JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性―第４－１１部：試験及び測定技術―電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

                                                          C 61000-4-11 : 2008 (IEC 61000-4-11 : 2004)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[3]
•  5 試験レベル・・・・[3]
•  5.1 電圧ディップ及び短時間停電・・・・[3]
•  5.2 電圧変動(オプション)・・・・[6]
•  6 試験装置・・・・[7]
•  6.1 試験電圧発生器・・・・[7]
•  6.2 電源・・・・[9]
•  7 試験セットアップ・・・・[9]
•  8 試験手順・・・・[9]
•  8.1 試験室の基準条件・・・・[10]
•  8.2 試験の実施・・・・[10]
•  9 試験結果の評価・・・・[11]
•  10 試験報告書・・・・[12]
•  附属書A(規定)試験回路の詳細・・・・[13]
•  附属書B(参考)電磁環境クラス・・・・[15]
•  附属書C(参考)試験計器・・・・[16]

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C 61000-4-11 : 2008 (IEC 61000-4-11 : 2004)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人電気学会
(IEEJ)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出が
あり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-11:2003は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
  JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機
        器)
    JIS C 61000-4-2 第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4部 : 試験及び測定技術−第5節 : サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
        妨害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミ
        ュニティ試験
    JIS C 61000-6-1 第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
    JIS C 61000-6-2 第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                     C 61000-4-11 : 2008
                                                                      (IEC 61000-4-11 : 2004)

電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-11: Testing and measuring techniques-Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

序文

  この規格は,2004年に第2版として発行されたIEC 61000-4-11を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対して,低圧電源に接続する電気・電子機器の
イミュニティ試験方法及び適切な試験レベルの範囲について規定する。
  この規格は,50 Hz又は60 Hzの交流回路に接続する,一相当たり16 A以下の定格入力電流をもつ電気・
電子機器に適用する。
  この規格は,400 Hzの交流回路に接続する電気・電子機器には適用しない。これらに対する試験は,将
来のJISで取り扱う。
  この規格の目的は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティを評価するための一
般的な基準を確立することにある。
    注記1 低振幅電圧変動のイミュニティ試験は,JIS C 61000-4-14で規定する。
  この規格は,機器のイミュニティを評価するための矛盾がない方法,又は定義する現象に対する体系を
規定する。この規格は,EMC基本規格であり,製品規格委員会が用いる。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-11:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and measurement
            techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests (IDT)
              なお,対応の程度を表す記号 (IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを
            示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    IEC 61000-2-8 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-8: Environment−Voltage dips and short

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2
C 61000-4-11 : 2008 (IEC 61000-4-11 : 2004)
        interruptions on public electric power supply systems with statistical measurement results

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
基本EMC規格(basic EMC standard)
  電磁両立性を実現するための一般的及び基本的条件又は規則を規定し,すべての製品及びシステムに関
係又は適用し,製品規格委員会の参考となる規格。
3.2
イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能劣化せずに動作することができる能力。
  (JIS C 60050-161-01-20)
3.3
電圧ディップ(voltage dip)
  電力供給システムのある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の電圧ディップしきい値以下へ
の突然の電圧低下。
     注記1 一般的に,電圧ディップは,系統又は系統に接続する設備における,回路の短絡又はその他
            の急激な電流増加の発生及び終了によって発生する。
     注記2 電圧ディップは,そのレベルが電圧及び時間(継続時間)によって決まる二次元の電磁妨害で
            ある。
3.4
短時間停電(short interruption)
  電力供給システムのある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の短時間停電しきい値以下への
すべての相の突然の電圧低下。
    注記 一般的に,短時間停電は,系統又は系統に接続する設備における,回路の短絡の発生及び終了
          に関連した遮断器の動作によって発生する。
3.5
残存電圧(電圧ディップの)[residual voltage(of voltage dip)]
  電圧ディップ又は短時間停電の最中に記録された,実効値電圧の最小値。
    注記 残存電圧は,電圧値(ボルト),又は基準電圧の百分率若しくはPU値のいずれかで表現するこ
          ともある。
3.6
誤動作(malfunction)
  機器が想定する動作を実行できなくなる状態,又は想定しない動作を実行する状態。
3.7
校正(calibration)
  測定機器が仕様に適合していることを証明する作業。
3.8
検証(verification)
  試験システム(例えば,試験電圧発生器と相互接続しているケーブル)を確認し,この試験システムが

