JIS C 62271-200:2021 定格電圧１ｋＶを超え５２ｋＶ以下の金属閉鎖形スイッチギヤ及びコントロールギヤ | ページ 28

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                                                                                      単位 mm
               図AA.5−アクセス性タイプB,等級付けした背面,1.9 m以上の高さの
                          機能ユニットの部屋模擬及びインジケータ位置

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               図AA.6−アクセス性タイプB,等級付けした背面,1.9 m未満の高さの
                          機能ユニットの部屋模擬及びインジケータ位置
               図AA.7−架空接続の柱上スイッチギヤ及びコントロールギヤの試験配置
                               (対応国際規格の図を,適用しない。)

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            図AA.8−スイッチギヤを実際に置く床又は二重床レベルから規定した天井高さ

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C 62271-200 : 2021
                                         附属書BB
                                          (規定)
                                       部分放電測定
BB.1   概要
  部分放電の測定は,試験中の装置に発生するある種の欠陥を検出するのに適した方法で,絶縁試験を補
う手段として有用である。部分放電が生じた場合,特定の装置では,絶縁耐力の劣化の進行につながるお
それがあるが,これは特に固体絶縁材及び液体充コンパートメントに顕著である。
  一方,スイッチギヤで使用する絶縁システムの複雑さによって,部分放電測定の結果と機器の平均寿命
との間に確かな関係はまだ確立できていない。
BB.2   適用
  部分放電測定は,有機絶縁材を用いるスイッチギヤに適しており,流体充コンパートメントにも推奨
する。
  様々な設計があるため,試験対象物を一般的に規定することが可能でない。一般に,試験対象物は,機
器の完全な組立品に発生する電界の強さと同一の電界の強さをもつ組立品又は半組立品とから構成するの
が望ましい。
  試験対象は,完成品を用いることが望ましい。一体形に設計したスイッチギヤの場合,特に,個々の充
電部及び接続部が固体絶縁材に埋め込まれている場合には,組立品での試験が必要となる。
  通常の構成要素(例えば,計器用変圧器及びブッシング)の組合せからなる設計の場合,構成要素ごと
に関連規格に基づき個別に試験が行われていれば,組立品内の各構成要素の配置によって影響を検査する
ことが,この部分放電試験の目的となる。
    注記 対応国際規格の注記1及び注記2は,規定事項又は推奨事項であるため,本文に移した。
  技術的及び経済的理由によって,義務付けられた絶縁試験に使用するものと同じ組立品又は半組立品に
ついて部分放電試験を行うことを推奨する。計器用変圧器,電源変圧器又はヒューズは,高電圧接続部の
電界配置を再現する複製品と置き換えてもよい。
  この試験は,組立品又は半組立品で行ってもよい。外部部分放電が測定に影響しないように注意する。
これらの外部部分放電を防ぐには,シールド又はシールド電極を用いてもよい。
  部分放電試験は,絶縁試験で用いたもので行うことが望ましい。部分放電試験が必要であるかどうかの
判断基準の例は,次による。
a) 製造期間中に行って試験結果を含む運転の実績
b) 固体絶縁材の最も高いストレスがかかる区域の電界強度の値
c) 主要な絶縁材として装置に用いる絶縁材料の種類
BB.3   試験回路及び測定器
  部分放電試験は,IEC 60270:2015による。
  三相の機器は,単相試験回路又は三相試験回路のいずれかで試験する(表BB.1参照)。
a) 単相試験回路 単相試験回路は,次の二つの方式による。
  1) 方式A この方式は,中性点直接接地のシステム又はそれ以外のシステム用に設計した機器につい

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      ての一般的な方法として適用する。
        部分放電量を測定するには,各相を順番に試験電源に接続し,ほかの二つの相導体及び使用状態
      で接地する全ての機器を接地する。
  2) 方式B この方式は,中性点直接接地システム専用に設計した機器だけに適用する。
        部分放電量を測定するには,二つの試験手順を用いる。
        最初に,Urの1.1倍の電圧で測定する(Urは定格電圧)。各相を順番に試験電圧電源に接続し,ほ
      かの二つの相を接地する。使用状態で接地する全ての金属部分は,絶縁するか又は取り外す必要が
      ある。
        使用状態で接地する部分を接地し,試験電源に接続された三相を橋絡して,“1.1 Ur/3”に電圧を
      下げて追加測定を行う。
b) 三相試験回路 適切な試験設備が利用可能な場合は,部分放電試験は三相構成で行ってもよい。この
    場合,図BB.1に示すように,三つの結合コンデンサを接続することを推奨する。三つの測定用イン
    ピーダンスに順次接続する一つの放電検出器を使用することが可能である。
      三相構成の1測定点の検出器を校正するには,既知の電荷量の短時間電流パルスを,三相のうち1
    相ずつ注入し,三相とも行う。その際,その他の2相は接地する。
      放電量の測定には,偏差が最も低い校正値を用いる。
      中性点が直接接地していないシステム用に設計した機器の場合には,形式試験だけ追加試験を行う。
    この試験では,供試体の各相及び対応する電源の相を順次接地する(図BB.2参照)。
BB.4   試験手順
  形式試験として行う場合,部分放電試験は,6.2.6による雷インパルス試験及び商用周波耐電圧試験の後
に行う。
  受渡試験として行う場合,部分放電試験は7.1による商用周波耐電圧試験の後に行う。
  印加する試験電圧は,試験回路(表BB.1参照)に応じて,“1.3 Ur”又は“1.3 Ur/3”の前に印加電圧ま
で上昇させ,この値を10 s維持する。
  代案として,部分放電試験は,商用周波耐電圧試験の終了後に電圧を下げる間に行ってもよい。
  この期間に起こる部分放電は無視する。その後,試験回路に応じて電圧を“1.1 Ur”又は“1.1 Ur/3”ま
で中断せずに下げて,この試験電圧で部分放電量を測定する(表BB.1参照)。
  試験電圧の周波数は,通常定格周波数である。現場試験中は計器用変圧器を,開放する。接続状態にし
ておく場合は,現場試験に使用する動作周波数をコア飽和を防ぐのに十分に高くする。
  実際のバックグラウンドノイズについては,可能なだけ,部分放電開始電圧及び消滅電圧を付加情報と
して記録するのが望ましい。
  一般に,組立品又は半組立品上の試験は,開閉機器を閉の位置にして行う。ただし,開放した接触部間
の絶縁が部分放電によって劣化する可能性がある断路器は,開の位置にして追加部分放電測定を行う。
  流体充機器は,最小機能圧力又は定格充圧力のいずれか,より過酷な条件で試験を行う。受渡試験
には,定格充圧力を適用する。
BB.5   最高許容部分放電量
  推奨された部分放電量は,通常ピコクーロン(pC)で表す見かけの電荷である。
  “1.1 Ur”又は“1.1 Ur/3”での最高許容部分放電量は,使用者と製造業者との協定による。

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