JIS C 6122-10-2:2010 光増幅器―測定方法―第１０－２部：マルチチャネルパラメータ―ゲート付き光スペクトラムアナライザを用いたパルス法

                                                           C 6122-10-2 : 2010 (IEC 61290-10-2 : 2007)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 記号及び略語・・・・[2]
•  4 装置・・・・[3]
•  5 試験サンプル・・・・[5]
•  6 試験・・・・[5]
•  6.1 概要・・・・[5]
•  6.2 校正・・・・[5]
•  6.3 出力信号光及びノイズの測定・・・・[6]
•  7 計算・・・・[7]
•  8 試験結果・・・・[8]
•  附属書A(参考)パルス繰返し周波数の測定・・・・[9]

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C 6122-10-2 : 2010 (IEC 61290-10-2 : 2007)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
  JIS C 6122の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 6122-1 第1部 : 利得パラメータ測定方法
    JIS C 6122-2 第2部 : パワーパラメータ測定方法
    JIS C 6122-3 第3部 : 雑音指数パラメータ測定方法
    JIS C 6122-3-2 第3-2部 : 雑音指数パラメータ−電気スペクトラムアナライザ試験方法
    JIS C 6122-5-1 第5-1部 : 光反射率パラメータ測定方法−光スペクトラムアナライザを用いた測定方
        法
    JIS C 6122-6 第6部 : 漏れ励起光パラメータ測定方法
    JIS C 6122-7 第7部 : 波長帯域外挿入損失測定方法
    JIS C 6122-10-1 第10-1部 : マルチチャネルパラメータ−光スイッチ及び光スペクトラムアナライザ
        を用いたパルス法
    JIS C 6122-10-2 第10-2部 : マルチチャネルパラメータ−ゲート付き光スペクトラムアナライザを用
        いたパルス法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                                JIS
                                                                      C 6122-10-2 : 2010
                                                                      (IEC 61290-10-2 : 2007)

光増幅器−測定方法−第10-2部 : マルチチャネルパラメータ−ゲート付き光スペクトラムアナライザを用いたパルス法

Optical amplifiers-Test methods-Part 10-2: Multichannel parameters- Pulse method using a gated optical spectrum analyzer

序文

  この規格は,2007年に第2版として発行されたIEC 61290-10-2を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,希土類ドーパントを含んだアクティブな光ファイバを使用する光ファイバ増幅器(OFA)
に適用する。
  この規格の目的は,JIS C 6121で定義する信号光−ASE間雑音指数の正確,かつ,信頼性のある測定を
行うための一定の要求事項を確立することである。
  この試験方法は,供試OFAに光パルスを入力することによって増幅された信号パワーと増幅された自然
放出光(ASE)とを独立して検出する。ASEレベルは,光パルスがオフの期間に同期させて光スペクトラ
ムアナライザ(OSA)で測定する。平均信号光レベルは,OSAで連続サンプリングすることによって測定
する。
  希土類が添加されたOFA,特にエルビウム(Er)が添加されたOFAではその利得応答が比較的遅いの
で,上記のような測定が可能となる。
  しかし,増幅器のタイプ,動作条件及び制御方式によってOFAの利得ダイナミクスが異なるので,ここ
で規定する試験方法を様々なOFAに適用するときには,慎重に検討することが望ましい。OFAの製造業
者は,測定誤差を1 dB未満に抑えるために,変調周波数を確認するためのデータを提示することが望まし
い。この情報を得るための測定を,附属書Aに示す。
  信号光−ASE間雑音指数を決定するための測定方法には,光学スイッチングを用いる方法及びゲート付
きOSAを用いる方法がある。この規格では,ゲート付きOSAを用いる方法について規定する。光学スイ
ッチングを用いる方法は,JIS C 6122-10-1による。
  この試験方法は,基本的にはマルチチャネル用として規定するが,マルチチャネル用途の特殊な場合と
してシングルチャネル用途も含む。
  なお,この規格で記号‡を付したすべての数値は,その数値を満足すればこの規格で規定する測定が正
確であることを保証することを意味する。その他の値を許容してもよいが,検証することが望ましい。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

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2
C 6122-10-2 : 2010 (IEC 61290-10-2 : 2007)
          IEC 61290-10-2:2007,Optical amplifiers−Test methods−Part 10-2: Multichannel parameters−Pulse
              method using a gated optical spectrum analyzer(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,一致していること
          を示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6121 光増幅器−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61291-1,Optical amplifiers−Part 1: Generic specification(IDT)
    JIS C 6122-10-1 光増幅器−測定方法−第10-1部 : マルチチャネルパラメータ−光スイッチ及び光ス
        ペクトラムアナライザを用いたパルス法
      注記 対応国際規格 : IEC 61290-10-1,Optical amplifiers−Test methods−Part 10-1: Multichannel
             parameters−Pulse method using an optical switch and optical spectrum analyzer(IDT)
    IEC 61290-3-1,Optical amplifiers−Test methods−Part 3-1: Noise figure parameters−Optical spectrum
        analyzer method

