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C 5953-1 : 2016 (IEC 62149-1 : 2011)
表A.5−カテゴリE−劣悪環境
試験項目・参照規格 試験条件
振動(正弦波) 10 Hz55 Hz
JIS C 61300-2-1 15掃引(10 Hz−55 Hz−10 Hz) 1オクターブ/min
3軸
振幅0.75 mm
低温 −40 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-17 96時間保持
高温 +85 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-18 96時間保持
高温高湿(定常状態) +40 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-19 相対湿度 (93±3) %
96時間保持
温度サイクル −40 ℃±2 ℃+85 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-22,試験Nb 最高温度及び最低温度で60分間保持
変化率1 ℃/min
12サイクル
ダスト(層流) 粉じんのサイズ d<150 μm
JIS C 61300-2-27 粉じん状タルク
+35 ℃ 相対湿度60 % 10分間保持
混合温湿度サイクル Z/ADプロファイル −10 ℃±2 ℃+65 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-21 最高温度で相対湿度 (93±3) %
最高温度及び最低温度で3時間保持
腐食性大気 二酸化硫黄 SO2 25×10−6(体積比)
IEC 61300-2-28 +25 ℃±2 ℃かつ相対湿度 75 %
96時間暴露
塩水噴霧 塩水 5 % NaCl
JIS C 61300-2-26 pH 6.57.2
96時間暴露
浸水(任意選択) 浸水深さ(該当する性能標準で定義)
JIS C 61300-2-45 水温(該当する性能標準で定義)
浸水時間(該当する性能標準で定義)
参考文献 JIS C 5948 光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法
注記 対応国際規格 : IEC 61751,Laser modules used for telecommunication−Reliability
assessment(IDT)
JIS C 61300規格群 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順
IEC 61300 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures
IEC 62005 (all parts),Reliability of fibre optic interconnecting devices and passive components
IEC Guide 109,Environmental aspects−Inclusion in electrotechnical product standards
JIS C 5953-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62149-1:2011(IDT)
JIS C 5953-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5953-1:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-12:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-12部:落下衝撃試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-21:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-21部:混合温湿度サイクル試験
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-26:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-26部:塩水噴霧試験
- JISC61300-2-27:2014
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-27部:ダスト試験(層流)
- JISC61300-2-4:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
- JISC61300-2-4:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
- JISC61300-2-45:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-45部:浸水試験
- JISC61300-2-46:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-46部:湿熱サイクル試験
- JISC61300-2-48:2010
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-48部:温湿度サイクル試験
- JISC61300-2-5:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-5部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり)
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験