JIS C 62246-1:2016 リードスイッチ―第1部:品目別通則 | ページ 2

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記
号 : Cab)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,
steady state(IDT)
JIS C 62246-1-1:2016 リードスイッチ−第1-1部 : 品質評価及び試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 62246-1-1:2013,Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality
assessment(MOD)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
注記 リードスイッチに関する用語は,JIS C 5600で規定されている。

3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義

3.1.1
品種(type)
製造業者が指定した仕様(寸法,接点構成,接点耐圧,開閉容量,封入ガスの種類など)によって分類
される製品。
3.1.2
特性分類品(variant)
規定の特性をもつ品種内でのバリエーション。
3.1.3
リードスイッチ(reed switch)
一対の磁性材料を各々弾性的に可動できるように,その一部をプレス加工した線材に適切な重なり及び
間隔をもたせ,封着用ガラス管に封入した磁気で駆動するスイッチ(図1参照)。
封着用ガラス管 封入ガス
接触片 端子
図1−リードスイッチの構造事例
3.1.4
高耐圧形リードスイッチ(high voltage vacuum reed switch)
高い電圧を開閉するためハーメチックシール管内を真空又は加圧して封着したリードスイッチ。
3.1.5
重負荷形リードスイッチ(heavy-duty reed switch)
より大きな接点開閉容量をもつリードスイッチ(図2参照)。
注記 一対の接点チップ又は磁極部と通電部とを完全に分離させ,接点チップ及び戻しばねを接点片
に追加したリードスイッチ。

――――― [JIS C 62246-1 pdf 6] ―――――

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
可動リード 戻しばね
磁極部
封入ガス
ばね接点接点チップ
封着用ガラス管
図2−重負荷形リードスイッチの構造事例
3.1.6
磁気バイアス形リードスイッチ(magnetically biased reed switch)
機能特性,並びに動作位置及び復帰位置を決めるために磁界でバイアスされたリードスイッチ。

3.2 動作値に関する用語

3.2.1
指定位置(preferred position)
他に規定がない場合,試験で正常に機能する位置。
3.2.2
定格値(rated value)
製造業者が,その機器の仕様又は適正な使用方法を示した値。
3.2.3
動作位置(operate position)
A接点では閉じる位置,B接点では開く位置。
3.2.4
復帰位置(release position)
A接点では開く位置,B接点では閉じる位置。
3.2.5
感動値(just-operate value)
リードスイッチが感動する起磁力の値(図3参照)。
3.2.6
必須感動値(must-operate value)
リードスイッチが感動する起磁力の限界値(図3参照)。
3.2.7
開放値(just-release value)
動作しているリードスイッチが,開放する起磁力の値(図3参照)。
3.2.8
必須開放値(must-release value)
動作しているリードスイッチが,開放する起磁力の限界値(図3参照)。
3.2.9
必須否感動値(must-not-operate value)
リードスイッチが感動しない起磁力の限界値(図3参照)。

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
3.2.10
必須否開放値(must-not-release value)
動作しているリードスイッチが,開放してはならない起磁力の限界値(図3参照)。
3.2.11
否開放特性値(characteristics non-release value)
動作しているリードスイッチが,接触抵抗又はノイズの値にかかわらず開放しない起磁力の限界値(図
3参照)。
3.2.12
飽和値(saturate value)
それ以上増加してもリードスイッチが影響を受けない起磁力の値(図3参照)。
3.2.13
接点バウンス(contact bounce)
接点が最初に閉じた後,一時的に再度開状態になる又は最初に開いた後,一時的に閉状態になること。
3.2.14
磁性ドエル(C接点形だけ)(magnetic dwell)
B接点が開き,A接点が閉じるとき又はその逆のとき,リードスイッチに加えられる起磁力の値の差。
図3−機能特性

3.3 動作時間に関する用語

(図4参照)3.3.1
バウンス時間(bounce time)
接点が,最初に閉じて(又は開いて)から,完全に閉じる(又は開く)までの時間。
3.3.2
動作時間(operate time)
リードスイッチに規定した磁場を印加した時点から,接点が動作位置になるまでの時間。ただし,バウ

――――― [JIS C 62246-1 pdf 8] ―――――

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
ンス時間を含まない。
3.3.3
復帰時間(release time)
リードスイッチから規定した磁場を取り除いた時点から,接点が復帰位置に戻るまでの時間。ただし,
バウンス時間を含まない。
3.3.4
(C接点形)トランスファー時間(transfer time)
C接点形の場合,バウンス時間を含まない両方の接点回路が開いている間の時間間隔。
3.3.5
(C接点形)ブリッジ時間(bridging time)
C接点形の場合,バウンス時間を含まない両方の接点回路が閉じている間の時間間隔。
3.3.6
動作時の動作時間(operate make time)
リードスイッチに磁場をかけた瞬間からA接点が最初に閉じる瞬間までの時間間隔。
3.3.7
動作時の復帰時間(operate break time)
リードスイッチに磁場をかけた瞬間からB接点が最初に開く瞬間までの時間間隔。
3.3.8
復帰時の動作時間(release make time)
リードスイッチから規定する磁場を取り除いた瞬間からB接点が最初に閉じる瞬間までの時間間隔。
3.3.9
復帰時の復帰時間(release break time)
リードスイッチから規定する磁場を取り除いた瞬間からA接点が最初に開く瞬間までの時間間隔。
3.3.10
(C接点形)動作時のトランスファー時間(operate transfer time)
C接点形の場合,新しい接点を閉じる前に最初のセットの接点を開くリードスイッチが,復帰位置から
動作位置に動くときの切換え時間。
3.3.11
(C接点形)復帰時のトランスファー時間(release transfer time)
C接点形の場合,新しい接点を閉じる前に最初のセットの接点を開くリードスイッチが,動作位置から
復帰位置に動くときの切換え時間。
3.3.12
動作エネルギーの最小励磁時間(minimum time of operate energization)
所定の値で磁場を最初に励磁した瞬間から,リードスイッチが安定動作状態に保たれる否開放特性値ま
で到達する瞬間までの最小時間。
3.3.13
安定閉位置までの時間(time to stable closed position)
所定の磁界を印加してから,接触抵抗又はノイズ特性の値にかかわらず所定の品質を満たすまでの時間。

――――― [JIS C 62246-1 pdf 9] ―――――

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
以内
a) ブレイク ビフォア メイク
以内
b) メイク ビフォア ブレイク
試験コイルの通電 試験コイルの通電遮断
t1 : 動作時の復帰時間 t11 : 復帰時の復帰時間
t2 : 動作時の動作時間 t12 : 復帰時の動作時間
t3 : 動作時のトランスファー時間 t13 : 復帰時のトランスファー時間
t4 : 動作時のブリッジ時間 t14 : 復帰時のブリッジ時間
t5及びt6 : 動作時のバウンス時間 t15及びt16 : 復帰時のバウンス時間
VBのキーについては図10及び図11を参照
図4−動作時間の定義

3.4 接点に関する用語

3.4.1
接触片(contact blade)

――――― [JIS C 62246-1 pdf 10] ―――――

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JIS C 62246-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 62246-1:2015(IDT)

JIS C 62246-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 62246-1:2016の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称