JIS C 5954-2:2008 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第２部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ | ページ 2

4
C 5954-2 : 2008

5.8 BER測定器

  BER測定器は,様々な信号フォーマット(プログラム可能なワードパターン,PRBSなど)を備え,シ
ステムのBER性能を評価する。

5.9 基準Tx及び基準Rx

  Tx及び/又はRxは,測定系において,被試験Tx及び/又は被試験Rxと組み合わせて使用する。
  基準Tx及び/又はRxは,ATM-PON用光トランシーバの光電気特性の試験及び測定する上で,十分に
高い性能でなければならない。特に基準Txは,155.52 Mbit/s以上の広い帯域幅及び10 dB以上の消光比を
備えることが重要である。

5.10 光スペクトラムアナライザ

  試験装置は,光スペクトルを分散分光分析法によって測定するものを使用する。波長分解能は,測定す
る50 nmの範囲において,MLM-LDに対しては0.2 nm,SLM-LDに対しては0.1 nmよりも良いものとす
る。

5.11 ローパスフィルタ

  再現性及び正確さを保証するため,オシロスコープの前の信号経路に次の特性のローパスフィルタを挿
入する。
ローパスフィルタ特性:
     特性インピーダンス:       50 Ω
     −3 dBの帯域幅:           0.75 /T Hz 。Tは,データ信号のビット間隔時間。
      フィルタ・タイプ:        第4次ベッセル・トムソン
  詳細なフィルタの規定は,IEC 61280-2-2の3.1.3による。

5.12 光/電気 (O/E) 変換器

  O/E変換器は,電気的な増幅器を後段に接続した高速フォトダイオードであり,光学波形を十分忠実に
再生できるものを用いる。詳細な規定は,IEC 61280-2-2の3.1.1による。

6 試験サンプル

  試験サンプルは,JIS C 5953-5で規定する性能のATM-PON用光トランシーバとする。
  この規格の図に示すように,被試験ATM-PON用光トランシーバは,各試験及び/又は測定系に組み込
む。

7 試験及び測定方法

7.1 Rxアラーム機能

7.1.1  目的
  入射光信号強度が,しきい(閾)値(PTH : クラスB ATM-PON用光トランシーバの場合は−30 dBm,
クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合は−33 dBm)以下になったとき,アラーム出力電圧は高レ
ベルから低レベルに変わらなければならない。ここでは,ATM-PON用光トランシーバのRxアラーム機能
の試験及び測定方法について規定する。
7.1.2  試験及び測定系
  特に指定がない限り,被試験ATM-PON用光トランシーバ及び基準Txは,図1に示す試験及び測定系
で測定する。

――――― [JIS C 5954-2 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 C 5954-2 : 2008
7.1.3  光スプリッタの校正
a) 試験及び測定の前に,光スプリッタは,次に規定する方法で校正する。
b) 基準Txを通常の動作条件で動作し,信号入力端子に155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号(マーク率
    50 %)を入力する。
c) 基準Txの光出力ポートを光ファイバコードと可変光減衰器を通し,光スプリッタの入力ポートに接
    続する。
d) 光スプリッタの出力ポートAを光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続する。
e) 可変光減衰器を,ポートAの光出力が約PTHとなるように調節し,その値 (PA) を記録する。
f)  光スプリッタの出力ポートBを光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続し,ポ
    ートBの光出力 (PB) を記録する。
g) 光スプリッタの出力ポートAを,光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに再び接続
    する。光スプリッタの出力ポートBを,試験対象のATM-PON用光トランシーバに図1に示すように
    接続する。
h)   B/PAを計算し,その値を入射光強度 (PB) と光パワーメータの表示 (PA) との校正係数として使用す
    る。
                             図1−Rxアラーム機能の試験及び測定系
7.1.4  測定方法
a) 試験対象のATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し,アラーム出力電圧がJIS C 5953-5
    で規定しているVALLの範囲内であることを確認する。
b) 試験対象のATM-PON用光トランシーバと基準Txを,図1に示すように設置する。
c) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号(マーク率50 %)を信号入力端子に入力する。
d)   BがPTHより十分小さくなるように可変光減衰器を調節し,そのPBの値をPILとして記録する。
e)   BがPTHより大きくなるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。
f)  アラーム出力電圧がPBの値がPTH近傍でJIS C 5953-5で規定しているVALLからVALHに変わることを

