JIS C 6182:1991 レーザビーム用光パワーメータ試験方法 | ページ 2

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C 6182-1991
6.2.4  波長依存性 波長依存性の試験は,波長が可変の光源又は試験波長範囲内の出力を発生するレーザ
を用いて,波長依存性がない基準器又は波長依存性が既知の基準器と比較することによって行う。
  波長に対する感度の校正データが図表として添付されるか,又は校正データに従い補正した後の測定値
が指示される被試験器の場合には,補正した後の測定値を基準器による測定値で除した値を部分誤差とす
る。
  試験は,各波長で被試験器の測定値を基準器の測定値で除した値を求めることによって行い,部分誤差
の上限及び下限を,次の式によって算出する。
                              R1  R0
                         tui          100
                                R0
                             R2  R0
                         tli         100
                               R0
                      ここに,   R0 :  被試験器に指定の基準波長での被試験器の測定値を基準器
                                       の測定値で除した値
                                 R1 :  被試験器の測定値を基準器の測定値で除した値の最大値
                                 R2 :  被試験器の測定値を基準器の測定値で除した値の最小値
6.2.5  偏光依存性 一定の方向に偏光したレーザ光源の出力を検出器の受光面に入射し,偏光に対する感
度の変化を試験する。
  光源の偏光方向と検出器の位置関係を変化させるには,次の二つの方法のうちいずれかを用いる。
     1波長板による方法  1波長板をビーム中に置き,これを回転することによって偏光面を180°の範囲
(1)  2                2
    で変化させ,被試験器の測定値の変化を調べる。使用する波長板は,あらかじめ偏光依存性のない検
    出器によって,回転による光強度変化を校正しておき,その値によって補正したものを測定値とする。
(2) 検出器を回転する方法 検出器の光軸を中心として検出器を180°回転させ,測定値の変化を調べる。
      部分誤差の上限及び下限を,次の式によって算出する。
                              R1  Ra
                          tui         100
                                Ra
                             R2  Ra
                          tli        100
                               Ra
                             R1  R2
                         Ra
                                2
                      ここに,   R1 :  得られた測定値の最大値
                                 R2 :  得られた測定値の最小値
6.2.6  ゼロドリフト レーザ光入力がない状態で出力の時間的変化を試験する。被試験器に指定の時間,
予熱を行った後,ゼロ点調整を行い,1時間にわたって出力変化を測定する。この試験は,被試験器に指
定の最小レンジについて,標準試験条件で行う。
  なお,風速,背景光強度は,被試験器に指定の条件で行う。
  部分誤差の上限及び下限を,次の式によって算出する。
                               刀
                               1
                         tui     100
                               0
                               刀
                               2
                         tli     100
                               0
                      ここに,   R0 :  最小レンジのフルスケール値

――――― [JIS C 6182 pdf 6] ―――――

                                                                                              7
                                                                                    C 6182-1991
                                 R1 :  レーザ光入力がない状態での出力の最大値
                                 R2 :  レーザ光入力がない状態での出力の最小値
  なお,ドリフトの測定値が,ゼロ未満の場合,R1,R2は負とする。
6.2.7  温度依存性 周囲温度を被試験器に指定の使用温度範囲の下限から上限,また上限から下限に変化
させ,レーザ光入力に対する感度の変化を試験する。
  なお,標準試験条件を必ず含まなければならない。この試験では,被試験器が周囲温度と熱的に平衡し
た状態になるまで,十分に時間をかける必要がある。
  部分誤差の上限及び下限を,次の式によって算出する。
                              R1  R0
                         tui          100
                                R0
                             R2  R0
                         tli         100
                               R0
                      ここに,   R0 :  標準試験条件での測定値
                                 R1 :  得られた測定値の最大値
                                 R2 :  得られた測定値の最小値
6.2.8  照射時の安定度
(1) 光パワー測定用の被試験器に対しては,最大測定光パワーを1時間照射し,その間の測定値の変化を
    測定する。測定間隔は,被試験器の応答時間より十分に長くする。
(2) 光エネルギー測定用の被試験器に対しては,最大測定光エネルギーを1 000パルス照射し,その間の
    測定値の変化を測定する。測定間隔は,被試験器の立ち下がり時定数以上とする。
(3) 測定は,被試験器に指定の時間,予熱を行った後に行う。
      (1),(2)とも,測定値のばらつきを次の式によって算出する。
                                 m
                                  (xi x) 2
                             1  i 1
                          te              ×100
                             x     m  1
                      ここに,         攀         測定値のばらつき (%)
                                     xi :  測定値
                                     x :  測定値の平均
                                     m :  測定回数
7. 過負荷試験 被試験器に次の条件でレーザビームを照射した後,校正を行い異常の有無を調べる。
(1) 光パワー測定用の被試験器に対しては,応答時間の10倍以上で,少なくとも10分間,最大測定光パ
    ワーの約2倍の光パワーを照射する。
(2) 光エネルギー測定用の被試験器に対しては,立ち下がり時定数の間隔で,最大測定光エネルギーの約
    2倍の光エネルギーを10パルス照射する。
      この試験に使用するレーザ光源は,被試験器に指定の波長範囲のものとする。
8. 強度試験
8.1   振動試験 振動試験は,検出器及び指示計について,JIS C 1003の8.3(振動)によって行う。
8.2   衝撃試験 衝撃試験は,検出器及び指示計について,JIS C 1003の8.4(衝撃)によって行う。
    備考 被試験器の検出器の受光面が,金黒などのぜい(脆)弱な材質であり,強度試験によって回復
          不能となるおそれがある場合は,この試験を省略することができる。

