JIS C 5533-1:2008 オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器―デジタルオーディオ部―音響特性の基本測定方法―第１部：一般事項 | ページ 4

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5.1.1.1  測定の基本概念
  この測定では,動作装置からの出力が飽和することなく負荷にかけられる最大出力電圧を測定する。入
力信号は,997 Hzのフルスケールレベルをもつ。供試装置が音量調整器をもつ場合,最大出力電圧にはひ
ずみ率1 %のひずみが含まれていてもよい。
  供試装置が音量調整器をもたない場合,最大出力電圧はフルスケールレベルの入力信号を与えたときの
出力レベルとする。
5.1.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
5.1.2  チャネル間利得差及びトラッキングエラー
5.1.2.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置が二つのチャネルをもつ場合,左チャネルと右チャネルとの利得差を測定する。
供試装置がマルチチャネルをもつ場合,この測定では利得が最大のチャネルと最小のチャネルとの利得差
を測定する。この測定は,基準測定レベルの997 Hzの入力信号を用いる。利得差は,音量調整器を最大位
置に設定したときの値である。トラッキングエラーは,連動した音量調整器を装置に内蔵し,それを調節
したときの利得差である。
5.1.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。

5.2 周波数特性

5.2.1  出力周波数特性
5.2.1.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置のオーディオチャネルの出力周波数特性を測定する。入力信号のレベルは,
−20 dBの基準測定レベルとする。基準周波数は,997 Hzとする。測定周波数における出力周波数特性は,
基準周波数での利得と測定周波数での利得との差である。
5.2.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
5.2.2  群遅延時間(位相直線性)
5.2.2.1  測定の基本概念
  この測定では,997 Hzの信号と測定周波数の信号との間の遅延時間差を測定する。初めに,供試装置に
インパルス信号を与えて,997 Hzの信号と測定周波数の信号との位相遅延量を計算する。この信号は,群
遅延測定用の信号発生器から与える。次に,これらの位相遅延量から遅延時間を計算する。これによって,
測定周波数の群遅延時間は,997 Hz信号の遅延時間との差として計算できる。測定周波数での位相直線性
を求める場合は,その測定周波数での群遅延時間から位相を逆算する。
5.2.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。

5.3 雑音特性

5.3.1  信号対雑音比(無信号時の雑音)
5.3.1.1  測定の基本概念
  この測定では,入力信号がない状態での雑音に対する997 Hzのフルスケールレベル信号の比を測定する。
デジタルゼロの信号が入力されたとき,D/A変換器を内蔵する装置のアナログ信号処理回路は動作してい
ない。この状態での信号対雑音比は,入力信号がないときにも動作する信号処理回路をもつ通常のアナロ

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グ装置の特性とは異なる。
5.3.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
5.3.2  ダイナミックレンジ
5.3.2.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置の信号処理回路が動作状態にあるときの雑音レベルを測定する。入力信号レベ
ルは,非直線ひずみの発生を防ぐために−60 dBとする。ひずみ及び雑音はひずみ率計で測定し,これを
dB値に換算してA dBとする。この測定は主に雑音信号を測定するので,ひずみ率計の前にA特性重み付
け(聴感補正)フィルタを用いる。ダイナミックレンジは,(A+60)   Bで計算する。
5.3.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
5.3.3  帯域外雑音
5.3.3.1  測定の基本概念
  この測定は雑音の比を測定するものである。それは997 Hzのフルスケール信号のレベルと帯域外周波数
の雑音レベルとで計算する。
5.3.3.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。
5.3.4  チャネルセパレーション
5.3.4.1  測定の基本概念
  この測定では,他のチャネルから発生する妨害信号の出力レベルを測定する。供試装置がマルチチャネ
ルの装置のとき,この測定をすべての入力端子について行い,最悪値をチャネルセパレーションとする。
この測定では,妨害信号はD/A変換器で変換されているため,測定値は妨害信号の漏えいを示す。測定信
号は妨害信号の基本波成分であり,高調波を含まない。
5.3.4.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。

5.4 ひずみ特性

5.4.1  入出力直線性
5.4.1.1  測定の基本概念
  この測定は,入力信号レベルと出力信号レベルとの間の直線関係の変化を測定する。測定する出力信号
は入力信号の基本波成分であり,雑音又はひずみは含まない。測定周波数は,997 Hzである。
5.4.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。
5.4.2  総合ひずみ率 (THD+N)
5.4.2.1  測定の基本概念
  この測定では,百分率 (%) で表される雑音及びひずみを測定する。この雑音及びひずみは,特定の周波
数における雑音及びひずみのレベルに対する全出力レベルの比から得られる。雑音及びひずみの周波数範
囲は,帯域内周波数の範囲である。
5.4.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。

――――― [JIS C 5533-1 pdf 17] ―――――

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5.4.3  混変調ひずみ率
5.4.3.1  測定の基本概念
  この測定では,IEC 60268-3に規定する大振幅の信号に対する非直線性効果によって発生する混変調ひ
ずみを測定する。
5.4.3.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。

6 測定方法(アナログ入力-デジタル出力)

  この箇条では,測定方法の概念を示す。具体的な測定手順は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4
による。

