JIS C 61340-4-7:2011 静電気―第４－７部：特定応用のための標準的試験方法―イオナイザ | ページ 2

4
C 61340-4-7 : 2011

4 安全上の要求事項

  (対応国際規格では,安全上の要求事項を米国政府関係の規格を基にして規定しているが,我が国の安
全基準には必ずしもそぐわないため,不採用とした。)
    注記 安全上の問題は,各イオナイザの装置としての製造及び取扱いの問題であり,それぞれ国内及
          び国際的な安全規格又は規則に準拠するものとし,イオナイザの評価のための試験方法及び手
          順に関わるため,この規格では規定しない。

5 試験装置

5.1 帯電プレートモニタ(CPM)

 イオナイザの特性を測定する試験装置は,帯電プレートモニタ(以
下,CPMという。)とする。CPMを用いて,規定の電圧に帯電した帯電プレートの電圧が規定の電圧まで
低下する時間(減衰時間)及び雰囲気中の帯電プレートの電圧(オフセット電圧)を測定する。CPMは,
帯電プレート,接地プレート,電圧測定装置及び直流高圧電源で構成する。必要があれば,減衰時間の測
定に減衰タイマを用いる。図1に,CPMの構成例を示す。
    注記 イオナイザは帯電物体の電荷減衰を促進するために,正及び負の空気イオンを生成する装置で
          ある。イオナイザの評価には,生成した空気イオンの濃度を計測することが考えられるが,こ
          れは実際には困難であり,帯電物体の電荷の減衰速度を直接に計測するのが有効である(附属
          書A参照)。

5.2 帯電プレート及び接地プレート

 帯電プレート組立品は,帯電プレートと接地プレートとを,絶縁
体を挟んで,図2に示すように対向して配置する。帯電プレートの材質は導体とし,その大きさは15 cm
×15 cmとする。接地プレートの材質は導体とし,その大きさは15 cm×15 cm以上が望ましい。
  電気回路を接続しない状態の帯電プレート組立品を附属書Bに規定する方法で測定した静電容量は,15
pF以上でなければならない。帯電プレートと接地プレートとの間隔“A”(図2参照)は,静電容量の要求
事項を満足しなければならない。
  直流高圧電源の端子からみた,帯電プレート組立品及び試験回路の静電容量は,20 pF±2 pFでなければ
ならない(図1及びB.5.4参照)。
  帯電プレート組立品において,帯電プレートと接地プレートとの間隔“A”よりも近くに,プレート支
持絶縁体,帯電プレートへの電圧印加用接続線及び電圧測定用接続線以外の物体が,あってはならない
(B.5.3参照)。
  絶縁した導体の帯電プレートを規定の試験電圧に帯電させたとき,イオナイザを作動していない状態で,
帯電プレートは5分間以内に試験電圧の10 %以上放電してはならない。

5.3 電圧測定装置

 帯電プレートの電圧測定に用いる電圧測定装置は,非接触電圧計又は電位計(エレ
クトロメータ)とする。非接触電圧計は,プローブの電極に帯電プレートからの静電誘導によって発生す
る電圧を増幅して,電圧を測定する。電位計は,帯電プローブに直接接続して,電圧を測定する。電圧測
定装置の応答時間は,帯電プレート電圧の変化を精度よく測定できるように,十分短い時間とする。

5.4 直流高圧電源

 帯電プレートを帯電するのに用いる直流高圧電源は,試験担当者の感電防止のため
に電流を制限することが望ましい。

――――― [JIS C 61340-4-7 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                               C 61340-4-7 : 2011
                                図1−帯電プレートモニタの構成例
注記 接地プレートの寸法は,15 cm×15 cm以上が望ましい。
                                 図2−帯電プレート組立品の構成

6 各種イオナイザに対する個別要求事項

6.0A 一般要求事項

  ルームイオナイザ(6.1参照),層流フードイオナイザ(6.2参照),作業表面イオナイザ(6.3参照),及
び圧縮ガスイオナイザ(6.4参照)の各種のイオナイザの試験には,次の個別要求事項を適用する。
a) 減衰時間試験 CPMの帯電プレートを初期試験電圧まで帯電した後,初期試験電圧の10 %に減衰す
    るまで放置する。正及び負の極性の初期帯電に対し,それぞれ減衰に要した時間を減衰タイマによっ
    てモニタして記録する。この時間を減衰時間とする(5.1及び図1参照)。
b) オフセット電圧試験 CPMの帯電プレートを一時的に接地し,残留電荷を取り除き,電圧モニタ装置
    のゼロ点を検証する。その後,帯電プレートの電圧をイオン化した雰囲気中で,各装置の種類ごとに
    規定した手順によってモニタする。結果として観測した電圧をオフセット電圧とする。ただし,パル
    ス形イオナイザの場合ピーク・オフセット電圧を測定する[e) 参照]。
c) 試験箇所 減衰時間及びオフセット電圧は,試験箇所の図面に示す各々の試験箇所で測定することが
    望ましい(表1参照)。
d) 同一条件 減衰時間及びオフセット電圧は,装置ごとの調整はせずに同一条件で測定する。異なる種
    類のイオナイザを比較する場合にも,全ての試験に同一の試験電圧を用いる。

