定機関に納得させることは,製造業者の責任である。
4.3 前処理
コネクタは,個別規格に規定がない場合には,試験する前にJIS C 60068-1に規定する試験
のための標準大気条件で24時間前処理する。
4.4 試料の配線及び取付け
4.4.1 配線 試験試料の配線が必要な場合には,個別規格には選択された試験方法の配線に必要な事項を
規定する。
4.4.2 取付け 試験において取付けが必要で,他に規定がない場合には,コネクタは金属板,プリント配
線板,又は規定するアクセサリに,個別規格に規定する通常の取付方法,固定ジグ及びパネルカットアウ
トのどちらか適用可能な方法でしっかりと取り付ける。
4.5 試験計画
コネクタの種々のアプリケーションに対応するため,試験計画の範囲は,各々の個別規
格において異なってもよい。
基本(最少)試験計画を4.5.1に規定する。
個別規格は,実施すべき試験及び満足すべき要求事項を規定する。
この規格の要求事項は,“個別規格に規定する試験が4.5.1に規定した試験より少なくてはならない。”と
いうことである。
全項目試験計画を4.5.2に規定する。
多くの形式に対しては,中間試験計画が適切である。そのような中間試験計画は,全項目試験計画から
不必要な群全部,試験,及び/又は供試条件を削除して作成する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 6] ―――――
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C 5401-4 : 2005 (IEC 61076-4 : 1995)
試験段階番号は,4.5.2のとおり用い,修正してはならない。
試験群において,試験段階の順序が特定の形式又は形状に全く適切でない場合も同様である。
その場合には,試験順序は(試験後に行う測定ではない。)それらの個別規格に対応して変更してもよい。
試験段階の引用は,順序の変更が行われても試験段階番号を変更しないことによって,各試験に対して
明確になる。
個別規格に試験及び/又は特別な試験順序を要求する追加特性を含む場合には,適切な既存の試験又は
新しい試験(個別規格の附属書の形式で)が試験計画表の適切な場所にあるものとする。
これらの特性は,追加試験群に規定してもよい(試験群HP参照)。
備考1. コネクタのターミネーションが,無はんだ接続方法の使用を必要とする場合には,適切な試
験を試験群GPに規定する。
2. 適切な基本,中間,又は全項目試験計画を選択するために,個別規格が必要である。
4.5.1 基本試験計画 基本試験計画が適切な場合には,個別規格は,表1に示す次の試験を呼び出し,試
験すべき特性及び満足すべき要求事項を明記する。
表 1 基本試験
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
1 一般試験 外観 1a ×
寸法及び質量 1b
×
2.1 結合力及び 13a ×
離脱力
又は 又は
挿入力及び 13b ×
2.2 引抜力
3 接触抵抗 2a又は2b ×
4 絶縁抵抗 3a ×
5 耐電圧 3b ×
6.1 はんだ付け 12 × ターミネーション 2a又は2b ×
を含む
接触抵抗
又は
6.2 他の適切な * ×
接続方法
* 適用する場合,他の適切な接続試験は,全項目試験計画の副群GPのように,例えば,JIS C 5402-1-100の試験
又はIEC 60352の適用可能な部分の試験を追加するか,規定する試験と置き換える。
× 個別規格に規定する。
4.5.2 全項目試験計画 全項目試験計画が適切な場合には,個別規格は次の試験(表2)を呼び出し,試
験すべき特性及び満足すべき要求事項を規定する。
無はんだターミネーションに対して,IEC 60352の適用可能な部分の試験順序は,全項目試験計画の一
部を形成する(試験群GP参照)。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 7] ―――――
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4.5.2.1 試験群 P−予備試験 すべての試料は,次の試験を受ける。
表 2 試験群 P
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
P1 一般試験 外観 1a ×
寸法及び質量検査** 1b ×
P2* 極性試験 13e ×
P3 接触抵抗 2a又は2b ×
P4 絶縁抵抗 3a ×
P5 耐電圧 4a ×
* 適用する場合
** 部品生産時の検査記録は,国内監督検査機関[NSI(National Supervising Inspectorate)]が認める場合,この要
求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。
× 個別規格に規定する。
予備試験に合格した試料は,適切な群数に分ける。
各群におけるすべてのコネクタは,個別規格が追加の特性を検証するために試験順序の代替(又は新し
い試験の追加)を要求しない場合,個別規格及び与えられた手順で要求するとおり次の試験(表38)を
受ける(4.5参照)。
4.5.2.2 試験群 AP−動的/耐候性
表 3 試験群 AP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
AP1.1 結合力及び 13a ×
離脱力
又は 又は
挿入力及び 13b
