JIS C 5954-2:2008 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第２部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ

                                                                                 C 5954-2 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 略号及び記号・・・・[2]
•  3.1 略号・・・・[2]
•  3.2 記号・・・・[2]
•  4 標準環境条件・・・・[2]
•  5 装置・・・・[3]
•  5.1 測定用電源・・・・[3]
•  5.2 光パワーメータ・・・・[3]
•  5.3 可変光減衰器・・・・[3]
•  5.4 パルスパターン発生器・・・・[3]
•  5.5 光スプリッタ・・・・[3]
•  5.6 オシロスコープ・・・・[3]
•  5.7 光ファイバコード・・・・[3]
•  5.8 BER測定器・・・・[4]
•  5.9 基準Tx及び基準Rx・・・・[4]
•  5.10 光スペクトラムアナライザ・・・・[4]
•  5.11 ローパスフィルタ・・・・[4]
•  5.12 光/電気 (O/E) 変換器・・・・[4]
•  6 試験サンプル・・・・[4]
•  7 試験及び測定方法・・・・[4]
•  7.1 Rxアラーム機能・・・・[4]
•  7.2 Txシャットダウン機能・・・・[6]
•  7.3 平均出力 : Pmean・・・・[7]
•  7.4 中心波長及びスペクトル幅・・・・[9]
•  7.5 消光比及び波形マスク試験・・・・[10]
•  7.6 受信感度 (S) 及び最大受信入力 (SO)・・・・[10]
•  8 試験結果・・・・[14]
•  8.1 必す(須)情報・・・・[14]
•  8.2 その他の情報・・・・[14]
•  附属書JA(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[15]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5954-2 pdf 1] ―――――

C 5954-2 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会 (OITDA) 及び
財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
  JIS C 5954の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5954-1 第1部 : 総則
    JIS C 5954-2 第2部 : ATM-PON用光トランシーバ

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――――― [JIS C 5954-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5954-2 : 2008

光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第2部 : ATM-PON用光トランシーバ

Fiber optic active components and devices-Test and measurement procedures-Part 2 : ATM-PON transceivers

序文

  この規格は,2004年に第1版として発行されたIEC 62150-2を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,明
らかな間違いが認められたため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,JIS C 5954規格群の一部であり, ITU-T Recommendation G.983.1で推奨される非同期転
送モードパッシブ光ネットワーク (ATM-PON) システムで使用する光トランシーバの電気光学性の試験
及び測定手順について規定する。ATM-PON用光トランシーバのパッケージインタフェース及び電気光学
性能は,JIS C 5952-6及びJIS C 5953-5の中でそれぞれ規定している。
  これらの試験方法は,ATM-PON用光トランシーバがJIS C 5953-5の規定を満たすかどうかを試験する
方法である。また,この測定方法は,ATM-PON用光トランシーバの精密な測定方法に相当する。これら
のATM-PON用光トランシーバの受信部は,バースト信号を扱うことができる。したがって,この規格で
規定する幾つかの手順は,バースト信号伝送の評価に適用できる。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62150-2 : 2004,Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−
          Part 2 : ATM-PON transceivers (MOD)
            なお,対応の程度を表す記号 (MOD) は,ISO/IEC Guide 21に基づき,修正していることを
          示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5952-6 光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第6部 : ATM-PON用光トラ
        ンシーバ
      注記 対応国際規格 : IEC 62148-6,Fibre optic active components and devices−Package and interface
             standards−Part 6 : ATM-PON transceivers (IDT)

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2
C 5954-2 : 2008
    JIS C 5953-5 光伝送用能動部品−性能標準−第5部 : 半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生
        回路内蔵ATM-PON用光トランシーバ
      注記 対応国際規格 : IEC 62149-5,Fibre optic active components and devices−Performance standards
             −Part 5 : ATM-PON transceivers with LD driver and CDR ICs (MOD)
    IEC 61280-1-3 : 1998 Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 1-3 : Test procedures
        for general communication subsystems−Central wavelength and spectral width measurement
    IEC 61280-2-2 : 1998 Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 2-2 : Test procedures
        for digital systems−Optical eye pattern, waveform, and extinction ratio
    ITU-T Recommendation G.983.1 Broadband optical access systems based on Passive Optical Networks
        (PON)

