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C 60068-2-38 : 2013 (IEC 60068-2-38 : 2009)
b) 温度の一定期間中及び上昇期間中は,相対湿度を(93±3)%に保つことができる。また,温度の下降
期間中は,相対湿度を80 %96 %の間に保つことができる。
c) 槽内の温湿度条件は,有効空間中のいずれの点でも,この規格で規定した温湿度条件の許容値以内に
あり,かつ,適切な位置に取り付けた検出器のごく近傍の条件に,できるだけ近い条件でなければな
らない。
この条件を満たすために,槽内の空気を連続的に一定の速さでかくはんできなければならない。
d) 供試品は,槽の温度制御用装置からの放射熱を直接受けないようにする。
e) 槽内の湿度を維持するために用いる水の電気抵抗率は,500 Ωm以上(導電率は,20 μS/cm以下)と
する。
f) 凝縮した水は,連続的に槽外に排出できなければならない。ただし,浄化した水は,再使用してもよ
い。
槽内の壁面及び天井の結露水が,供試品の上に落ちないように防止しなければならない。
4.2 低温槽
供試品を低温状態にさらすための低温槽は,次のa)及びb)の条件を満たさなければならない。
a) 槽内の温度は,−10 ℃±2 ℃に保つことができる。
b) 槽内の温湿度条件は,有効空間中のいかなる点でも均一であり,かつ,適切な位置に取り付けた検出
器のごく近傍の条件に,できるだけ近い条件でなければならない。
この条件を満たすために,槽内の空気を連続的に一定の速さでかくはんできなければならない。また,
供試品の熱容量が,試験条件に影響を与えないように注意する。
湿度槽を低温槽として用いる場合,4.1に規定する条件のほか,更に次の1)3)の条件を満たさなければ
ならない。
1) 槽内の温度を,設定温度25 ℃±2 ℃から−10 ℃±2 ℃まで,30分間以内に下げることができる。
2) 供試品を−10 ℃±2 ℃に3時間以上保つことができる。
3) 槽内の温度を,設定温度−10 ℃±2 ℃から25 ℃±2 ℃まで,90分間以内に上げることができる。
5 厳しさ
試験は,特に規定がない場合,24時間サイクルを10回行う。10回以外の場合には,製品規格に,その
回数を規定する。
6 試験方法
6.1 前処理
供試品は,特に規定がない場合,湿度試験の最初のサイクルの開始前に包装を解き,動作が可能な状態
にしてスイッチを切り,JIS C 60068-1の5.5(標準予備乾燥条件)に規定する標準予備乾燥条件(55 ℃±
2 ℃,相対湿度20 %以下)に24時間放置する。初期測定の前に,供試品を標準条件又は製品規格で規定
する条件で,熱的に安定させる(図1参照)。
――――― [JIS C 60068-2-38 pdf 6] ―――――
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C 60068-2-38 : 2013 (IEC 60068-2-38 : 2009)
100
90
80
70
%
60
度
相対湿
50
40
30
20
相対湿度は
10 20 %以下
0
0 12 24 時間 h
60
57
53
50
温度の下降速度は
規定しない
40
温度 ℃
30
20
前処理期間
初期測定
10 乾燥期間 安定化期間
0
0 12 24 時間 h
図1−前処理
6.2 初期測定
製品規格の規定に基づき,供試品の外観を目視によって調べ,その後電気的測定及び機械的点検を行う。
6.3 試験条件
この規格で規定する±2 ℃の温度許容差は,計測の誤差,緩やかな時間的な温度変動及び空間内の温度
分布による誤差を考慮している。この規格で規定する許容差内で相対湿度を維持するためには,常に有効
――――― [JIS C 60068-2-38 pdf 7] ―――――
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C 60068-2-38 : 2013 (IEC 60068-2-38 : 2009)
空間内の任意の2点間の温度差をより小さくなるように維持する必要がある。温度差が1 ℃を超えた場合
には,必要な湿度条件を達成することができないときがある。このため,短時間での温度変動を±0.5 ℃
に維持することが望ましい。
供試品は,包装を解き,動作が可能な状態にしてスイッチを切るか,又は製品規格に規定する状態で,1
サイクル24時間の温湿度サイクルを10サイクル行う。
第1サイクル第9サイクルの中の任意の5サイクルは,温湿度サブサイクル(図2のaf参照)を行
った後,低温サブサイクルを実施する。ただし,低温サブサイクルを行う時期を製品規格に規定すること
が望ましい。
――――― [JIS C 60068-2-38 pdf 8] ―――――
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C 60068-2-38 : 2013 (IEC 60068-2-38 : 2009)
100
96
93
90
80
%
70
相対湿度
相対湿度の
60
制御なし
10
0
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 時間h
a b c d e f g
70
* *
60
50
40
温度℃
30
* *
*
20 推奨限界
1.5 1.5 1.5 1.5
許容限界
2.5 2.5 2.5 2.5 (6.4.2参照)
10
推奨限界
許容限界
(6.4.2参照)
0
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 時間h
10
* *
注*) この時点での時間の許容差は,±5分とする。
図2−低温サブサイクルを含む24時間サイクル
低温サブサイクルを実施するためには,同じ槽の温度を変える,又は他の槽を用いて供試品を規定する
温度の低温槽に移し換える。他の槽を用いる場合,移し換えによる熱衝撃ストレスが供試品に影響を与え
――――― [JIS C 60068-2-38 pdf 9] ―――――
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C 60068-2-38 : 2013 (IEC 60068-2-38 : 2009)
ないことが分かっている場合を除き,熱衝撃ストレスを与えないことが望ましい。
二つの槽を用いて発生する熱衝撃ストレスによって,供試品に重大な損傷が生じた場合,別の供試品を
用いて緩やかな温度変化による再試験を行う。
第1サイクル第9サイクルの残りの4サイクル及び最終サイクルは,低温状態にさらしてはならない
(6.4.3及び図3参照)。
なお,全ての場合で,湿度サイクルは同じとする。
――――― [JIS C 60068-2-38 pdf 10] ―――――
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JIS C 60068-2-38:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60068-2-38:2009(IDT)
JIS C 60068-2-38:2013の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 60068-2-38:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)