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C 5925-1 : 2016
aij
光損失
自由スペクトル
領域
波長
図12−自由スペクトル領域
注記 対応国際規格では,“隣接する二つの使用波長間の差”と定義しているが,誤りであるため修正
した。
3.3.27
偏光依存性中心波長,PDCW(polarization dependent center wavelength)
全ての偏光状態(SOP)におけるSOPの変化による伝達端子間のチャネル中心波長の最大変化(図13
参照)。
注記1 伝達端子対において,PDCWを定義する。
注記2 DWDMは,偏光依存性中心周波数を用いてもよい。
偏光依存性中心波長
光損失
最大中心波長
最小中心波長
λh 波長
図13−偏光依存性中心波長(PDCW)
3.3.28
偏光依存性アイソレーション,PDI(polarization dependent isolation)
全ての偏光状態(SOP)におけるSOPの変化によるアイソレーションの最大変化。阻止端子対において
――――― [JIS C 5925-1 pdf 16] ―――――
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C 5925-1 : 2016
偏光依存性アイソレーションを定義する。
3.3.29
偏光依存性反射率(polarization dependent reflectance)
全ての偏光状態(SOP)におけるSOPの変化による反射率の最大変化。
3.3.30
偏光の主状態,PSP(principal states of polarization)
任意の周波数(波長)に対し,対応する出力偏光状態(SOP)が第一次近似で周波数に無依存である,
二つの直交した入力SOP。
注記1 偏光依存性損失(PDL)がない場合,偏光の主状態(PSP)は最短到達時間となる進相軸PSP
及び最長到達時間となる遅相軸PSPからなる直交したSOPに等しい。群遅延差(DGD)は,
これら二つの到達時間差である。
注記2 光ファイバ,光部品及びサブシステムは,通常二つのPSPによって特徴付ける。PSPは,材
料の複屈折,それに作用する内外応力などによってもたらされる。
注記3 二つのPSP間のDGDは,時間及び波長とともに変化することがある。
注記4 PSPの一つに方向を合わせたSOPの信号は,少なくとも第一次近似では,偏波モード分散
(PMD)の量による影響を受けない。
3.3.31
X dB帯域幅(X dB bandwidth)
伝達端子対i及びjに対応する使用波長λh近傍を中心としてaij(i≠jの場合)の変化幅がX dBとなる帯
域幅の最小値。
偏光依存性
最大中心波長
光損失
最小中心波長
X dB X dB
X dB帯域幅
λh 波長
図14−X dB帯域幅
注記1 帯域幅の最小値は波長依存性の温度シフト,偏光依存性,経時変化にわたるシフトなどを考
慮して決定する(図14参照)。
注記2 WDMデバイスでは,チャネルiのX dB帯域幅とチャネルjのX dB帯域幅とは,必ずしも一
致しない。
――――― [JIS C 5925-1 pdf 17] ―――――
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C 5925-1 : 2016
注記3 Xは,一般的に,0.5,1,3,20などを用いる。
4 分類
WDMデバイスの分類の例を,表1に示す。
なお,WDMデバイスのタイプ別分類及びその機能と伝達行列との関係を附属書Cに示す。
表1−WDMデバイスの分類の例
項目 分類例
入出力端子構成 1×N,2×N(N≧2)など
適用技術a) 誘電体多層膜,溶融延伸,アレイ導波路格子,ファイバブラッググレーティング
用途b) 光分波器,光合波器,光合分波器,波長ルータ,波長アド・ドロップなど
方式 透過方式,反射方式など
使用波長帯 O-band,C-bandなど
チャネル間隔 DWDM,CWDM,WWDMなど
温度制御 温度制御形,受動補償形など
接続形態 プラグ形,レセプタクル形,ピッグテール形など
適用コネクタ SC(F04形 : JIS C 5973)など
使用光ファイバコード シース外径2.8 mm,心線径0.9 mmなど
注a) 技術例を附属書D,附属書E,附属書F及び附属書Gに記載している。
b) 双方向伝達用WDMデバイスの特性を附属書Bに示す。WDMデバイスの用途と伝達行列との関係を
附属書Cに示す。
5 外観及び構造
5.1 外観
外観は,目視によって検査したとき,著しいきず,ディグ(くぼみ),欠け,クラック,汚れなどの異常
があってはならない。
5.2 構造
WDMデバイスの構造は,個別仕様書による。難燃性材料を用いる必要がある場合は,個別仕様書に記
載する。
6 性能
6.1 光学特性
光学特性は,個別仕様書による。個別仕様書で示す項目例を,附属書JA附属書JDに示す。
6.2 環境及び耐久性特性
環境及び耐久性特性は,個別仕様書による。個別仕様書で示す項目例を,附属書JA附属書JDに示す。
7 試験方法
WDMデバイスの試験方法は,JIS C 61300規格群又はJIS C 5901による。
8 表示
WDMデバイス表示は,次による。ただし,個々のWDMデバイスに表示することが困難な場合には,
包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
――――― [JIS C 5925-1 pdf 18] ―――――
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b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号,又はそれらの略号
d) 端子番号
9 包装
包装は,輸送中及び保管中に振動,衝撃などによって,製品の破損又は品質の低下のおそれがないよう
に行う。
10 安全
光伝送システム,装置及びデバイスに用いる場合,光学部品の端面から人体に影響を及ぼす光の放射(透
過光及び/又は反射光)が生じる可能性がある。したがって,製造業者は,システム設計者,デバイス設
計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法を明示しなければならない。
――――― [JIS C 5925-1 pdf 19] ―――――
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C 5925-1 : 2016
附属書A
(参考)
伝達行列
A.1 概要
光伝送用WDMデバイスの光学特性は,係数n×nの行列で定義する。ここで,nは端子の数,係数は端
子間で伝達する光パワーの比を表す。2入力及び4出力をもつ6端子デバイスの例を図A.1に示す。可能
な二つの端子の組合せは,6×6であるため,全体として36通りの組合せがある。これらの36通りの組合
せをA.2の伝達行列によって表す。
入力 出力
3
1
4
5
2
6
図A.1−2入力及び4出力をもつ6端子デバイスの一例
A.2 伝達行列(transfer matrix)
一般に,伝達行列Tは,次のように表す。
t11 t12 t1n
t21
T
tij
tn1 tnn
ここに, tij : 入力端子iの入力パワーPiに対して出力端子jから出力する光
パワーPijの比率である。すなわち,次の式となる。
tijPij / Pi
係数tijは0以上かつ1以下の値である(0≦tij≦1)。WDMデバイスにおいて,係数tijは波長の関数であ
る。また,入力偏光又はモーダルパワー分布の関数となる場合もある。
シングルモード光ファイバ用WDMデバイスは,マルチパス干渉に注意する必要がある。すなわち,伝
達係数は,二つ以上の端子での光パワー入力の干渉を考慮する必要がある。
WDMデバイスの伝達行列係数は,波長依存性をもち,tijkで表す。
ここで,kは波長を表す添字で,その波長はλkである。一般的に,伝達行列は次による。
t111 t121 t1n1 t112t122 t1n2 t11k t12k t1nk
t211t221 t2n1 t212 t222 t2n2 t21k t22k t2nk
T , ,
tn11tn21 tnn1 tn12tn22 tnn2 tn1k tn2k tnnk
――――― [JIS C 5925-1 pdf 20] ―――――
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JIS C 5925-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62074-1:2014(MOD)
JIS C 5925-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
JIS C 5925-1:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5900:2019
- 光伝送用受動部品通則
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC5973:2014
- F04形光ファイバコネクタ(SCコネクタ)