AP1.2 引抜力
AP2 * プローブ 16a × ゲージ保持力 16e ×
ダメージ (弾性コンタクト)
AP3.1 はんだ付け性 12a又は12b × 外観 1a ×
AP3.2 はんだ耐熱性 12d又は12e ×
AP3.3 継続審議
**
AP4 耐電圧 4a ×
***
AP5 インサート内のコ 15a × ×
ンタクト保持
外観 1a ×
――――― [JIS C 5401-4 pdf 8] ―――――
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表 3 試験群 AP(続き)
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
バンプ 6b × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP7 正弦波振動 6d × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP8 衝撃 6c × コンタクト 2e ×
ディスターバンス
外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP9 * 加速度(定常) 6a × 外観 1a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP10 温度急変 11d × 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
外観 1a ×
AP11 一連耐候性 11a ×
AP11.1 高温 × 高温時の 3a ×
11I
絶縁抵抗
AP11.2 温湿度サイクル 11m × 外観 1a ×
最初の1サイクル
11j
AP11.3 低温 11k × 外観 1a ×
AP11.4 減圧 × 耐電圧 4a ×
11m
AP11.5 温湿度サイクル × 絶縁抵抗 3a ×
残りのサイクル 耐電圧 4a ×
接触抵抗 2a又は2b ×
AP12.1 結合力及び 13a ×
離脱力
又は 又は
挿入力及び 13b ×
AP12.2 引抜き力
AP13 外観 1a ×
* 適用する場合
** 他の適用可能なターミネーション試験は,他の試験順序で包含してもよい。
*** はんだ試験は,コンタクトを装着した状態でだけ実施する。
× 個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 9] ―――――
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4.5.2.3 試験群 BP−機械的耐久性
表 4 試験群 BP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
BP1 ゲージ保持力 16e ×
BP2 機械的動作 9a × 外観 1a ×
(規定の半分の 接触抵抗 2a又は2b ×
回数) 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
極性試験* 13e ×
BP3 一連耐候性
BP3.1 腐食,塩水噴霧 11f ×
又は 接触抵抗 2a又は2b ×
BP3.2 混合ガス流腐食 11g ×
又は
BP3.3 一連耐候性 11a ×
又は
BP3.4 高温高湿(定常) 11c ×
又は
BP3.5 温湿度サイクル 11m ×
又は
BP3.6 高温 11i ×
BP4 機械的動作 9a × 外観 1a ×
(規定の残りの 接触抵抗 2a又は2b ×
半分の回数) 絶縁抵抗 3a ×
耐電圧 4a ×
極性試験* 13e ×
BP5* プローブダメージ 16a × ゲージ保持力 16e ×
BP6 静的な力,軸方向 8b × 外観 1a ×
* 適用する場合
× 個別規格に規定する。
4.5.2.4 試験群 CP−耐湿性
表 5 試験群 CP
試 験 測 定
試験
C 5402-1-100 個別規格の厳 C 5402-1-100 個別規格の
段階 名称 名称
の試験番号 しさ又は条件 の試験番号 要求事項
CP1 高温高湿(定常) 絶縁抵抗 3a ×
11c ×
接触抵抗 2a又は2b ×
耐電圧 4a ×
結合力及び離脱力 13a ×
又は 又は
挿入力及び引抜力 13b ×
外観 1a ×
× 個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5401-4 pdf 10] ―――――
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JIS C 5401-4:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-4:1995(IDT)
JIS C 5401-4:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-4:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC6010-1:1998
- 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―第1部:通則 モジュラオーダ概念
- JISC6010-2:1998
- 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―第2部:25mm実装のインタフェイス整合寸法