JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性―第４－８部：試験及び測定技術―電源周波数磁界イミュニティ試験

                                                            C 61000-4-8 : 2016 (IEC 61000-4-8 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[3]
•  5 試験レベル・・・・[3]
•  6 試験装置・・・・[4]
•  6.1 一般事項・・・・[4]
•  6.2 試験用電源・・・・[4]
•  6.3 誘導コイル・・・・[5]
•  6.4 試験用及び補助測定器・・・・[7]
•  7 試験セットアップ・・・・[7]
•  7.1 試験セットアップ構成品・・・・[7]
•  7.2 床置形機器のためのRGP・・・・[7]
•  7.3 EUT・・・・[8]
•  7.4 試験用電源・・・・[8]
•  7.5 誘導コイル・・・・[8]
•  8 試験手順・・・・[8]
•  8.1 一般事項・・・・[8]
•  8.2 試験室の基準条件・・・・[8]
•  8.3 試験の実施・・・・[9]
•  9 試験結果の評価・・・・[9]
•  10 試験報告書・・・・[10]
•  附属書A(規定)誘導コイルの校正方法・・・・[14]
•  附属書B(規定)誘導コイルの特性・・・・[15]
•  附属書C(参考)試験レベルの選択・・・・[21]
•  附属書D(参考)電源周波数磁界強度の情報・・・・[23]

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――――― [JIS C 61000-4-8 pdf 1] ―――――

C 61000-4-8 : 2016 (IEC 61000-4-8 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-8:2003は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000-4の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
        妨害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション
        及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61000-4-8 : 2016
                                                                       (IEC 61000-4-8 : 2009)

電磁両立性−第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-8: Testing and measurement techniques-Power frequency magnetic field immunity test

序文

  この規格は,2009年に第2版として発行されたIEC 61000-4-8を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,次の区域に設置する機器の動作状態における,50 Hz及び60 Hzの電源周波数の磁界(以
下,電源周波数磁界という。)に対するイミュニティ試験について規定する。
− 居住用及び商業用地域
− 工業用施設及び発電所
− 中圧及び高圧変電所
    注記1 この規格では,系統電圧を次のように分類している。
              低圧(LV) : 1 kV以下の電圧
              中圧(MV) : 1 kVを超え,35 kV以下の電圧
              高圧(HV) : 35 kVを超え,230 kV以下の電圧
              超高圧(EHV) : 230 kVを超える電圧
  それぞれの区域に設置する機器に対するこの規格の適用の可否については,箇条4に規定するとおり,
磁界の存在によって決定する。
  この規格では,施設されたケーブル又はその他の部分における,容量性又は誘導性結合による妨害は,
考慮していない。これらの妨害は,伝導妨害を扱う他の規格で規定している。
  この規格の目的は,電源周波数の磁界(連続及び短時間磁界)の影響を受けた場合の,居住用,商業用
及び工業用の電気・電子機器の性能を評価するための,共通性及び再現性がある試験の基本事項を確立す
ることである。
  この規格では,次の事項を規定する。
− 試験レベル
− 試験装置
− 試験セットアップ
− 試験手順
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

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2
C 61000-4-8 : 2016 (IEC 61000-4-8 : 2009)
            IEC 61000-4-8:2009,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and measurement
                techniques−Power frequency magnetic field immunity test(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
総合電流ひずみ率(current distortion factor)
  基本波電流の実効値に対する,交流電流の高調波成分の実効値の比。
3.2
EUT(equipment under test)
  供試機器。
3.3
誘導コイル(inductive coil)
  規定する電流を流す形状及び寸法をもつ導体ループで,その平面及び囲まれた領域中に規定する一定の
磁界を発生するもの。
3.4
誘導コイル係数(inductive coil factor)
  規定する寸法の誘導コイルによって生じる,EUTがない状態でコイル平面の中心で測定する磁界強度と,
対応する電流値との比率。
3.5
浸せき法(immersion method)
  誘導コイルの中心にEUTを置き,EUTに磁界を印加する方法(図1参照)。
3.6
近接法(proximity method)
  特に感度が高い部分を検出するためにEUTの側面に沿って小さな誘導コイルを移動させ,EUTに磁界
を印加する方法(図6参照)。
3.7
基準グラウンド面,RGP(reference ground plane)
  電位を,電源及び附属機器に対する共通の基準として用いる平らな導電性表面(RGPは,図5にあるよ
うに,誘導コイルのループ閉路の一部として用いることができる。)。
  (JIS C 60050-161の161-04-36修正)

――――― [JIS C 61000-4-8 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                            C 61000-4-8 : 2016 (IEC 61000-4-8 : 2009)
3.8
減結合回路網(decoupling network,back filter)
  磁界イミュニティ試験に供されない別の機器との相互の影響を避けるための電気回路。

4 一般事項

  機器が磁界にさらされた場合,機器及びシステムの確実な動作が影響を受ける可能性がある。
  この規格で規定する試験は,特定の場所,及び機器の設置条件によって機器が電源周波数磁界にさらさ
れるとき(例えば,妨害発生源への近接)の,機器のイミュニティを検証することを目的とする。
  電源周波数磁界は,導体の電源周波数電流,又はまれに機器に接近する他の装置によって発生する(例
えば,変圧器からの漏れ磁束)。
  近接導体の影響に関しては,次の事項との違いを明確にしておくことが望ましい。
− 比較的小さい定常磁界を生じる通常動作状態における電流。
− 保護装置が動作するまで(ヒューズで数ミリ秒,保護継電器については数秒)の短時間ではあるが比
    較的大きい磁界を生じることがある事故状態における電流。
  連続磁界での試験は,公共若しくは工業用低圧配電系統用,又は電気プラント用の全てのタイプの機器
に適用することができる。
  事故電流による短時間磁界での試験は,連続状態とは異なる試験レベルが必要である。
  最高値は,主に電気プラントの磁気的に露出した場所に設置する機器に適用する。
  試験磁界波形は,電源周波数の波形とする。
  多くの場合(定常状態における家庭用区域,変電所及び発電所),高調波によって生じる磁界は無視して
よい。

5 試験レベル

  50 Hz及び60 Hzの配電系統に適用する,連続磁界及び1秒3秒の短時間磁界のそれぞれに対する試験
レベルの推奨範囲を表1及び表2に示す。
  磁界強度は,アンペア毎メートル(A/m)で表す。1 A/mの磁界は,自由空間では1.26 μTの磁束密度に
相当する。
                                表1−連続磁界に対する試験レベル
                                 レベル                 磁界強度
                                                          A/m
                                   1                        1
                                   2                        3
                                   3                       10
                                   4                       30
                                   5                      100
                                   xa)                    特別
                         注a) “x”は,他のレベルよりも大きい若しくは小さい,
                              又は他のレベルの間のいかなる磁界強度も指定で
                              きる。この磁界強度は,製品仕様の中で指定できる。

――――― [JIS C 61000-4-8 pdf 5] ―――――

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