この規格ページの目次
9
C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
f) 選択チャネルから出力される他チャネルからの漏えいによって発生した出力信号の基本波のレベルを
測定し,それをB dBとする。必要であれば,他の周波数で同様の測定を行う。
g) チャネルセパレーションNCH (dB) を,次の式から計算する。
NCH A B
h) 選択チャネルを変えてe) ) の手順を繰り返す。
5.4 ひずみ特性
5.4.1 入出力直線性
5.4.1.1 測定の方法
供試装置及び測定機器を,図8のとおり構成する。
デジタル 供 試 狭帯域通過
帯域内電圧計
信号発生器 装 置 フィルタ
図8−装置のブロック図
5.4.1.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
− 周波数 : 997 Hz(公称値1 kHz)
− 信号レベル : 表1に示す。
表1−測定信号のレベル
単位 dB
名目上のレベル
16 bitシステム 20 bitシステム 24 bitシステム
0 0 0
−6 −6 −6
−12 −12 −12
−20 −20 −20
−30 −30 −30
−40 −40 −40
−50 −50 −50
−60 −60 −60
−70 −70 −70
−82 −80 −80
−89 −90 −90
− −100 −100
− −108 −110
− −113 −120
− − −132
− − −137
注記 波形再生にかかわるビット数が減少する低レベル領域においては,理論値と実際の信号の実効
値とが一致しないことがある。そのため,システムのビット数に応じて表1のレベルを選択し
――――― [JIS C 5533-2 pdf 11] ―――――
10
C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
て用いる。
5.4.1.1.2 測定手順
測定手順は,次による。
a) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
b) 音量調整器を調整しても出力信号が基準測定レベルに達しない場合は,音量調整器を最大位置に設定
する。
c) 入力信号を供試装置に与え,帯域内電圧計の表示値を読み取る。
d) 測定する信号レベルの範囲で他の入力レベルの信号を与え,測定を繰り返す。
e) 基準測定レベルの信号を入力したときの表示値を基準とし,その他の入力レベルの信号における理論
値と表示値との差を入出力直線性とする。
5.4.2 総合ひずみ率 (THD+N)
5.4.2.1 測定の方法
供試装置及び測定機器を,図9のとおり構成する。
デジタル 供 試 低域通過 アナログ
信号発生器 装 置 フィルタ ひずみ率計
図9−装置のブロック図
5.4.2.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
− 周波数 : 997 Hz又は必要に応じてJIS C 5533-1の表1による。
− 信号レベル : 基準フルスケール値 (0 dB)
5.4.2.1.2 測定手順
測定手順は,次による。
a) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
b) 997 Hzの入力信号を供試装置に与える。
c) アナログひずみ率計の表示を読み取る。
d) 他の入力周波数で測定を繰り返し行う。
5.4.3 混変調ひずみ率
5.4.3.1 測定の方法
供試装置及び測定機器を,図10のとおり構成する。
混変調 供 試 低域通過 混変調
デジタル信号発生器 装 置 フィルタ ひずみ率計
アナログ
スペクトルアナライザ
図10−装置のブロック図
――――― [JIS C 5533-2 pdf 12] ―――――
11
C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
5.4.3.1.1 入力信号
JIS C 5533-1の4.6.1.2に規定する信号を用いる。
5.4.3.1.2 測定手順
測定手順は,次による。
a) 供試装置を4.4の標準設定にする。
b) 入力信号を供試装置に与え,混変調ひずみ率計を用いて出力信号の混変調ひずみ率を測定する。
6 測定方法(アナログ入力-デジタル出力)
箇条6に記述する測定方法は,入力がアナログ信号であり,かつ,出力がデジタル信号である供試装置
に適用する。JIS C 5533-1の規定がこの規格に対応するすべての規定を,箇条6に適用する。箇条6は,
一般消費者用機器の測定方法の詳細を規定する。
供試装置には,デジタル出力の端子をもつものと,それをもたないものとがある。一般に,デジタル出
力端子をもたない装置は,コンパクトディスク,デジタルオーディオテープレコーダ及び類似の録音装置
である。
6.1 入出力特性
6.1.1 アナログレベル及びデジタルレベルの校正
6.1.1.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図11のとおり構成する。
アナログ 供 試 デジタル
信号発生器 装 置 レベルメータ
帯域内電圧計
図11−装置のブロック図
b) 供試装置がデジタル出力をもたない場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図12のとおり構成する。
アナログ 供 試 標準デジタル デジタル
信号発生器 装 置 再生装置 レベルメータ
帯域内電圧計
記録媒体
図12−装置のブロック図
6.1.1.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
――――― [JIS C 5533-2 pdf 13] ―――――
12
