JIS C 61000-6-2:2019 電磁両立性―第６－２部：共通規格―工業環境におけるイミュニティ規格

                                                            C 61000-6-2 : 2019 (IEC 61000-6-2 : 2016)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 性能判定基準・・・・[5]
•  5 試験中の条件・・・・[5]
•  6 製品文書・・・・[6]
•  7 適用方法・・・・[6]
•  8 測定の不確かさ・・・・[6]
•  9 イミュニティ試験要求事項・・・・[6]
•  附属書A(参考)製品規格作成委員会へのガイダンス・・・・[11]

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C 61000-6-2 : 2019 (IEC 61000-6-2 : 2016)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-6-2:2008は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機
        器)
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4-16部 : 試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に
        対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション
        及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験JIS C 61000-6-1 第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ規格

    JIS C 61000-6-2 第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ規格

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61000-6-2 : 2019
                                                                       (IEC 61000-6-2 : 2016)
                 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−
                 工業環境におけるイミュニティ規格

Electromagnetic compatibility (EMC)- Part 6-2: Generic standards-Immunity standard for industrial environments

序文

  この規格は,2016年に第3版として発行されたIEC 61000-6-2を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,JIS C 61000規格群の中で,工業地域で使用する電気装置及び電子装置のEMCに関わるイ
ミュニティ要求事項について規定する。
  周波数範囲が直流から400 GHzまでのイミュニティ要求事項を対象とする。要求事項を規定していない
周波数では,試験を行う必要はない。
  対象製品に対してイミュニティに関する適切な製品規格又は製品群規格がない場合は,この共通イミュ
ニティ規格を適用する。
  この規格は,3.7で定義する,屋内及び屋外の工業地域で動作することを意図した電気装置及び電子装置
に適用する。
  この規格は,直流系統に直接接続することを意図した装置,又は電池によって動作する装置で,工業地
域で使用する装置にも適用する。
  この規格は,静電気放電を含む,連続的及び過渡的な,伝導妨害及び放射妨害に関するイミュニティ要
求事項を規定する。
  このイミュニティ要求事項は,工業地域内で動作する装置の適正なイミュニティレベルを確保するため
に選択した。しかし,このイミュニティレベルは,どのような場所でも発生する可能性があるが,発生す
る確率が極めて小さい極端なケースについては,考慮していない。この規格では,試験項目に全ての妨害
現象を取り上げるのではなく,この規格を適用する装置に対して適切であるとみなされる妨害現象だけを
選定している。これらの試験要求事項は,最も重要なイミュニティ要求事項である。試験要求事項は,対
象とするそれぞれのポートに対して規定する。
    注記1 他の妨害現象に関する情報は,IEC TR 61000-4-1を参照。
    注記2 この規格は,安全性を考慮したイミュニティについては取り扱わない。
    注記3 特別な場合,妨害波のレベルがこの規格で規定したレベルを超えることがある。例えば,
            CISPR 11で規定する,工業,科学及び医療用装置の近傍に設置した装置,又は装置の近傍で
            携帯形送信機を使用した場合である。このような場合,特別な対策を講じることが必要とな

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C 61000-6-2 : 2019 (IEC 61000-6-2 : 2016)
            ることがある。
  工業環境は,特別な緩和対策によって変化することがある。このような対策によって住宅,商業及び軽
工業環境と同等の電磁環境となることを示すことができた場合には,住宅,商業及び軽工業環境に対する
共通規格又は関連製品規格を用いてもよい。
    注記4 製品規格作成委員会へのガイダンスを,参考として附属書Aに示す。
    注記5 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-6-2:2016,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic standards−
                Immunity standard for industrial environments(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test,
             Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010(IDT)
    JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/
        バーストイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-4:2012,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
             measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-5:2014,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
             measurement techniques−Surge immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
        伝導妨害に対するイミュニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-6:2013,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
             measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
             (IDT)
    JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-8:2009,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and

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                                                            C 61000-6-2 : 2019 (IEC 61000-6-2 : 2016)
             measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び
        電圧変動に対するイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-11:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
             and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
             (IDT)
    JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管の
        エミッション及びイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-20:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing
             and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)
             waveguides(MOD)
    JIS C 61000-4-22:2014 電磁両立性−第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における
        放射エミッション及びイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-22:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-22: Testing
             and measurement techniques−Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic
             rooms (FARs)(IDT)
    JIS C 61000-4-34:2017 電磁両立性−第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを
        超える電気機器の電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-34:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-34: Testing
             and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
             for equipment with input current more than 16 A per phase及びAmendment 1:2009(IDT)
    IEC 61000-4-21:2011,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-21: Testing and measurement techniques
        −Reverberation chamber test methods

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
ポート(port)
  外部電磁環境と接続する装置の特定のインタフェース,及び外部電磁環境によって影響を受ける装置の
特定のインタフェース。
    注記 図1に対象のポートの例を示す。きょう体ポートは装置の物理的境界である(例えば,きょう
          体そのもの)。きょう体ポートは,放射及び静電気放電(ESD)のイミュニティに関係し,他の
          ポートは,伝導,直接印加又は誘導のイミュニティに関係している。
                                        きょう体ポート
      交流電源ポート                                                  信号・制御ポート
                                            装置
      直流電源ポート
                                       図1−装置のポート

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