――――― [JIS C 5954-2 pdf 7] ―――――

6
C 5954-2 : 2008
    確認する。
g)   Bの値がSOとなるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。アラーム出力電圧
    がJIS C 5953-5で規定しているVALHの範囲内であることを確認する。
h)   Bの値がPILとなるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。
i)  アラーム出力電圧がPBの値がPIL以下で,VALHからVALLに変わることを確認する。
  この方法の結果として,PBとアラーム出力電圧の関係を表す図2で示されるようなヒステリシス曲線が
得られる。このヒステリシス曲線が,受光器アラーム機能の測定データである。
                        図2−受光器光入力強度とアラーム出力電圧との関係
7.1.5  試験方法
a) 試験対象のATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し,アラーム出力電圧がVALLの範囲
    内であることを確認する。
b) 試験対象のATM-PON用光トランシーバと基準Txを,図1に示すように設置する。
c) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号(マーク率50 %)を信号入力端子に入力する。
d)   BがPTHと一致するように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧がVALHの範囲内にあることを確
    認し,VALHの値を記録する。
e)   BがPTHより十分小さくなるよう可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧がVALLの範囲内にあるこ
    とを確認し,VALLの値を記録する。

7.2 Txシャットダウン機能

7.2.1  目的
  光出力は,シャットダウン端子の電圧が高レベルから低レベルに変わったとき,入力信号がない状態の
光出力PTH又はPSH(クラスB : ATM-PON用光トランシーバの場合は−40 dBm,クラスC : ATM-PON用
光トランシーバの場合は−43 dBm)以下にしなければならない。ここでは,ATM-PON用光トランシーバ
のTxシャットダウン機能の試験方法について規定する。
7.2.2  測定系
  特に指定がない限り,被試験ATM-PON用光トランシーバは,図3に示すような測定系で測定する。

――――― [JIS C 5954-2 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                                 C 5954-2 : 2008
                         図3−送信機シャットダウン機能の試験及び測定系
7.2.3  試験方法
a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,シャットダウン端子に高レベル電
    圧VSDH(2.0 VVSUP+0.3 V)を加える。
b) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号(マーク率50 %)を信号入力端子に入力し,被試験ATM-PON用
    光トランシーバの平均出力がPmeanの規定値(JIS C 5953-5参照 : クラスB ATM-PON用光トランシ
    ーバの場合−4+2 dBm,クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合−2+4 dBm)の範囲内に
    あることを確認する。
c) 電圧を高レベル電圧VSDHから低レベル電圧VSDL(−0.30.8 V)に変化させ,被試験ATM-PON用光
    トランシーバの平均出力がPTH又はPSH以下であることを確認する。
d) 電圧を低レベル電圧VSDLから高レベル電圧VSDHに変化させ,被試験ATM-PON用光トランシーバの平
    均出力がPmeanの規定値(クラスB ATM-PON用光トランシーバの場合−4+2 dBm,クラスC
    ATM-PON用光トランシーバの場合−2+4 dBm)の範囲内にあることを確認する。

7.3 平均出力 : Pmean

7.3.1  目的
  ATM-PON用光トランシーバの平均出力の測定方法について規定する。
7.3.2  試験及び測定系
  特に指定がない限り,被試験ATM-PON用光トランシーバは,図4に示すような試験及び測定系で測定
する。

――――― [JIS C 5954-2 pdf 9] ―――――

8
C 5954-2 : 2008
                                 図4−平均出力の試験及び測定系
7.3.3  測定方法
a) 図5に示すフレーム長A,バースト信号長B,1フレーム内のバースト信号数nで規定されたバースト
    信号を使用する。ATM-PON用光トランシーバにおいて,Bは56バイトである。
               注記 1フレーム内のバースト信号数n。この図はn=3の場合を表す。
                                   図5−バースト信号パターン
b) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作し,その設計したバースト信号パターン
    をパターン発生器から信号入力端子に入力する。
c) 平均光信号強度又はPaveを光パワーメータで測定し,その値を記録する。
d)   meanを次の式で計算する。
                                     A
                         PmeanPave        (1)
                                   n  B
7.3.4  試験方法
a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作し,155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1 信号
    (マーク率50 %)を信号入力端子に入力する。このPRBS信号は式 (1) においてPmean=Paveとなる場
    合のバースト信号である。
b) 平均光信号出力Paveを光パワーメータで測定し,その値をPmeanとして記録する。
c) 測定したPmean値がPmeanの規定値範囲内にあることを確認する。

――――― [JIS C 5954-2 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11