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C 6421-1994
附属書2 品質認証試験
1. 試験項目 試験項目は,附属書2表1による。
2. 試料 試験に用いる試料は,次の規定による。
(1) 試料は,品質保証プログラムで,規定の製造仕様書,製造条件及び管理条件に基づいて製造されたも
のでなければならない。
(2) 試料は,同一製造ロットから無作為に抜き取る。
(3) 試料は,形状,寸法及び磁心構造別に,附属書2表1で規定した数量とする。
また,製造者の責任でない原因による不良品について入れ替えるため1個の予備が許される。
3. 認証の範囲 IFTの認証の範囲は,認証試験に合格したIFTと形状,寸法及び磁心構造が同一のもの
とする。
4 試験の順序 試験の順序は,附属書2表1の群0の試験をすべて試料について行う。その後,群1以
下に分けてそれぞれの試験を行う。
5. 合否の判定 合否の判定は,不良数が附属書2表1に規定する合格判定個数を超えた場合を不合格と
する。
――――― [JIS C 6421 pdf 11] ―――――
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C 6421-1994
附属書2表1 品質認証試験
群 試験項目 本体項目番号 試料数 合格判定個数
n c
0 外観,寸法及び表示 6.1 6.2 120 0
共振周波数 表7 番号1
共振周波数の可変範囲表7 番号2
無負荷Q 表7 番号3
電圧比(巻数比) 表7 番号4
回転トルク 表8 番号5
1 大入力特性 表7 番号5 10 0
加圧特性 表8 番号8
2 端子強度 表8 番号1 10 0
調整機構強度 表8 番号7
3 耐電圧 表7 番号6 10 0
絶縁抵抗 表7 番号7
4 耐振性 表8 番号2 10 0
はんだ付け性 表8 番号4
5 はんだ耐熱性 表8 番号3 10 0
6 耐衝撃性 表8 番号6 10 0
7 耐寒性 表9 番号1 10 0
8 耐熱性 表9 番号2 10 0
9 温度サイクル 表9 番号3 10 0
10 耐湿性 表9 番号4 10 0
11 耐電食性 表9 番号5 10 0
12 温度特性 表9 番号6 10 0
――――― [JIS C 6421 pdf 12] ―――――
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C 6421-1994
附属書3 品質保証検査
1. 品質保証検査 品質保証検査は,ロット品質検査とする。
2. ロット品質検査
2.1 検査項目 検査項目は,附属書3表1に規定する項目とする。
2.2 検査ロットの構成 検査ロットの構成は,1か月以内に同じ製造工程及び製造条件で製品化されたも
ので,次による。
(1) 製造ロットの場合 同一製造ロットとする。
(2) 受入ロットの場合 同一契約のもとで,仕様が同一のものをまとめて1検査ロットとする。
2.3 抜取方式 抜取方式は,JIS Z 9015の付表2−Aに規定するなみ検査,一回抜取りとし,検査水準及
びAQLは,附属書3表1の規定による。
附属書3表1 品質保証検査
試験項目 本体項目番号 検査水準 AQL%
外観,表示 6.1 6.3 II 2.5
寸法 6.2 II 0.25
共振周波数 表7 番号1
共振周波数の可変範囲 表7 番号2
無負荷Q 表7 番号3
電圧比(負荷Q) 表7 番号4
回転トルク 表8 番号5
2.4 合否の判定 合否の判定は,不良品の数が附属書3表1に規定のAQLに基づく合格判定個数を超え
る場合を不合格とする。
2.5 検査後の処置 検査を行った試料は,ロットに戻してもよい。検査の結果不合格と判定されたとき,
その検査ロットのIFTは,品質保証プログラムなどでスクリーニングなどによって再検査ロットとすると
の規定がない限り,再検査は行わない。
3. 長期保存品の再検査 1年以上保管されたIFTの出荷ロットは,無負荷Q, 回転トルク及びはんだ付け
性の再検査を行う。このロットが再検査に合格すれば,そのロットは,更に1年間保管することができる。
――――― [JIS C 6421 pdf 13] ―――――
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C 6421-1994
附属書4 定期的認証維持試験
1. 定期的認証維持試験の構成 定期的認証維持試験の構成は,品質維持試験だけとする。
2. 試験項目及び試料 試験項目及び試料は,次による。
(1) 試験項目は,附属書2表1品質認証試験の規定による。
(2) 試料は,品質維持試験の前回の周期の終了後から,次回の周期の開始までの期間に品質保証プログラ
ムに基づき製造された同一形状,寸法及び磁心構造をもつものとする。
(3) 試料数は,附属書2表1品質認証試験の規定による。
3. 試験の周期 試験の周期は,同一形状,寸法及び磁心構造をもつものについて1年とする。
4. 合否の判定 合否の判定は,附属書2の4.の規定による。
5. 試験の省略 品質維持試験の前回の周期の終了時から次回の周期の開始までの期間に行われた品質保
証検査の結果が2.を満足し,しかも合格と判定できるときには,試験を省略することができる。
6. 品質認証拡張試験 拡張する範囲について,品質認証試験と同等の品質認証拡張試験を行い,この結
果が認証されたときは,品質認証範囲を拡張することができる。
――――― [JIS C 6421 pdf 14] ―――――
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C 6421-1994
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 福 原 隆 沖電気工業株式会社
武 田 治 KOA株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 本 克 己 ソニー株式会社
宮 島 明 美 多摩電気工業株式会社
岩 田 武 東京特殊印刷工業株式会社
三 崎 民 汎 東光株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
井 村 豊 日本電気株式会社
松 尾 宏 之 株式会社日立製作所
大 平 昌 司 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
井手元 英 治 松下電子部品株式会社
村 岡 圭次郎 マルコン電子株式会社
石 瀬 博 三菱電機株式会社
鴨 下 秀 夫 ミツミ電機株式会社
曽我部 浩 二 株式会社村田製作所
中 沢 滋 二 電子技術総合研究所
吉 田 裕 道 東京都立工業技術センター
山 内 慎 二 日本放送協会
三 宅 信 弘 通商産業省機械情報産業局
栗 原 史 郎 工業技術院標準部
杉 本 俊 二 防衛庁
(分科会主査) 三 崎 民 汎 前出
(分科会委員) 橋 本 哲 郎 サガミエレク株式会社
斉 藤 国 彦 リバーエレテック株式会社
丸 山 文 明 ジェーピーシー株式会社
前 田 丈 夫 富士電気化学株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
川 崎 明 彦 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 6421 分科会 構成表
氏名 所属
主査 三 崎 民 汎 東光株式会社
副主査 橋 本 哲 郎 サガミエレク株式会社
委員 丸 山 文 明 ジェーピーシー株式会社
中 村 信 雄 TDK株式会社
前 田 丈 夫 富士電気化学株式会社
大 嶽 博 志 松下電子部品株式会社
戸 田 幸 生 株式会社リケン
斉 藤 国 彦 リバーエレテック株式会社
事務局 川 崎 明 彦 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 6421:1994の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 6421:1994の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5320:1994
- 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則
- JISC5321:1997
- 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
- JISC5602:1986
- 電子機器用受動部品用語
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)