この規格ページの目次
- 8.6 試験方法3
- 8.6.1 前処理
- 8.6.2 初期測定
- 8.6.3 試験
- 8.6.4 最終測定
- 8.7 製品規格に規定する事項
- 9. 試験Ql : 加圧液体による封止試験
- 9.1 目的
- 9.2 適用範囲
- 9.3 試験方法の概要
- 9.4 初期測定
- 9.5 供試条件
- 9.6 後処理
- 9.7 最終測定
- 9.8 製品規格に規定する事項
- 10. 試験Qm : トレーサガスを用いた内部加圧による封止試験
- 10.1 目的
- 10.2 適用範囲
- 10.3 試験の概要
- 10.3.1 総リーク検出及びリーク箇所検出方法
- 10.3.2 試験方法1 : 蓄積試験
- 10.3.3 試験方法2 : プロービング試験
- 10.4 前処理
- 10.5 供試条件
- 10.5.1 一般事項
- 10.5.2 試験方法1 : 蓄積試験
- 10.5.2.1 手順
- 10.5.2.2 結果の換算及び判定
- 10.5.3 試験方法2 : プロービング試験
- 10.5.3.1 手順
- 10.5.3.2 判定
- 10.6 製品規格に規定する事項
- JIS C 60068-2-17:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS C 60068-2-17:2001の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS C 60068-2-17:2001の関連規格と引用規格一覧
表3 厳しさ及び試験条件(対応する等価標準リーク率)
浸せき圧力 浸せき時間 厳しさ6時間 厳しさ60時間 厳しさ600時間 厳しさ1 000時間 等価標準リー
(絶対圧) (最小値) ( 燿 2×104s) ( 燿 2×105s) ( 燿 2×106s) ( 燿 2×106s) ク率
t1 (L)
内容積 測定リーク率 内容積 測定リーク率 内容積 測定リーク率 内容積 測定リーク率
(V) (R) (V) (R) (V) (R) (V) (R)
(最大値) (最大値) (最大値) (最大値)
105Pa min cm3 Pa・cm3/s cm3 Pa・cm3/s cm3 Pa・cm3/s cm3 Pa・cm3/s Pa・cm3/s
2 70 0.01を超え 10−5 0.02を超え 10−5 5×10−4を超え
3 45 0.1以下 0.2以下 1.5×10−3以下
4 30
5 30
8 20
2 70 0.01を超え 10−3 0.1を超え 10−4 0.2を超え 10−4 5×10−3を超え
3 45 0.1以下 1.0以下 2.0以下 1.5×10−2以下
4 30
5 30
8 20
2 70 0.01を超え0.1 0.1を超え 10−2 1.0を超え 10−3 2.0を超え 10−3 0.05を超え
3 45 0.1以下 1.0以下 10以下 20以下 0.15以下
4 30
5 30
8 20
C0
2 240 0.1を超え 2 1.0を超え 0.5 10を超え 0.05 20を超え 10−2 0.5を超え
0
1.0以下 10以下 100以下 200以下 1.5以下
2
3 160
6:
4 120
20
5 90
01(
8 60
IEC6
2 480 5 1 0.1 0.05
0
3 320
068
4 240
-2-
5 190
17:
8 120
199
1
4
1
)
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C 0026 : 2001 (IEC 60068-2-17 : 1994)
8.6 試験方法3
(壁又はパネルに取り付ける供試品の場合)8.6.1 前処理
グリース,指紋,溶剤などリークを隠すようなすべての汚れを供試品からとる。清掃が終
わった後,リークを隠すような溶剤,毛細管現象による凝縮物などを取り去るため供試品を乾燥する。
8.6.2 初期測定
測定口を弁で試験槽から気密分離し,試験槽を排気し,質量分析計が適切な動作をする
ように減圧したときに試験槽を質量分析計につなぐ。
ヘリウムガスを注入しないで分析計で発生する残留信号を記録する。基準ヘリウムガスリークで分析計
の機能を調べる。
8.6.3 試験
測定口に供試品を置く。次に隔離弁を開き供試品を真空にさらす。質量分析計が機能するの
に十分な圧力になっているかを調べ,前もって記録した値とほぼ同じ値に残留信号が安定するまで減圧す
る。
選択a : ヘリウムガスを満たした可とう性のポケットで供試品の外側を覆う。次に質量分析計の読みを
記録する。
選択b : 低圧のヘリウムガスを噴射しながら供試品の外側を掃引する。次に質量分析計の読みを記録す
る。
参考 できれば製品規格に,ヘリウムガスの圧力を規定することが望ましい(附属書EのE.14参照)。
8.6.4 最終測定
測定リーク率Rは,残留信号を差し引いてから基準リーク率と比較することで決める。
8.7 製品規格に規定する事項
この試験方法を製品規格で規定するとき,次の事項をできるだけ詳細に
規定することが望ましい。
関連箇条項目
a) 試験方法 8.2及び8.3参照