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                                                                                              3
                                                          C 61000-4-11 : 2008 (IEC 61000-4-11 : 2004)
箇条6に規定する仕様の範囲内で機能していることを証明するために用いる一連の操作。
    注記1 検証のために用いる方法は,校正のために用いる方法と異なることもある。
    注記2 6.1.2の検証手順は,意図する波形を供試機器(以下,EUTという。)に印加するための試験
            セットアップを構成する試験電圧発生器,及びほかの構成機器の正しい動作を保証するため
            の指針としての意味をもつ。

4 一般事項

  電気・電子機器は,電源の電圧ディップ,短時間停電又は電圧変動によって影響を受けることがある。
  電圧ディップ及び短時間停電は,電力系統若しくは設備における短絡などの故障(IEC 61000-2-8も参照),
又は負荷の大きな急変によって発生する。ある状況では,2回以上連続した電圧ディップ又は短時間停電
が発生することがある。電圧変動は,電源に接続した連続的に変化する負荷によって発生する。
  これらの現象は,実際には不規則であるが,試験所でシミュレーションの目的に沿って定格電圧からの
逸脱幅及び継続時間で特徴付けることができる。
  したがって,この規格では,急激に変化する電圧の影響をシミュレーションするための各種試験を規定
する。これらの試験は,製品規格又は製品規格委員会の責任で,特定な場合及び必要な場合にだけ適用す
る。
  この規格において,考察した現象の中で,どの現象が問題となるかを確定し,試験の適用を決定するの
は,製品規格委員会の責任とする。

5 試験レベル

  この規格で,電圧試験レベルを規定する基準(以下,UTという。)として機器の定格電圧を用いる。
  機器の定格電圧が範囲をもつ場合には,次を適用する。
a) 定格電圧範囲の幅が定格の下限電圧の20 %を超えない場合には,試験レベルを規定する基準(UT)と
     して,定格電圧範囲内の単一の電圧を指定してよい。
b)   )以外の場合には,電圧範囲の下限及び上限電圧の両方で試験しなければならない。
c) 試験レベル及び継続時間を選択する場合は,IEC 61000-2-8を指針とする。

5.1 電圧ディップ及び短時間停電

  電圧ディップ及び短時間停電は,UTと低下後の電圧との間を急激に変化する。この過程は,電源電圧の
任意の位相角で開始及び終了できる。試験電圧レベル(%UT表示)は,0 %,40 %,70 %及び80 %を
適用し,そのときの残存電圧は,それぞれ0 %,40 %,70 %及び80 %となる。
  電圧ディップに対する適切な試験レベル及び継続時間を表1に示し,例を図1a)及び図1b)に示す。
  短時間停電に対する適切な試験レベル及び継続時間を表2に示し,例を図2に示す。
  表1及び表2に示す試験レベル及び継続時間は,IEC 61000-2-8の情報を考慮に入れて決められたもので
ある。
  表1の試験レベルは,適度に厳しい値となっており,現実に発生する多くの電圧ディップを代表するが,
すべての電圧ディップに対するイミュニティは保証していない。例えば,試験レベル0 %,継続時間1秒
の平衡三相電圧ディップのような,より厳しい電圧ディップについては,製品規格委員会が採否を検討し
てもよい。
  急激な変化における電圧回復に要する時間tr及び電圧低下に要する時間tfを,表4に示す。
  試験レベル及び継続時間は,製品仕様に明記しなければならない。0 %の試験レベルは,停電に相当す

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