3 略号及び記号

3.1 略号

  この規格で用いる主な略号は,次による。
3.1.1  BER (Bit error ratio) : ビット誤り率
3.1.2  NRZ (Non return to zero) : エヌアールゼット符号,非ゼロ復帰符号
3.1.3  PRBS (Pseudo random bit sequence) : 擬似ランダムビットパターン
3.1.4  Tx : ATM-PON用光トランシーバの送信器及び/又は送信部
3.1.5  Rx : ATM-PON用光トランシーバの受信器及び/又は受信部
3.1.6  SLM-LD (Single longitudinal mode-laser diode) : 単一縦モード半導体レーザ
3.1.7  MLM-LD (Multi longitudinal mode-laser diode) : 多縦モード半導体レーザ

3.2 記号

  この規格で用いる主な記号は,次による。
      PTH          受光強度に関するアラームしきい(閾)値
      VSUP         電源電圧
      VALL         低レベルアラーム出力電圧
      VALH         高レベルアラーム出力電圧
      PSH          トランスミッタ入力がない場合の光出力
      VSDH         高レベルシャットダウン入力電圧
      VSDL         低レベルシャットダウン入力電圧
      Pmean        ITU-T Recommendation G.983.1で規定する平均出力
      Pave         バーストモード動作時の平均出力
      SO           受信器最大受信入力
      A            フレーム長
      n            1フレーム内のバースト信号数
      B            バースト信号長
      B1           バースト信号パターン1のバースト信号長
      B2           バースト信号パターン2のバースト信号長

4 標準環境条件

――――― [JIS C 5954-2 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                                 C 5954-2 : 2008
  設備の中で行う試験及び測定から得られるデータの適切な相関性を保証するためには,標準大気条件を
一定範囲内に規制する必要がある。試験及び測定方法は,特に指定がない限り,次の環境条件の下で行う。
特別な環境条件が必要な場合は,性能標準の中で指定することができる。試験及び測定を行うための周囲
の条件を,表1に示す。
  なお,周囲の温度及び湿度の変動は,一連の測定の間は最小限に抑えるものとする。
                             表1−試験及び測定のための標準環境条件
                気温             相対湿度                        気圧
                 ℃                 %                            kPa
                1828              2575                          86106

5 装置

5.1 測定用電源

  直流電源はリプル含有率3 %以下,交流電源は高調波含有率5 %以下のものとする。ただし,商用周波
数の場合は,高調波含有率10 %以下とする。
  なお,特に交流出力を測定する試験では,直流電源のリプル含有率,交流電源の高調波含有率及び交流
の流れる直流電源回路の交流インピーダンスは,測定に影響を与えないように小さい値とする。また,サ
ージの侵入に対する十分な防護措置を施さなければならない。

5.2 光パワーメータ

  測定に使用する光パワーメータは,該当する波長及びダイナミックレンジで校正し,分解能0.1 dB以下
とする。

5.3 可変光減衰器

  可変光減衰器は,0.25 dB以下のステップで可変できるものとし,減衰量は,システムの利得より510
dB大きいものとする。Txへの反射戻り光がないように注意しなければならない。

5.4 パルスパターン発生器

  パルスパターン発生器は,Tx装置の電気的なシステム入力インタフェースに要求される信号フォーマッ
ト(パルス波形,振幅など)と一致したシステムPRBS信号及びプログラム可能なワードパターンを発生
することができるものとする。

5.5 光スプリッタ

  光スプリッタ(カプラ)は,適切な光コネクタを装備し,一つの入力ポート及び二つの出力ポートを備
える。出力ポートの分岐比率は,特に指定がない限り,約50 %とする。ATM-PON用光トランシーバは
WWDM(Wide WDM, 1.3/1.55 μm波長分割多重)を採用するため,スプリッタの分岐比率は波長依存性が
ないものを使用しなければならない。

5.6 オシロスコープ

  光学及び/又は電気的なアイパターンを表示するオシロスコープは,測定システムの帯域幅を制限しな
いように,低域フィルタの帯域幅より広い帯域幅を備えるものを使用する。オシロスコープは,光及び/
若しくは電気アイパターンに同期した局所クロック信号,又は光信号から再生した同期信号に同期できる
ものとする。

5.7 光ファイバコード

  適切なコネクタ付きシングルモード光ファイバコードを使用する。

――――― [JIS C 5954-2 pdf 5] ―――――

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