3 記号及び略語

  AGC       自動利得制御                            (Automatic gain control)
  ALC       自動レベル制御                          (Automatic level control)
  ASE       増幅された自然放出光                    (Amplified spontaneous emission)
  CW        連続波                                  (Continuous wave)
  DBR       分布ブラッグ反射器(レーザダイオード) [Distributed Bragg reflector (laser diode)   ]
  DFB       分布帰還形(レーザダイオード)          [Distributed feed-back (laser diode)   ]
  ECL       外部共振器形半導体レーザ(ダイオード) [External cavity laser (diode)   ]
  FWHM      半値全幅                                (Full-width half maximum)
  LED       発光ダイオード                          (Light emitting diode)
  OFA       光ファイバ増幅器                        (Optical fiber amplifier)
  OSA       光スペクトラムアナライザ                (Optical spectrum analyzer)
  WDM       波長分割多重                            [Wavelength-division multiplexing (or multiplexer)   ]
  PiPM      パワーメータでの信号源入力パワー        (source input power on the power meter)
  PiOSA     入力信号光パワー                        (input signal power)
  λsignal  信号光波長                              (signal wavelength)
  BRBW      分解能帯域幅                            (resolution bandwidth)
    meas
   Ptotal   出力信号光パワーとASEパワーとの和       (output signal power plus ASE)
    meas
   NASE     ASEパワー測定値                         (measured ASE power)
  Ccal      校正係数                                (calibration coefficient)
  Polinear  リニアな出力信号光パワー                (linear output signal power)
  Po        出力信号光パワー                        (output signal power)
  G         利得                                    (gain)

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                                                                                              3
                                                           C 6122-10-2 : 2010 (IEC 61290-10-2 : 2007)
  NFsig-sp  信号光−ASE間雑音指数                   (signal-spontaneous noise figure)
  h         プランク定数                            (Plancks constant)
  ν        信号周波数                              (signal frequency)

4 装置

  測定のための基本的な構成を,図1に示す。光信号源モジュールは,供試OFAにパルス光を供給し,
OSAにはゲート機能をトリガする同期信号を供給する。OSAの測定可能範囲内の値になるように,可変光
減衰器によってOSAへのパワーレベルを調整する。
           図1−信号光−ASE間雑音指数パラメータ測定のための測定装置(基本的な構成)
  試験装置の特徴を,次に示す。
a) 光信号源モジュール 図2に示すように,光信号源モジュールには,二つの構成が可能である。最初
    の光信号源モジュール[図2 a) 参照]は,CW光信号源,光スイッチ,可変光減衰器及びパルス発生
    器からなる。2番目の光信号源モジュール[図2 b) 参照]は,直接変調光信号源,可変光減衰器及び
    パルス発生器からなる。図には1台の可変光減衰器だけを示すが,通常,多波長光源に対しては,可
    変光減衰器は各チャネルに一つあるので,各チャネルのパワーを独立して調整できる。
      特に指定のない限り,図2に示す両方の光信号源モジュールの出力スペクトルのFWHMは,隣接
    チャネルへの干渉を引き起こさないように0.1 nm‡より狭くなければならない。単一チャネル光源の
    場合には,1 nm‡より狭くなければならない。例えば,DFBレーザダイオード,DBRレーザダイオー
    ド及びECLダイオードを用いることができる。DFBレーザダイオード,DBRレーザダイオード又は
    ECLダイオードのサイドモード抑圧比は,30 dB‡を超えなければならない。出力変動は0.05 dB‡未満
    でなければならないが,これは各光源の出力ポートに光アイソレータを置くことで容易に達成できる。
      注記 測定のための機器構成又は増幅器に,例えば,2か所の反射点の間の共振器のような多重経
            路があると,測定において干渉によるパワー変動が起こり得る。これらの変動は,−40 dB‡
            未満の反射率をもつコネクタ又は融着接続を用いて抑制することが望ましい。取り除くこと
            ができない反射点が,測定のための機器構成中に存在する場合には,これら反射点で構成さ
            れる共振器の共振器長よりも十分短いコヒーレンス長となるように,光信号源のスペクトル
            線幅を広くすることによってパワー変動を抑制することが望ましい。

――――― [JIS C 6122-10-2 pdf 5] ―――――

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