JIS C 61083-2:2016 インパルス電圧及び電流試験に用いるソフトウェアに関する要求事項

                                                                                C 61083-2 : 2016

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  3A 雷インパルス電圧パラメータ・・・・[4]
•  4 試験波形データ発生プログラム・・・・[7]
•  4.1 原則・・・・[7]
•  4.2 データ形式・・・・[7]
•  5 基準インパルスの波形パラメータの基準値及び解析ソフトウェアにおけるそれとのかい(乖)離の許容範囲・・・・[7]
•  6 波形解析ソフトウェアの試験・・・・[8]
•  6.1 一般・・・・[8]
•  6.2 性能試験・・・・[8]
•  6.3 IEC 60060-2又はIEC 62475の不確かさの寄与成分・・・・[8]
•  7 波形解析ソフトウェアの性能記録・・・・[9]
•  附属書A(規定)TDGが出力するインパルスの波形パラメータ基準値及び許容範囲・・・・[10]
•  附属書B(参考)不確かさ評価の代替手法・・・・[23]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[29]

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C 61083-2 : 2016

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)及び一般財団
法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本
工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 61083-2 : 2016

インパルス電圧及び電流試験に用いるソフトウェアに関する要求事項

Requirements for software for tests with impulse voltages and currents

序文

  この規格は,2013年に第2版として発行されたIEC 61083-2を基とし,我が国の実情に合わせるために
技術的内容を変更せずに規格の構成を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,インパルス電圧及び電流試験に用いるソフトウェア(波形解析ソフトウェア)に関する要
求事項について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61083-2:2013,Instruments and software used for measurement in high-voltage and high-current
              tests−Part 2: Requirements for software for tests with impulse voltages and currents(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    ISO/IEC Guide 98-3,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    IEC 60060-1:2010,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
    IEC 60060-2:2010,High-voltage test techniques−Part 2: Measuring systems
    IEC 60060-3:2006,High-voltage test techniques−Part 3: Definitions and requirements for on-site testing
    IEC 61083-1:2001,Instruments and software used for measurement in high-voltage impulse tests−Part 1:
        Requirements for instruments
    IEC 62475:2010,High-current test techniques−Definitions and requirements for test currents and measuring
        systems

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C 61083-2 : 2016

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記 インパルスパラメータの定義は,表1及び表2を参照。この表はIEC 60060-1:2010,IEC
          60060-3:2006及びIEC 62475:2010を基にしている。
3.1
生データ(raw data)
  デジタルレコーダがアナログ信号をデジタル形式に変換したときに得られる量子化された情報の原記録。
また,変換の際にオフセットの補正又はスケールファクタを乗じることができ,その補正などを行った情
報を含む。
3.2
処理データ(processed data)
  生データを処理したデータ(オフセットの補正又はスケールファクタを乗じること以外の処理)。
  [IEC 61083-1:2001,定義1.3.3.5を修正(“一定のスケールファクタ”を“スケールファクタ”に置き換
えている。)]
3.3
内部雑音レベル(internal noise level)
  デジタルレコーダに一定の電圧を入力したときに記録された信号サンプルの標準偏差。
3.4
基準インパルス(reference impulse)
  試験波形データ発生プログラム(TDG)が発生するデジタル基準データファイル。
3.5
サンプリングレート(sampling rate)
  サンプリング周波数。
  単位時間当たりに得られる信号サンプルの数。
  (IEC 60050-704:1993,定義704-23-03参照)
3.6
分解能(デジタル処理における)(resolution)
  隣接した二つの信号サンプルの大きさを識別することができるデジタルシステムの精度の単位。
    注記 分解能はシステムが認識できる異なった信号レベルの最大数をバイナリ形式で表したビット数
          として通常表記される。
  (IEC 60050-807:1998,定義807-01-02参照)
3.7
試験波形データ発生プログラム,TDG(test data generator)
  インパルスの解析波形及び実測波形の代表的なデジタル基準データファイルを発生することができるコ
ンピュータプログラム。
3.8
記録波形(recorded curve)
  インパルス電圧のテストデータをグラフ又は数値で表したもの。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.5参照)

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                                                                                              3
                                                                                C 61083-2 : 2016
3.9
基準線(base level)
  記録装置への入力がゼロのときにインパルス測定器に記録されるレベル。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.6参照)
3.10
基礎波形(base curve)
  重畳振動がないときに推定される全波雷インパルス電圧の波形。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.7参照)
3.11
残差波形,R(t)(residual curve)
  記録波形と基礎波形との差の波形。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.8参照)
3.12
基礎波形の最大値,Ub(base curve maximum)
  基礎波形の波高点の値。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.10参照)
3.13
試験電圧関数(test voltage function)
  オーバシュートを伴う雷インパルス電圧の絶縁に対する影響を表現する振幅−周波数関数で,次の式に
よって与えられる。
                                 1
                         kf          2
                              1  2.2 f
                      ここに,      f :  オーバシュートに含まれる振動の周波数(MHz)
    注記1 この試験電圧関数をフィルタとして残差波形に適用すれば,等価な全波雷インパルス電圧の
            試験電圧値が算定できる。その手順は次の式に基づいている。
                                     −1
                        ut t  ub t      kf     ue t ub t
              ここに,ut(t)は規約試験電圧波形,ub(t)は基礎波形,ue(t)は記録波形とし,それぞれの波形
            の最大値をUt,Ub,Ueとする。図0A図0Dを参照。
              (IEC 60060-1:2010,定義7.1.11及びAnnex B参照)
    注記2 IEC 60060-1:2010の式(B.1)に誤りがあるため,この規格では正しい式で表記した。
3.14
処理残差波形,Rf(t)(filtered residual curve)
  試験電圧関数で処理した後の残差波形。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.12参照)
3.15
規約試験電圧波形(test voltage curve)
  基礎波形に処理残差波形を加えて得られる波形。
    注記 これはフィルタ処理の数学的表現であって,物理的な実体又は等価インパルスではない。
  (IEC 60060-1:2010,定義7.1.13参照)

――――― [JIS C 61083-2 pdf 5] ―――――

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