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C 6421-1994
5.2 機械的性能及び試験方法 機械的性能は,表8による。試験方法は,JIS C 5321及び表8による。
表8 機械的性能
番 試験方法
項目 性能
号 JIS C 5321 試験条件など
1 端 ピン端子 6.1
端子の切断,抜け,著しい緩み及びコイルの断線
子 の引張強 がないこと。 (端子強度)
強 さ
度 ケース端
子の曲げ
強さ
2 耐振性 共振周波数変化率 : ±0.5% 6.2
外観 : 著しい異常がないこと。 (耐振性)
3 はんだ耐熱性共振周波数変化率 : ±0.5% 6.3 260±5℃,5±1秒間
外観 : 著しい異常がないこと。 (はんだ耐熱性)
回転トルク : 6.5
(回転トルク)
調整用磁心の破損又は外れがなく,滑らかに回転
すること。
4 はんだ付け性端子及びはんだ付けを必要とするケース端子の6.4
表面43以上の部分が軸方向に切れ目なく浸した
(はんだ付け性)
ところまではんだが付着していること。
5 回転トルク 回転トルクは,次を満足すること。 6.5 標準状態
(回転トルク))
調整用磁心の破損又は外れがなく,滑らかに回転
すること。
6 耐衝撃性 共振周波数変化率 : ±0.5% 6.6
外観 : 著しい異常がないこと。 (耐衝撃性)
7 調 回転止め 6.7.1
調整用磁心の破損,回転止めの破損,及び調整用
整 強度 磁心の空転がないこと。 (回転止め強度)
機 加圧回転 調整用磁心の破損及び段落ちがないこと。 6.7.2
構 強度 (加圧回転強度)
強
度
8 加圧特性 共振周波数変化率 : ±0.5% 6.7.3
(加圧特性)
――――― [JIS C 6421 pdf 6] ―――――
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C 6421-1994
5.3 耐候的性能及び試験方法 耐候的性能は,表9による。試験方法は,JIS C 5321及び表9による。
表9 耐候的性能
試験方法
番号 項目 性能
JIS C 5321 試験条件など
1 耐寒性 共振周波数変化率
: ±0.5% 7.1 −25±3℃(3)
(耐寒性)
2 耐熱性 共振周波数変化率
: ±0.5% 7.2 85±2℃(3)
(耐熱性)
3 温度サイクル : ±0.5%
共振周波数変化率 7.3 −10℃→室温→+70℃→室
無負荷Q変化率 : ±20% (温度サイクル)温を1サイクルとする。(3)
4 耐湿性 :
共振周波数変化率 7.5 96±4時間
(定常状態) [耐湿性
(定常状態)]
無負荷Q変化率 : ±20%
耐電圧 : 異常がないこと。
絶縁抵抗 : 50M 坎 上
外観 : 著しい異常がないこと。
5 耐電食性 短絡,断線がないこと。 7.6 25±1V, 500±12時間
(耐電食性)
6 温度特性 共振周波数変化率 : 0±150ppm/℃又は0± 7.4 温度範囲−10+70℃(3)
(温度特性)
250ppm/℃とし,いずれにするかは受渡当事者間 ただし温度補償コンデンサ
の協定による。 を内蔵してるものだけに適
用。
注(3) 表4のJ又はGを選んだ場合は,受渡当事者間の協定による。
6. 外観,寸法及び表示
6.1 外観 外観は目視によって試験したとき,異常があってはならない。
6.2 寸法及び形状 寸法及び形状は,JIS C 5321の4.3(寸法)によって試験したとき,表10,表11及
び図3を満足しなければならない。
なお,高さ寸法は,受渡当事者間の協定によって表11から選定する。
6.3 表示 表示は,目視によって試験したとき,9.に規定の項目が容易に判読できなければならない。
――――― [JIS C 6421 pdf 7] ―――――
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C 6421-1994
表10 寸法
単位 mm
記号 (4) (5) (5) (5) (4)(6) 最大 参照図
l(最 h(最 a b 2b 曰 j k 端子数
大) 大)
05S 5.9 表11 3.5 3.5 1.75 0.4 2.5 0.8 3.0 6 図3
07S 7.9 から選 4.5 4.5 2.25 0.5 3.0 1.0 3.5
10S 10.9 ぶ 7.0 7.0 3.5 0.7 3.5 1.5 4.0
許容差 − − ±0.15 ±0.15 ±0.1 +0.1 ±0.5 ±0.15 ±0.5 − −
−0.05
注(4) プリント配線板の取付面からの寸法とする。
(5) 端子根元部分の寸法を表す。
(6) はんだのつらら部分の寸法は含まない。
表11 高さ寸法
単位 mm
h(最大) 4.0 7.0 10.0 14.0 18.0 18.0を超えるもの
図3 外形寸法
7. 品質評価とその保証 このIFTの製造業者は,この規格 (JIS C 6421) の附属書1の品質保証手順によ
ってIFTの品質を保証しなければならない。
8. 包装 包装は,IFTの輸送中及び保管中に損傷,吸湿のおそれがないように行う。
9. 表示
9.1 製品に対する表示 表示は,端子番号13の面に次の事項を表示する。ただし,表示が困難な場
合は省略してもよい。また,(3)及び(4)は,いずれか一方を省略してもよい。
(1) 形名
(2) 製造業者名又はその略号
(3) 製造年月若しくは製造年週又はそれらの略号
(4) 製造ロット番号
(5) 端子番号
9.2 包装に対する表示 包装の見やすい位置に次の事項を表示する。ただし,(3)及び(4)は,いずれか一
方を省略してもよい。
(1) 形名
――――― [JIS C 6421 pdf 8] ―――――
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C 6421-1994
(2) 製造業者名又はその略号
(3) 製造年月若しくは製造年週又はそれらの略号
(4) 製造ロット番号
(5) 数量
関連規格 JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
JIS C 5001 電子部品通則
JIS C 5002 電子機器用部品の環境分類
JIS C 6004 放送聴取用受信機中間周波数
JIS C 6006 テレビジョン受信機用中間周波数
――――― [JIS C 6421 pdf 9] ―――――
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C 6421-1994
附属書1 品質保証の手順
1. 適用範囲 この附属書は,製造業者が製造したIFTについて認証をうけ,認証後の品質評価を実施す
ることによって,品質を保証する手順について規定する。
2. 認証試験 認証試験は,製造業者が製造したIFTについて認証を受けるため.規格に適合しているか
どうか実証することを目的として認証機関及び(又は)製造業者が行う試験で,附属書2の規定による。
3. 品質保証検査 品質保証検査は,認証を受けた後に製造業者が製造したIFTについて規格の品質を満
たしていることを保証するために行う検査で,附属書3の規定による。
4. 定期的認証維持試験 定期的認証維持試験は,認証試験によって実証されたIFTの品質が維持されて
いるかどうかを定期的に確認するために,認証機関及び(又は)製造業者が行う試験で附属書4の規定に
よる。
――――― [JIS C 6421 pdf 10] ―――――
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JIS C 6421:1994の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 6421:1994の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5320:1994
- 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則
- JISC5321:1997
- 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
- JISC5602:1986
- 電子機器用受動部品用語
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)