――――― [JIS C 6182 pdf 7] ―――――

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C 6182-1991
関連規格 JIS C 6180 レーザ出力測定方法
          IEC 359 : 1987 Expression of the performance of electrical and electronic measuring equipment
             財団法人 光産業技術振興協会光測定器標準化委員会(平成元年度)構成表
                                     氏名                         所属
        (委員長)             井 上 武 海       工業技術院電子技術総合研究所
                               蘭    宗 樹       横河電機株式会社
                               石 川 邦 男       株式会社島津製作所
                               片 桐 修 平       株式会社東芝
                               川 原 浄 彦       島田理化工業株式会社
                               川 村 靖 一       セイコー電子工業株式会社(10月まで)
                               森    基 祐       セイコー電子工業株式会社(10月から)
                               小 宮 啓 行       財団法人機械電子検査検定協会
                               坂 井 徳 久       安藤電気株式会社
                               佐々木 慎 也      株式会社日立製作所
                               猿 渡 正 俊       日本電信電話株式会社
                               鈴 木 紀 男       工業技術院標準部
                               田 中 憲 三       株式会社アドバンテスト
                               田 中 正 夫       藤倉電線株式会社
                               東 本 雅 和       古河電気工業株式会社
                               藤 瀬 雅 行       国際電信電話株式会社
                               堀 松 哲 夫       株式会社富士通研究所
                               松 岡 聖 司       アンリツ株式会社
                               三 宅 良 雄       三菱電機株式会社
        (事務局)             伊 藤 雅 孝       財団法人光産業技術振興協会
                         電子部会 オプトエレクトロニクス専門委員会 構成表
                                     氏名                         所属
        (委員会長)           田 中 俊 一       東京理科大学
                               吹 訳 正 憲       通商産業省機械情報産業局
                               稲 葉 裕 俊       工業技術院標準部
                               三 橋 慶 喜       工業技術院電子技術総合研究所
                               神 谷 武 志       東京大学
                               佐 藤 卓 蔵       財団法人光産業技術振興協会
                               吉 田 淳 一       日本電信電話株式会社
                               望 月 清 文       国際電信電話株式会社
                               山 本 益 生       東京電力株式会社
                               冨加見 昌 男      東日本旅客鉄道株式会社
                               小 川    武       日本放送協会
                               黒 岩 宗 弘       住宅・都市整備公団
                               北 村 芳 靖       日本道路公団
                               大久保 勝 彦      古河電気工業株式会社
                               西 川    勉       富士通株式会社
                               古 寺    博       株式会社日立製作所
                               須 川    毅       住友電気工業株式会社
                               田 中 英 吉       安藤電気株式会社
                               立 川    明       社団法人日本電子機械工業会
                               江 本 俊 夫       社団法人日本電線工業会
        (専門委員)           J. P. スターン    米国電子業界日本事務所

――――― [JIS C 6182 pdf 8] ―――――

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                                                                                    C 6182-1991
                               C. モンティ       日本オリベッティ株式会社
        (関係者)             井 上 武 海       工業技術院電子技術総合研究所
                               藤 瀬 雅 行       株式会社エイ・ティ・アール光電波通信研究所
                               坂 井 徳 久       安藤電気株式会社
        (事務局)             吉 田    厚       工業技術院標準部電気規格課
                               宗 像 保 男       工業技術院標準部電気規格課
                               稲 田 浩 二       工業技術院標準部電気規格課