試験方法1
b) 厳しさ 8.4.1参照
c) 試験項目 8.4.4参照
d) 試験項目(特別な場合) 8.4.1参照
e) 圧力の最大値(供試品の種類による。) 8.4.5参照
f) 大リークを検出する方法 8.4.8参照
試験方法2
g) リークの時定数 8.5.3参照
h) 大リークを検出する方法 8.5.4参照
試験方法3
i) 取付け条件(必要な場合) 8.5.1参照
j) 選択a)又はb) 8.6.3参照
k) ヘリウムガス圧力 8.6.3選択b)参照
l) 合格基準 8.2参照
9. 試験Ql : 加圧液体による封止試験
9.1 目的
この試験方法は,液体の浸入によって電気的特性が影響を受ける供試品の封止の有効性を調
べることを目的とする。
9.2 適用範囲
この試験方法は,空気のリーク率で1Pa・cm3/sを超えるリークの検出に適用する。
なお,この試験方法は,試験のときに加わる過大な圧力に耐える供試品だけに適用する(附属書FのF.1
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C 0026 : 2001 (IEC 60068-2-17 : 1994)
及びF.2参照)。
9.3 試験方法の概要
この試験方法は,供試品のリークがある部分から,液体を内部に浸入させて試験
を行う方法である。
液体は,供試品の電気的特性を変化させて検出できるようにするものを使用する。リークの判定は液体
(例えば,適切なアルコール)の浸入によって影響を受けるような電気的特性を測定することによって行
う。
なお,液体に顔料を加えておけば,供試品を分解することによって浸入経路が分かる。また,液体の浸
入が電気的特性の変化に影響を及ぼすには,通常,ある程度の時間を要するので,最終測定は短い時間を
おいて繰り返して行うことが必要な場合がある。
この試験方法の最高感度は,1Pa・cm3/sである。
なお,リーク率の定量的な測定は,不可能である。
9.4 初期測定
製品規格の規定に基づき,供試品の外観を目視によって調べ,電気的測定及び機械的点
検を行う。
9.5 供試条件
9.5.1 圧力容器には,製品規格に規定するアルコール及び/又は洗剤入りの水を入れておく(附属書F
のF.4参照)。
9.5.2 試験液を,試験場所の標準状態又は製品規格に規定の温度にする。
9.5.3 供試品は,圧力容器の中に入れた液体に完全に浸す。
9.5.4 圧力容器内の圧力を,製品規格に規定の値まで昇圧する。
備考 最高圧力は,主として供試品の構造による。この値は,一般に500kPaを超えないほうがよい(附
属書FのF.3参照)。
9.5.5 試験時間は,製品規格に規定の時間とする。
なお,通常,規定の時間は,16時間以内とするが,特別な場合として,低い圧力を使用した場合には,
24時間まで延長してもよい。
9.5.6 容器内の圧力を大気圧まで下げて,供試品を容器から取り出す。
9.6 後処理
製品規格に規定がある場合は,供試品を製品規格に規定の洗浄液で洗浄する。供試品に試
験室の空気を短時間吹き付けて乾燥し,標準後処理状態(JIS C 0010の5.4.1)で製品規格に規定の時間放
置する。
9.7 最終測定
製品規格の規定に基づき,供試品の外観を目視によって調べ,電気的測定及び機械的点
検を行う。
備考 測定結果に疑義がある場合には,適切な放置時間をおいた後,再度測定を行う。
9.8 製品規格に規定する事項
この試験方法を製品規格で規定するとき,次の事項をできるだけ詳細に
規定することが望ましい。
関連箇条項目
a) 初期測定 9.4参照
b) 試験液の種類 9.5.1参照
c) 試験液の温度 9.5.2参照
d) 試験容器内の圧力 9.5.4参照
e) 試験時間 9.5.5参照
f) 洗浄液の種類 9.6参照
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C 0026 : 2001 (IEC 60068-2-17 : 1994)
g) 後処理時間 9.6参照
h) 最終測定 9.7参照
i) 再後処理及び再測定 9.7参照
10. 試験Qm : トレーサガスを用いた内部加圧による封止試験
10.1 目的
六ふっ化硫黄,ハロゲンガスなど空気と簡単に分離できるトレーサガスを用い,それらを蓄
積することによって微小なリークを測定する方法及びプローブによって検出する方法を規定する。
10.2 適用範囲
この試験は,内部加圧に耐える供試品に適用する。約10−2Pa・cm3/s以上のリークの検出
を行うことができる。
10.3 試験の概要
10.3.1 総リーク検出及びリーク箇所検出方法
1回の操作でリークの総量を測定することができるが,リ
ーク箇所の数と場所を知ることはできない。総リークの検出方法は,リーク量を測定する方法であり,要
求に基づき個々のリーク箇所を検出するリーク箇所検出方法と区別する必要がある。
例 蓄積試験方法は,“総リーク検出方法”である。プロービング試験方法は,“リーク箇所検出方法”
である。
これ以外に,供試品の一部分からのリークを蓄積する中間的方法がある。この方法は,供試品のどの部
分にも適用できる。