6.1 入出力特性

6.1.1  アナログレベル及びデジタルレベルの校正
6.1.1.1  測定の基本概念
  この測定は,アナログ入力信号とデジタル出力信号との関係を規定するものである。この測定は,アン
プの線形範囲で入力アナログ信号の値と出力デジタル信号の値との関係を求め,アナログフルスケール値
を規定する。このレベルは,−20dBのデジタル出力信号について求める。
6.1.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.1.2  最大許容入力電圧
6.1.2.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置の音量調整器をどの位置に設定しても許容可能なアナログ入力信号電圧を測定
する。この電圧値は,被入力装置の飽和レベルを示す。この飽和レベルは,1 %のひずみを含む振幅であ
る。
6.1.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.1.3  利得差及びトラッキングエラー
6.1.3.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置が二つのチャネルをもつ場合,左チャネルと右チャネルとの利得差を測定する。
供試装置が三つ以上のチャネルをもつ場合,この測定では利得が最大のチャネルと最小のチャネルとの利
得差を測定する。この測定は,出力信号レベルを−20 dBの基準測定レベルで一定に保つように行う(こ
の条件は,デジタル入力−アナログ入力測定の場合と異なる。)。利得差は,音量調整器を最大位置に設定
したときの値である。トラッキングエラーは,装置に内蔵した音量調整器を調節したときの利得差である。
6.1.3.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。

6.2 周波数特性

6.2.1  出力周波数特性
6.2.1.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置のオーディオチャネルの出力周波数特性を測定する。入力信号のレベルは,
−20 dBの基準測定レベルである。基準周波数は,997 Hzである。測定周波数における出力周波数特性は,
基準周波数での利得と測定周波数での利得との差である。

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6.2.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.2.2  群遅延時間
6.2.2.1  測定の基本概念
  この測定では,997 Hzの信号と測定周波数の信号との間の遅延時間差を測定する。
  初めに,供試装置にインパルス信号を与えて,997 Hzの信号と測定周波数の信号との位相遅延値を計算
する。この信号は,群遅延測定用の信号発生器から与えられる。次に,これらの位相遅延値から遅延時間
を計算する。これによって,測定周波数の群遅延時間が,997 Hz信号の遅延時間との差として計算される。
測定周波数での位相直線性を計算する場合は,その測定周波数での群遅延時間から位相を逆算する。
6.2.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。

6.3 雑音特性

6.3.1  信号対雑音比(無信号時の雑音)
6.3.1.1  測定の基本概念
  この測定では,アナログ入力の端子が基準信号源インピーダンスで終端されたときの不要な雑音成分を
測定する。比率は,フルスケール出力レベルを基準とする。人の聴感に対応させて雑音信号を補正するた
めに,雑音成分の測定ではA特性重み付け(聴感補正)フィルタを使用する。この点が,雑音信号がしば
しばA/D変換器から発生するデジタル入力−アナログ出力システムの測定と異なる。6.3.1の信号対雑音
比の測定は,アナログ機器の測定とほぼ同じである。
6.3.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.3.2  ダイナミックレンジ
6.3.2.1  測定の基本概念
  この測定では,供試装置の信号処理回路が動作状態にあるときの雑音レベルを測定する。入力信号レベ
ルは,非直線ひずみの発生を防ぐために−60 dBとする。ひずみ及び雑音をひずみ率計で測定し,これを
dB値に換算してA dBとする。この測定は主に雑音信号を測定するので,ひずみ率計の前にA特性重み付
け(聴感補正)フィルタが用いられる。ダイナミックレンジは,(A+60)   Bで計算する。
6.3.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.3.3  折返し雑音
6.3.3.1  測定の基本概念
  この測定では,fs/2より高い周波数の信号をアナログ入力端子に与えたとき,帯域内周波数の範囲に発
生する不要な雑音信号を測定する。入力信号電圧は,アナログフルスケール電圧である。
6.3.3.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3に規定する。
6.3.4  クロストーク
6.3.4.1  測定の基本概念
  この測定では,非関連チャネルから漏えいした不要な信号のレベルを測定する。測定信号は,フルスケ
ールレベルの妨害信号が非選択入力端子に与えられたとき,選択チャネルの出力端子に現れた妨害信号の
基本波成分である。この点は,非選択入力チャネルからA/D変換器への漏えいがある,デジタル入力−ア

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ナログ出力装置の場合と異なる。この測定では,アナログ回路の特性を測定する。
6.3.4.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。
6.3.5  チャネルセパレーション
6.3.5.1  測定の基本概念
  この測定では,関連する他のチャネルからの妨害信号の出力レベルを測定する。供試装置がマルチチャ
ネルの装置のとき,この測定はすべての入力端子について行われ,その最悪値をチャネルセパレーション
とする。この測定では,妨害信号はD/A変換器で変換されたアナログ信号であり,測定値は妨害信号の漏
えいを示す。測定信号は,妨害信号の基本波成分であり,高調波は含まない。
6.3.5.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。

6.4 ひずみ特性

6.4.1  入出力直線性
6.4.1.1  測定の基本概念
  この測定では,入力信号と出力信号との直線関係の変化を測定する。測定する出力信号は入力信号の基
本波成分であり,雑音又はひずみは含まない。測定周波数は,997 Hzである。
6.4.1.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。
6.4.2  総合ひずみ率(THD+N)
6.4.2.1  測定の基本概念
  この測定は,百分率 (%) で表すひずみ及び雑音を測定する。このひずみ及び雑音は,特定の周波数にお
ける雑音及びひずみのレベルに対する全出力レベルの比である。雑音及びひずみの周波数範囲は,帯域内
周波数範囲である。
6.4.2.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2,IEC 61606-3又はJIS C 5533-4による。
6.4.3  混変調ひずみ率
6.4.3.1  測定の基本概念
  この測定は,IEC 60268-3に規定する大振幅の信号に対する非直線性効果によって発生する混変調ひず
みを測定する。
6.4.3.2  詳細
  詳細は,JIS C 5533-2又はIEC 61606-3による。

――――― [JIS C 5533-1 pdf 20] ―――――

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