JIS C 5948:2017 光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法 | ページ 8

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C 5948 : 2017
参考文献
  JIS C 5950 光伝送用発光ダイオード通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60747-1,Semiconductor devices−Part 1: General
  IEC 60749-25,Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 25: Temperature cycling
  IEC/TR 62572-2,Fibre optic active components and devices−Reliability standards−Part 2: Laser module
      degradation
[1] L. R. Goldthwaite, "Failure Rate Study for the Lognormal Lifetime Model", Proceedings of the 7th National
    Symposium on Reliability and Quality Control in Electronics, 1961, pp.208-213.
    Goldthwaite plotsの活用法は次に記載されている : Accelerated Testing Handbook by D. S. Peck and O. D.
    Trapp, Technology Associates (Portla Valley, CA, 1981).

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                                                                                                                                          35
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                                                                  附属書JB
                                                                   (参考)
                                                     JISと対応国際規格との対比表
     JIS C 5948:2017 光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法     IEC 62572-3:2016,Fibre optic active components and devices−Reliability standards−
                                                                        Part 3: Laser modules used for telecommunication
     (I)   JISの規定                        (II)  (III)国際規格の規定(IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと(V)   JISと国際規格との技術的差異の理
                                         国際                     の評価及びその内容                       由及び今後の対策
                                         規格
       箇条番号            内容                 箇条     内容     箇条ごと         技術的差異の内容
                                         番号
       及び題名                                 番号              の評価
     3 用語,定義 3.1.1 半導体レーザモジ       3.1.1      −      変更     “光アイソレータ”及び“光ファイ利用者の理解度向上のために補足した。
     及び記号     ュールの用語の定義                                       バコネクタレセプタクル”を加えて対応国際規格の見直し時に提案を行う。
                                                                           変更した。
     4 信頼性及び                              4.1        −      追加     “信頼性評価試験及び継続的試験の利用者の理解度向上のために補足した。
     品質保証手順                                                          手引を,附属書Aに示す。”を追加 対応国際規格の見直し時に提案を行う。
                                                                           した。
     5 試験方法                                5.1        −      変更     IEC/TR 62572-2の内容である附属書附属書JA(規定)を追加したことに関
                  バーンイン及びスクリー       5.3        −      変更     JA(規定)の引用記述を加えて変更連して変更した。
                  ニング(附属書の引用)                                   した。
                  表1信頼性評価試験,及        Table 1    −      追加     附属書の参照及び注記による試験項利用者の理解度向上のために補足した。
                  び表2継続的試験(附属        and                         目が試験対象であることの説明を追対応国際規格の見直し時に提案を行う。
                  書の参照及び注記)           Table 2                     加した。
     6 活動       信頼性結果の解析             6.1        −      変更     引用先を,IEC/TR 62572-2の内容で附属書JA(規定)を追加したことに関
                                                                           ある附属書JA(規定)に変更した。連して変更した。
     附属書JA              −                  −         −      追加     IEC/TR 62572-2の箇条4箇条7を    IECはTRを引用規格にできるのでshall
     (規定)                                                              翻訳して附属書JA(規定)として追を用いている。IEC/TR 62572-2の内容を
     半導体レーザ                                                          加した。                        追加するに当たり,JISでは附属書JAを
     及び半導体レ                                                                                          (参考)のままshallで引用できないの
     ーザモジュー                                                                                          で,(規定)として追加した。
                                                                                                                                              C5
     ル故障メカニ
                                                                                                                                                 948
     ズム
                                                                                                                                                     : 2017
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    C 5948 : 2017
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                                                                                                                                                  3
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 62572-3:2016,MOD
                                                                                                                                                 9
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
                                                                                                                                                  48 : 2
            − 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
                                                                                                                                                       0
            − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
                                                                                                                                                        17
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
            − MOD  国際規格を修正している。