C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
− 周波数 : 997 Hz(公称値1 kHz)
− 信号電圧 : 基準測定レベル(一般相互接続の場合は,0.2 Vとする。)
6.1.1.1.2 測定手順
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 供試装置に入力信号を与え,−20 dBの基準測定レベルの信号が出力されるように,入力信号を0.2
V前後で変化させて調整する。
3) 帯域内レベルメータの指示値を読み取り,それをA Vとする。
4) Vの10倍をアナログフルスケール電圧とする。
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 供試装置に基準測定レベルを中心に1 dB刻みに−6 dB+6 dBの範囲で入力信号を与え,その信号
を記録媒体へ記録する。
3) 記録媒体を標準デジタル再生装置を用いて再生し,その出力信号レベルをデジタルレベルメータで
読み取る。
4) 3) のデータからデジタル出力が基準測定レベルになる入力電圧を換算し,それをA Vとする。この
A Vの値を10倍したものがアナログフルスケール電圧となる。
6.1.2 最大許容入力電圧
6.1.2.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力の端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図13のとおり構成する。
アナログ 供 試 デジタル
信号発生器 装 置 ひずみ率計
帯域内電圧計 デジタル波形モニタ
図13−装置のブロック図
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図14のとおり構成する。
アナログ 供 試 標準デジタル デジタル
信号発生器 装 置 再生装置 ひずみ率計
帯域内電圧計 記録媒体 デジタル波形モニタ
図14−装置のブロック図
――――― [JIS C 5533-2 pdf 14] ―――――
13
C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
6.1.2.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
− 周波数 : 997 Hz(公称値1 kHz)
− 信号電圧 : 0 Vからアナログフルスケールレベルを超える範囲
6.1.2.1.2 測定手順
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 入力信号を与え,信号電圧を0 Vから増加させる。デジタル出力の端子でのレベルが基準測定レベ
ル (−20 dB) を超えた場合,出力信号レベルが基準測定レベル前後になるように音量調整器を調整
する。
3) 入力信号電圧を更に増加させると,出力信号がクリップして総合ひずみ率が1 %になる入力信号電
圧を帯域内電圧計で測定する。この電圧を,最大許容入力電圧とする。
4) 供試装置に音量調整器がない場合にも,同様に出力信号の総合ひずみ率が1 %になる入力信号電圧
を測定し,それを最大許容入力電圧とする。
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 供試装置が入力信号レベルの指示器をもつ場合,これを参考にして入力信号がクリップされずに
A/D変換器によって変換される最大の入力信号レベルを推定する。そのような指示器がない場合は,
カタログ又は仕様書などを参考にして最大の信号レベルを推定する。
3) 入力信号がクリップされないと推定した最大の入力レベルに対して−10 dB+6 dBの入力レベル
の範囲で入力信号を帯域内電圧計で確認しながら1 dBステップで供試装置に与え,出力信号を記録
媒体に記録する。
4) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生し,出力信号のひずみ率を測定する。
5) ひずみ率が1 %を超える入力信号レベルA dBでのひずみ率a %及び(A−1)dBでのひずみ率b %
を記録する。
注記 3%以下となることが期待されている。
6) 次の式によって,ひずみ率が1 %に達する信号レベルL dBを計算する。
a 1
L A
a b
このL dBを最大許容入力電圧とする。
7) ひずみ率a及びbが共に1 %を超える場合又は1 %未満の場合は,供試装置への入力信号レベルを
調整して,aが1 %を超え,かつ,bが1 %を下回る信号レベルを得る。
6.1.3 チャネル間利得差及びトラッキングエラー
6.1.3.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図15のとおり構成する。
――――― [JIS C 5533-2 pdf 15] ―――――
次のページ PDF 16
JIS C 5533-2:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61606-2:2003(IDT)
JIS C 5533-2:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.160 : オーディオ,ビデオ及びAV技術 > 33.160.01 : オーディオ,ビデオ及びAV技術一般
JIS C 5533-2:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5533-1:2008
- オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器―デジタルオーディオ部―音響特性の基本測定方法―第1部:一般事項