10.3.2 試験方法1 : 蓄積試験
リーク率を測定しようとする供試品の内部をトレーサガスで加圧する。リ
ークが安定してから供試品全体(又はその表面の一部分)を気密性の容器で覆い,測定時間の間にリーク
したガスを蓄積する。このようにして集められたガス量を測定し,リーク率を算出する。
10.3.3 試験方法2 : プロービング試験
リークを検出しようとする供試品の内部をトレーサガスで加圧す
る。リークが安定してからリーク検出器のプローブを供試品の表面で移動させる。トレーサガスの濃度が
検出器のしきい値に達するとリークの存在を示す信号を出し,リーク箇所を特定する。
備考 プロービング試験は,リーク率を測定するものではない。しかし,規定したリーク率を超えて
いるかどうかを評価できることがある。この場合,リーク検出器のしきい値と試験条件(周囲
大気の汚れ,プローブの動きの速さ,供試品の性質など)を考慮することが必要である。
10.4 前処理
使用しない開口部分をリークの測定に支障がないように封止しておく。開口部分を後で使
用するなら,接続する部分の封止試験を行わなければならない。
製品規格には,前処理の追加事項を規定する。
供試品を清浄にし,乾燥させる。
10.5 供試条件
10.5.1 一般事項
製品規格で次のことを規定する。
a) 使用する方法(試験方法1,試験方法2,又は中間的方法)
b) 供試品を動作させるかどうか,動作させないならばその状態(開放,閉鎖など)。
10.5.2 試験方法1 : 蓄積試験
10.5.2.1 手順
a) 供試品を加圧する。
製品規格に試験圧力を規定する。
充てんガスを再利用するなら,一般に排気後に加圧する。
b) リークが安定する時間[製品規格で規定する(附属書GのG.1参照)。]放置する。
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C 0026 : 2001 (IEC 60068-2-17 : 1994)
c) 測定容積を決めるため容器を正しい位置に置き,トレーサガスの初期濃度C0を測定する。測定時刻を
t0とする。
d) 厳しさ(附属書GのG.2.1参照)によって決まる時間が経過してから,最終濃度C1を測定する。測定
時刻をt1とする。
備考 実用上,初期濃度を零として,規定のしきい値を与えた0又は1の指示計を用いて,しきい値
を超えた信号が出るまで定時間間隔で測定容器にプローブを入れることで蓄積試験を行うこと
も可能である。
10.5.2.2 結果の換算及び判定
測定器の読みは,定期的に検査された校正チャートによって濃度に換算す
ることができる。
次の式で,供試品のリーク率を算出する。
Vm C1−C0 10−6
R= P
t1−t0
ここに, R : リーク率 (Pa・cm3/s)
Vm : 測定容積 (cm3)
t0−t1 : 時間間隔 (s)
C0,C1 : トレーサガスの濃度 (cm3/m3)
P 燿 供試品の外側表面の圧力 (Pa),P0=105 (Pa)
供試品の測定リーク率が,製品規格で許容されている最高値を超えていなければ合格である。
10.5.3 試験方法2 : プロービング試験
10.5.3.1 手順
a) 供試品を加圧する。
製品規格で試験圧力を規定する。
充てんガスを再利用するなら,一般に排気後に加圧する。
b) リークが安定する時間[製品規格で規定する(附属書GのG.1参照)。]放置する。
c) 供試品の最もリークが出やすい表面で(例えば,溶接部分,ガスケット接合部分など),プローブをゆ
っくり動かす。信号が発生したらプローブの位置を記録する。
一般にこの方法は,前処理が行われた後(10.4参照)で蓄積試験を行う前にリーク箇所を知るために使
用する。
10.5.3.2 判定
この試験は,リーク箇所が分かれば有効である。
10.6 製品規格に規定する事項
この試験方法が製品規格に規定されており,実際に適用する場合,次の
項目を明記しなければならない。
関連箇条項目
a) 試験方法2を用いてリーク率を測定してよいかどうか。 10.3.3備考参照
b) 前処理の追加事項 10.4参照
c) 使用する方法(試験方法1,試験方法2及び中間的方法) 10.5.1 a)参照
d) 供試品を動作させるかどうか。 10.5.1 b)参照
e) 試験圧力とガスを安定させる時間 10.5.2.1 a)及びb),10.5.3.1 a)
及びb)参照
f) 高リーク率 10.5.2.2参照
――――― [JIS C 60068-2-17 pdf 20] ―――――
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JIS C 60068-2-17:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60068-2-17:1994(IDT)
JIS C 60068-2-17:2001の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 60068-2-17:2001の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針