――――― [JIS C 61340-4-7 pdf 7] ―――――

6
C 61340-4-7 : 2011
e) ピーク・オフセット電圧 パルス形イオナイザの場合,オフセット電圧は,5.1に規定したCPMによ
    って測定したピークの値を測定して記録する。
f)  その他のパラメータ 試験中の温度,相対湿度,風速など試験結果に影響する条件は,記録すること
    が望ましい。
                                  表1−試験の設定及び試験箇所
                                                                                減衰時間試験の
      イオナイザの種類及び分類      参照図    試験箇所数 オフセット電圧測定時間
                                                                                   初期電圧
 ルームイオナイザ
  交流グリッド形                     3 a)         2          1分間5分間            1 000 V
                                                         (6.1.8参照。以下同じ。)
  バー形(パルス動作及び直流動作)   3 b)         2          1分間5分間            1 000 V
  単極エミッタ形                      4           3          1分間5分間            1 000 V
  デュアル直流ライン形                5           3          1分間5分間            1 000 V
  パルス直流エミッタ形                6           2          1分間5分間            1 000 V
 層流フードイオナイザ
  垂直層流形                       7及び8         8          1分間5分間            1 000 V
                                                         (6.2.8参照。以下同じ。)
  水平層流形                       9及び10        6          1分間5分間            1 000 V
 作業表面イオナイザ
  卓上形                           11及び12      12          1分間5分間            1 000 V
                                                         (6.3.8参照。以下同じ。)
  つり下げ形                       13及び14      12          1分間5分間            1 000 V
 圧縮ガスイオナイザ
  ガン形及びノズル形                  15          1          10秒間1分間           1 000 V
                                                             (6.4.7参照。)

6.1 ルームイオナイザ

6.1.1 CPMの周辺は,全ての方向で水平距離150 cmにわたって障害物のないクリアな領域とする。イオ
ナイザは試験領域の条件を安定化するために,試験前に最低30分間作動する。
6.1.2 試験の間,測定者は適切に接地し,150 cmクリア領域の外側に立つ。
6.1.3 初期電圧1 000 Vから最終電圧100 Vまでの減衰時間は,正極(+)及び負極(−)の両極性につ
いて測定する。
6.1.4 試験箇所での風速を記録する。
6.1.5 被試験イオナイザの直下から150 cm離れた場所で,CPMによって測定を行う。イオナイザの据付
高さは異なるので,異なるイオナイザの評価には,一貫性のある測定高さを選択する。この測定高さ及び
イオナイザの据付高さは試験結果に記録する。
6.1.6 試験箇所は,イオナイザの分類によって,表1及び図3図6による。
6.1.7 6.0A a) に示す減衰時間は,各試験箇所で測定する。
6.1.8 6.0A b) 及び6.0A e) に示すオフセット電圧は,各試験箇所で測定する。オフセット電圧の測定は,
帯電プレートの接地を解放後,帯電プレートの電圧が安定してから行う。ただし,安定するまでの時間は
1分間以上かつ5分間以下とする。

――――― [JIS C 61340-4-7 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                               C 61340-4-7 : 2011
                   試験箇所TP1はグリッドの直下,試験箇所TP2はグリッド間の中央。
                               [2か所の試験箇所が必要(表1参照)]
                             a) 交流グリッド形(100 %未満カバー)の例
                   試験箇所TP1はグリッドの直下,試験箇所TP2はグリッド間の中央。
                               [2か所の試験箇所が必要(表1参照)]
                              b) パルス又は定常状態の直流バー形の例
                 図3−ルームイオナイザの試験箇所−交流グリッド形及び直流バー形

――――― [JIS C 61340-4-7 pdf 9] ―――――

8
C 61340-4-7 : 2011
                                3か所の試験箇所が必要(表1参照)
                        図4−ルームイオナイザの試験箇所−単極エミッタ形
                                3か所の試験箇所が必要(表1参照)
                     図5−ルームイオナイザの試験箇所−デュアル直流ライン形
                                2か所の試験箇所が必要(表1参照)
                     図6−ルームイオナイザの試験箇所−パルス直流エミッタ形

6.2 層流フードイオナイザ

6.2.1 試験は,気流を妨げるもののない平面で実施する。その他の規定がない場合には,試験面は,静電
気拡散性又は導電性とし,適切に接地する。
6.2.2 測定者は,適切に接地する。
6.2.3 初期電圧1 000 Vから最終電圧100 Vまでの減衰時間を,正極(+)及び負極(−)の両極性につ
いて測定する。
6.2.4 図7又は図9に示す試験箇所TP4での風速を記録する。
6.2.5 垂直層流フードでの試験設定を,図7及び図8に示す。図7に示す試験箇所TP1からTP8まで,デ

――――― [JIS C 61340-4-7 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11